【技术实现步骤摘要】
【专利说明】相关申请的交叉引用本申请要求于2013年12月30日提交到韩国知识产权局的韩国专利申请第10-2013-0167817号的优先权和权益,其全部内容并入本文以供参考。
本专利技术涉及。更具体地,本专利技术提供用于接合半导体装置的银浆接合方法。
技术介绍
根据应用设备的尺寸和容量近来变大的趋势,对具有高击穿电压、高电流和高速开关特性的电力用半导体装置的需求持续增加。在半导体装置当中,碳化硅(SiC)半导体装置可具有优点。例如,由于碳化硅半导体装置比常规的硅(Si)半导体装置具有更宽的带隙,因此可在升高的温度更稳定地实施半导体特性。然而,在升高的温度可能额外地需要稳定地应用包装材料,以获得相当高温的操作效果。特别地,由于用于接合半导体装置的常规焊料具有小于约230°C的熔融温度,所以焊料无法在可应用和操作碳化硅半导体装置的约250°C或更高的接合温度使用。近来,已提出包括金(Au)等的高温焊料作为替代物以代替常规焊料,但已经报道高温焊料更昂贵并具有降低的特性例如接合强度。上述在该
技术介绍
部分公开的信息仅用于增强对本专利技术背景的理解,因此其可能含有不 ...
【技术保护点】
一种接合银浆的方法,包括:制备包括多个银粉末和多个铅粉末的银浆;加热所述银浆;以及接合所述银粉末。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:洪坰国,郑永均,李钟锡,千大焕,姜修槟,
申请(专利权)人:现代自动车株式会社,
类型:发明
国别省市:韩国;KR
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