测试维修系统及其方法技术方案

技术编号:11555624 阅读:57 留言:0更新日期:2015-06-04 04:27
本发明专利技术揭露一种测试维修系统,包括一数据量测单元、一数据传输单元及一计算机装置,其中计算机装置包括一储存单元,用以储存至少一预设数据及至少一量测位置数据。数据量测单元可依据量测位置数据,连接一待测卡的至少一讯号量测位置,并撷取至少一量测数据,而计算机装置则比对预设数据及量测数据,并产生一检测结果。操作人员可依据检测结果更换待测卡上的料件,藉此将有利于提高维修待测卡的效率。

【技术实现步骤摘要】
测试维修系统及其方法
本专利技术是关于一测试维修系统平台,特别是一种应用在待测卡维修的测试维修系统。
技术介绍
信息产业蓬勃发展,所推出的产品日新月异,因而造成产品价格的竞争已经趋缓。也由于消费者意识抬头,网络信息传递迅速,因此售后服务的效率及水平俨然成为影响信息品牌生存的重要依据。为提高服务水平,可以投入更多的辅助设备等。例如实施维修流程的分析和规划,有计划地改善维修作业,以增加维修效率及质量,并增进客户满意度达成企业获利。功能卡(如显示卡、网络卡、磁盘阵列卡或其它特殊用途功能卡)在目前多媒体时代的使用率尤其广泛及重要。愈高效能的功能卡,其设计结构越复杂。也由于使用环境及习惯的不同,常常产生许多使用上的问题甚至发生故障。而当功能卡发生故障,需要进行维修时,最困难的地方在于找出损坏的料件。按照传统的维修流程,维修员需要了解此功能卡的线路设计,明白各料件的特性,才具备基本维修能力,且维修所需的时间和成功机率,受限于维修员的技术能力和经验,造成维修员门坎和成本的提高。然而,实际上每张同样功效的功能卡(如显示卡)其维修料件和方式都是有共通之处,因此若能如上所述,实施功能卡维修流程的分析和规划,有计划地改善维修作业,例如,通过一套系统将维修过的经验进行汇整和学习,以提供日后的维修协助。如此,不仅能够增加功能卡的维修效率及质量,亦可降低人力成本,使即使不具备维修技术的人也能通过系统完成维修。
技术实现思路
于公知技术的功能卡维修测试流程中,所需要的维修员能力门槛和人力成本高。基于上述问题,本专利技术的一目的在于提供一种测试维修系统及其方法,用户可以根据于一计算机装置所提供的量测位置信息以从一待测卡找到相对应的讯号量测位置,对于待测卡的讯号量测位置进行量测以撷取出一量测数据,之后,将撷取出的量测数据和计算机装置所储存的一预设数据进行比对以产生一检测结果,用户再根据检测结果以决定是否更换待测卡的讯号量测位置上的料件,在此,通过计算机装置的指示进行待测卡的检测及维修,将可以提高待测卡检测、维修的效率及正确性。本专利技术的又一目的在于提供一种测试维修系统及其方法,其计算机装置进一步提供相关维修信息,分析先前待测卡可能损坏的原因及料件,以令用户可以参考先前的维修经验进行后续其它待测卡的检测及维修动作。为了达到上述目的,本专利技术提供一种测试维修系统,包括:一数据量测单元,连接一待测卡的至少一讯号量测位置,并由待测卡的讯号量测位置撷取至少一量测数据;一数据传输单元,连接数据量测单元;及一计算机装置,连接数据传输单元,并包括一储存单元,储存至少一预设数据及至少一量测位置信息,其中量测位置信息包括待测卡的讯号量测位置,而计算机装置则通过数据传输单元由数据量测单元取得量测数据,并比对量测数据及相对应的预设数据,以产生一检测结果。本专利技术又提供一种测试维修方法,包括以下步骤:依据一待测卡的型号,提供待测卡的至少一量测位置信息;依据量测位置信息,对待测卡的至少一讯号量测位置进行量测,并撷取至少一量测数据;及比对量测数据及至少一预设数据,并产生一检测结果。附图说明图1为本专利技术第一实施例的测试维修系统的连接示意图。图2为本专利技术第二实施例的测试维修方法的步骤流程图。图3为本专利技术第三实施例的测试维修方法的步骤流程图。图4及图5为本专利技术第四实施例的测试维修方法的步骤流程图。主要组件符号说明:10测试维修系统11计算机装置111存储单元121量测位置信息123预设数据13数据传输单元14量测数据15数据传输单元127待测卡171料件172讯号量测位置173料件174讯号量测位置175料件176讯号量测位置212测试讯号供给单元具体实施方式请参阅图1所示,为本专利技术的第一实施例的测试维修系统的连接示意图。如图所示,本专利技术第一实施例的测试维修系统10包括一计算机装置11、一数据传输单元13及一数据量测单元15。其中计算机装置11通过数据传输单元13连接数据量测单元15,并通过数据量测单元15及数据传输单元13从待测卡17撷取至少一量测数据14。数据传输单元13可为但不限于一通用序列总线线。量测数据14亦可为电压值或波形图。再者,待测卡17亦可为一显示卡、一网络卡、一磁盘阵列卡或一特殊用途的功能卡。一般而言,待测卡17上的电路相当的复杂,并可能包括有多个料件171/173/175及多个讯号量测位置172/174/176。在本专利技术实施例中,用户可依据测试维修系统10的指示检测及维修损坏的待测卡17。在本专利技术一实施例中,计算机装置11包括一储存单元111,用以储存至少一量测位置信息121及至少一预设数据123,例如计算机装置11可为但不限于一个人计算机或一服务器。在实际应用时用户可将待测卡17的型号数据输入计算机装置11,计算机装置11将依据输入的型号数据由储存单元111中找出相对应的量测位置信息121及预设数据123。其中量测位置信息121包括待测卡17的型号及所述型号的待测卡17的讯号量测位置172/174/176,而预设数据123则包括相对应于各个讯号量测位置172/174/176的预定数值。数据量测单元15可为但不限于一接口示波器。数据量测单元15通过数据传输单元13电性连接计算机装置11,用户可根据计算机装置11所提供的量测位置信息121,在待测卡17上找到其相对应的讯号量测位置172/174/176。将数据量测单元15连接待测卡17上的讯号量测位置172/174/176,并由所述讯号量测位置172/174/176撷取出量测数据14。在本专利技术一实施例中,待测卡17可设置在一测试讯号供给单元19上,例如测试讯号供给单元19可为但不限于一印刷电路板,测试讯号供给单元19可提供待测卡17所需的测试讯号,例如所提供的测试讯号可为但不限于电压或是电流,以驱动待测卡17运作。计算机装置11和数据传输单元13电性连接,并可通过数据传输单元13取得数据量测单元15从待测卡17上所撷取出的量测数据14。计算机装置11的储存单元111所储存的预设数据123可为待测卡17的预定数值,计算机装置11可比对待测卡17的量测数据14和相对应的预设数据123,并产生一检测结果,用户可依据检测结果而得知待测卡17上料件171/173/175是否正常,并因此得知是否需要替换待测卡17上料件171/173/175。例如可将量测数据14传送至储存单元111内,并比对量测数据14和预设数据123。待测卡17包括多个料件171/173/175及多个讯号量测位置172/174/176,例如第一料件171、第二料件173、第三料件175、第一讯号量测位置172、第二讯号量测位置174及第三讯号量测位置176,其中第一讯号量测位置172相对应于第一料件171,第二讯号量测位置174相对应于第二料件173,而第三讯号量测位置176则相对应于第三料件175。在实际应用时,用户可依据计算机装置11所提供的量测位置信息121的指示,将数据量测单元15连接第一讯号量测位置172,并取得待测卡17的第一讯号量测位置172的量测数据14,例如量测数据14可为第一检测电压。计算机装置11可于储存单元111中,找出和待测卡14的第一讯号量测位置172及/或第一料件171相对应的预设数据123,例如预设数据123可为第一本文档来自技高网...
测试维修系统及其方法

【技术保护点】
一种测试维修系统,其特征在于,包括:一数据量测单元,连接一待测卡的至少一讯号量测位置,并由所述待测卡的讯号量测位置撷取至少一量测数据;一数据传输单元,连接所述数据量测单元;及一计算机装置,连接所述数据传输单元,并包括一储存单元,储存至少一预设数据及至少一量测位置信息,其中所述量测位置信息包括所述待测卡的所述讯号量测位置,而所述计算机装置则通过所述数据传输单元由所述数据量测单元取得所述量测资料,并比对所述量测数据及相对应的所述预设数据,以产生一检测结果。

【技术特征摘要】
1.一种测试维修方法,其特征在于,包括以下步骤:依据一待测卡的型号,提供所述待测卡的至少一量测位置信息;依据所述量测位置信息,对所述待测卡的至少一讯号量测位置进行量测,并撷取至少一量测数据;及比对所述量测数据及至少一预设数据,并产生一检测结果,若所述检测结果为所述待测卡未能正常运作,且没有其他未经过量测的所述量测位置信息时,则提供所述待测卡的一维修信息,所述维修信息由先前的维修记录提供,所述维修记录包含先前已量测的所述待测卡的所述讯号量测位置及相对应的所...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄顺治吕景豫李延震
申请(专利权)人:技嘉科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾;71

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