用于一体化电源巡检装置的漏电检测电路制造方法及图纸

技术编号:11479068 阅读:113 留言:0更新日期:2015-05-20 10:03
本发明专利技术公开了一种用于一体化电源巡检装置的漏电检测电路,包括运算放大器、单片集成芯片、电池、第一电阻至第五电阻、第一发光二极管至第三发光二极管、第一电容至第三电容、第一二极管至第四二极管、第一电位器、第二电位器、电感、探头和开关。本发明专利技术与现有技术相比,具有电路结构简单、采用电子元件少、成本低廉和测试结果准确的优点,且本发明专利技术无需与被测设备接触即可测量,使用方便,有利于普及和推广。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于一体化电源巡检装置的漏电检测电路,其特征在于:包括运算放大器、单片集成芯片、电池、第一电阻至第五电阻、第一发光二极管至第三发光二极管、第一电容至第三电容、第一二极管至第四二极管、第一电位器、第二电位器、电感、探头和开关,所述电池的负极同时与所述第五电阻的第一端、所述第四电阻的第一端、所述单片集成芯片的第八引脚、所述单片集成芯片的第四引脚、所述单片集成芯片的第五引脚、所述第三电容的第一端、所述第三电阻的第一端、所述第二电容的第一端、所述运算放大器的第四引脚、所述第一电阻的第一端、所述第二二极管的正极和所述第三二极管的负极连接,所述电池的正极与所述开关的第一端连接,所述开关的第二端同时与所述第一发光二极管的正极、所述第二发光二极管的正极、所述第三发光二极管的正极、所述单片集成芯片的第三引脚、所述第三电容的第二端、所述运算放大器的第七引脚和所述第一电位器的第一端连接,所述第一发光二极管的负极与所述单片集成芯片的第十七引脚连接,所述第二发光二极管的负极与所述单片集成芯片的第十六引脚连接,所述第三发光二极管的负极与所述单片集成芯片的第十五引脚连接,所述单片集成芯片的第六引脚同时与所述单片集成芯片的第七引脚、所述第四电阻的第二端和所述第五电阻的第二端连接,所述单片集成芯片的第二引脚与所述第二电位器的滑动端连接,所述第二电位器的第一端与所述第三电阻的第二端连接,所述第二电位器的第二端同时与所述运算放大器的第六引脚、所述第二电阻的第一端和所述第二电容的第二端连接,所述第二电阻的第二端同时与所述运算放大器的第二引脚和所述第一电位器的滑动端连接,所述第一电位器的第二端与所述第一电阻的第二端连接,所述运算放大器的第三引脚同时与所述第一二极管的负极和所述第四二极管的负极连接,所述第一二极管的正极同时与所述第二二极管的负极、所述电感的第一端和所述第一电容的第一端连接,所述第四二极管的正极同时与所述第三二极管的正极、所述电感的第二端、所述第一电容的第二端和所述探头连接。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:靖新宇
申请(专利权)人:成都昊地科技有限责任公司
类型:发明
国别省市:四川;51

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