背透检测方法和背透检测设备技术

本发明专利技术涉及背透检测方法和背透检测设备。该方法包括：获取对齐的正面图像和反面图像，从而获得由第一点和对应的第二点构成的像素对；确定正面图像和反面图像中的部分前景像素和部分背景像素；基于确定结果，针对以下像素对基于预定特征建模以形成四个模型：第一点和第二点是前景像素、第一点和第二点是背景像素、第一点是前景像素且第二点是背景像素、第一点是背景像素且第二点是前景像素；针对未建模的像素对，根据其预定特征，计算其与四个模型的相似度，以确定其类型；将与确定为前景像素的第一点对应的、确定为背景像素的第二点判定为反面图像上的背透，将与确定为前景像素的第二点对应的、确定为背景像素的第一点判定为正面图像上的背透。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般地涉及图像处理领域。具体而言，本专利技术涉及一种检测由正面图像和反面图像构成的双面图像对中的背透像素的位置的方法和设备。
技术介绍
在具有正反面的双面文档中，由于文档存在背透现象，所以能够从一面看到另一面的部分或全部文字等。这种背透现象会影响文档的可读性和对文档进行的自动字符识另IJ。因此，需要对其中的背透像素进行处理，以提高文档的可读性或提高自动字符识别的正确率。对背透像素进行处理的前提是检测到背透像素的准确位置，即判断出哪些像素是背透像素。传统的方法主要是选取适当的阈值，通过将像素的像素值与阈值作比较，来区分文字和背透。这种方法显然比较粗糙。因为以文字为代表的前景像素和严重背透情况下的背透像素之间的差别较小，而背景像素和轻微背透情况下的背透像素之间的差别也不明显。因此，传统的方法的处理效果不佳。期望一种能够以较高准确率检测由正面图像和反面图像构成的双面图像对中的背透像素的位置的背透检测方法和背透检测设备。
技术实现思路
在下文中给出了关于本专利技术的简要概述，以便提供关于本专利技术的某些方面的基本理解。应当理解，这个概述并不是关于本专利技术的穷举性概述。它并不是意图确定本专利技术的关键或重要部分，也不是意图限定本专利技术的范围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念，以此作为稍后论述的更详细描述的前序。本专利技术的目的是针对现有技术的上述问题，提出了一种能够准确检测背透像素位置的背透检测方法和背透检测设备。为了实现上述目的，根据本专利技术的一个方面，提供了一种背透检测方法，该背透检测方法包括:获取已对齐的双面图像对中的正面图像和反面图像，其中针对所述正面图像中的每一个第一点已知在所述反面图像中与其对应的第二点，从而获得由所述第一点和对应的所述第二点构成的像素对；确定所述正面图像和所述反面图像中的部分前景像素和部分背景像素；基于上述确定结果，针对以下四种类型的像素对基于预定特征进行建模，以形成四个模型:第一点和第二点都是如景像素、第一点和第二点都是背景像素、第一点是如景像素且第二点是背景像素、第一点是背景像素且第二点是前景像素；针对未被建模的像素对，根据该像素对的预定特征，分别计算该像素对与所述四个模型的相似度，以确定该像素对的类型；将与被确定为前景像素的第一点对应的、被确定为背景像素的第二点判定为所述反面图像上的背透，将与被确定为前景像素的第二点对应的、被确定为背景像素的第一点判定为所述正面图像上的背透。根据本专利技术的另一个方面，提供了一种背透检测设备，该背透检测设备包括:获取装置，被配置为:获取已对齐的双面图像对中的正面图像和反面图像，其中针对所述正面图像中的每一个第一点已知在所述反面图像中与其对应的第二点，从而获得由所述第一点和对应的所述第二点构成的像素对；部分像素确定装置，被配置为:确定所述正面图像和所述反面图像中的部分前景像素和部分背景像素；建模装置，被配置为:基于所述部分像素确定装置的确定结果，针对以下四种类型的像素对基于预定特征进行建模，以形成四个模型:第一点和第二点都是如景像素、第一点和第二点都是背景像素、第一点是如景像素且第二点是背景像素、第一点是背景像素且第二点是前景像素；类型确定装置，被配置为:针对未被建模的像素对，根据该像素对的预定特征，分别计算该像素对与所述四个模型的相似度，以确定该像素对的类型；判定装置，被配置为:将与被确定为前景像素的第一点对应的、被确定为背景像素的第二点判定为所述反面图像上的背透，将与被确定为前景像素的第二点对应的、被确定为背景像素的第一点判定为所述正面图像上的背透。另外，根据本专利技术的另一方面，还提供了一种存储介质。所述存储介质包括机器可读的程序代码，当在信息处理设备上执行所述程序代码时，所述程序代码使得所述信息处理设备执行根据本专利技术的上述方法。此外，根据本专利技术的再一方面，还提供了一种程序产品。所述程序产品包括机器可执行的指令，当在信息处理设备上执行所述指令时，所述指令使得所述信息处理设备执行根据本专利技术的上述方法。【附图说明】参照下面结合附图对本专利技术实施例的说明，会更加容易地理解本专利技术的以上和其它目的、特点和优点。附图中的部件只是为了示出本专利技术的原理。在附图中，相同的或类似的技术特征或部件将采用相同或类似的附图标记来表示。附图中:图1示出了根据本专利技术的第一实施例的背透检测方法的流程图；图2示出了根据本专利技术的第二实施例的背透检测方法的流程图；图3示出了根据本专利技术第一实施例的背透检测设备的结构方框图；图4示出了根据本专利技术第二实施例的背透检测设备的结构方框图；以及图5示出了可用于实施根据本专利技术实施例的方法和设备的计算机的示意性框图。【具体实施方式】在下文中将结合附图对本专利技术的示范性实施例进行详细描述。为了清楚和简明起见，在说明书中并未描述实际实施方式的所有特征。然而，应该了解，在开发任何这种实际实施方式的过程中必须做出很多特定于实施方式的决定，以便实现开发人员的具体目标，例如，符合与系统及业务相关的那些限制条件，并且这些限制条件可能会随着实施方式的不同而有所改变。此外，还应该了解，虽然开发工作有可能是非常复杂和费时的，但对得益于本公开内容的本领域技术人员来说，这种开发工作仅仅是例行的任务。在此，还需要说明的一点是，为了避免因不必要的细节而模糊了本专利技术，在附图中仅仅示出了与根据本专利技术的方案密切相关的装置结构和/或处理步骤，而省略了与本专利技术关系不大的其他细节。另外，还需要指出的是，在本专利技术的一个附图或一种实施方式中描述的元素和特征可以与一个或更多个其它附图或实施方式中示出的元素和特征相结合。本专利技术的基本思想是先确定那些肯定正确的前景像素和背景像素，根据这些前景像素和背景像素建模，利用所构建的模型判断余下的像素的类型。在此过程中，可利用背透像素的特点，并可通过优选处理对象来减少计算量和提高处理速度。下面将参照图1描述根据本专利技术的第一实施例的背透检测方法的流程。图1示出了根据本专利技术的第一实施例的背透检测方法的流程图。如图1所示，根据本专利技术的第一实施例的背透检测方法，包括如下步骤:获取已对齐的正面图像和反面图像，其中针对所述正面图像中的每一个第一点已知在所述反面图像中与其对应的第二点，从而获得由所述第一点和对应的所述第二点构成的像素对(步骤Si);确定所述正面图像和所述反面图像中的部分前景像素和部分背景像素(步骤S2);基于步骤S2中的确定结果，针对以下四种类型的像素对基于预定特征进行建模，以形成四个模型:第一点和第二点都是前景像素、第一点和第二点都是背景像素、第一点是前景像素且第二点是背景像素、第一点是背景像素且第二点是前景像素(步骤S3);针对未被建模的像素对，根据该像素对的预定特征，分别计算该像素对与所述四个模型的相似度，以确定该像素对的类型(步骤S4);将与被确定为前景像素的第一点对应的、被确定为背景像素的第二点判定为所述反面图像上的背透，将与被确定为前景像素的第二点对应的、被确定为背景像素的第一点判定为所述正面图像上的背透(步骤S5)。在步骤SI中，获取已对齐的正面图像和反面图像，其中针对所述正面图像中的每一个第一点已知在所述反面图像中与其对应的第二点，从而获得由所述第一点和对应的所述第二点构成的像素对。如上所述，本专利技术要处理的对象是具有正反面的双面文档。因此本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种背透检测方法，该背透检测方法包括：获取已对齐的双面图像对中的正面图像和反面图像，其中针对所述正面图像中的每一个第一点已知在所述反面图像中与其对应的第二点，从而获得由所述第一点和对应的所述第二点构成的像素对；确定所述正面图像和所述反面图像中的部分前景像素和部分背景像素；基于上述确定结果，针对以下四种类型的像素对基于预定特征进行建模，以形成四个模型：第一点和第二点都是前景像素、第一点和第二点都是背景像素、第一点是前景像素且第二点是背景像素、第一点是背景像素且第二点是前景像素；针对未被建模的像素对，根据该像素对的预定特征，分别计算该像素对与所述四个模型的相似度，以确定该像素对的类型；将与被确定为前景像素的第一点对应的、被确定为背景像素的第二点判定为所述反面图像上的背透，将与被确定为前景像素的第二点对应的、被确定为背景像素的第一点判定为所述正面图像上的背透。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曹琼，刘汝杰，
申请(专利权)人：富士通株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP