一种减少LED自动测试机混档率的方法技术

本发明专利技术公开了一种减少LED自动测试机混档率的方法，设置N-M(VF1-VF2)测试计算项目，通过限制N-M值的范围，把测试接触不良的产品剔除，既保证了产品的分档质量，保证测试分档的一致性，使由于正向电压的不一致存在光不平衡的问题得到解决；而且通过N-M(VF1-VF2)测试计算项目的不良比率量，实现实时监控测试探针的工作状态，以确定测试探针是否需要调整、清洗或打磨，定量性设置相应的参数值，以确定测试探针调整、清洗、打磨的周期，大大地降低了的生产成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及LED自动筛选的控制领域，尤其涉及的是一种减少LED自动测试机混档率的方法。
技术介绍
全自动测试机包括测试仪和分选机，分选机包括送料装置、测试站、分选装置，送料装置把LED输送至测试站固定，通过测试仪对LED进行测试得到测试数据，分选装置按照测试数据把LED分档。但是，在测试的过程中，经常会由于测试站探针的原因引起正向电压VF的测试值不稳定而造成LED的混档，导致LED自动测试机的分档质量不稳定。而造成正向电压VF测试值不稳定的主要原因如下：1.由于被测试产品的胶水、灰尘等粘污测试探针，造成导电不良引起正向电压VF测试值不稳定；2.测试探针的磨损，出现斜面、凹凸不平，造成接触不良。而针对上述测试探针的原因引起正向电压VF测试值不稳定的问题，现有的解决方法是：1.测试一定数量的产品后，用酒精清冼测试探针；2.对测试探针进行打磨。但是，不同的测试机安装不同的测试探针，测试探针经过清洗、打磨、调整后重新测试产品，测试机的回档率都相差不大，都能达到99％以上；但经过一定时间的测试后，测试机的回档率就各不相同，即回档率下降的速率不一样，测试探针的性能和测试机的机台稳定性较好的，回档率下降的速率就慢，反之，回档率下降的速率就快：例如，有的测试机测试8万件产品后，回档率已下降到90％左右，也就是有10％的产品出现混档，但有的测试机测试300万件产品后，其回档率仍在98％以上，只有2％以内的产品出现混档；这样，对不同的机台、不同的测试探针，测试探针的调整、清洗、打磨周期是完全不同；如果所有测试机的测试探针都以测试8万件产品后为调整周期，则会大大提高其工作量，导致生产成本的提高，造成极大的浪费；如果所有测试机的测试探针都以测试300万件产品后为调整、清洗、打磨周期，则不能保证测试机测试分档的一致性，存在光不平衡的问题，不能满足使用要求。因此，现有技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种减少LED自动测试机混档率的方法，旨在解决现有的LED测试机由于探针原因引起正向电压测试值不稳定而造成LED混档，以及探针调整、清洗、打磨周期不好确定的问题。本专利技术的技术方案如下：一种减少LED自动测试机混档率的方法，LED自动测试机包括测试仪、分选机和控制器，分选机包括送料装置、测试站和分选装置，送料装置包括振盘和道轨，测试站上设置有吸嘴和测试探针，测试探针外接测试仪的供电电源，所述送料装置、测试站、分选装置测试仪都与控制器连接；送料装置把被测LED输送至测试站被吸嘴固定，测试探针接触被测LED的电极，由测试仪电源为被测LED提供一测试电流，通过测试仪对LED进行电参数、光度和色度的测试得到测试数据，分选装置根据测试仪设置的组合把合格的、符合各组合要求的或不合格的被测LED进行分档；其中，方法具体包括以下步骤：步骤A00：调整好测试探针的高度和水平位置，设置好控制程序并进行校正，设定正向电压误差范围值为α，不良率上限值为β，并把α和β输入到控制器，控制器控制LED自动测试机自动运行；步骤B00：控制器控制测试探针分别两次接触被测LED进行两次测试，得到两个正向电压VF1和VF2；步骤C00：控制器判断VF1-VF2是否在误差范围α内，若-α≤VF1-VF2≤+α，执行步骤D00，若VF1-VF2>+α或VF1-VF2<-α，执行步骤E00；步骤D00：分选装置根据测试仪设置的组合把合格的、符合各组合要求的或不合格的被测LED进行分档，执行步骤F00；步骤E00：把与测试探针接触不良的被测LED剔除；步骤H00：控制器自动计算出被剔除的不良被测LED数量占全部被测LED数量的不良百分率，控制器判断不良百分率与不良率上限值为β的大小，若不良百分率≧β，执行步骤I00，若不良百分率<β，执行步骤J00；步骤I00：控制器控制发出测试探针需要调整、清洗或打磨处理的提示，执行步骤F00；步骤J00：控制器不发出测试探针需要进行调整清洗或打磨处理的提示；步骤F00：控制器判断全部被测LED是否已经分档完毕，否，执行步骤G00，是，执行步骤K00；步骤G00：执行步骤B00；步骤K00：结束测试。所述的减少LED自动测试机混档率的方法，其中，所述步骤I00具体包括步骤I10和步骤I20，步骤H00中控制器同时判断不良百分率的次数，对应执行步骤I10或步骤I20，具体步骤如下：步骤H00：控制器自动计算出被剔除的不良被测LED数量占全部被测LED数量的不良百分率，控制器判断不良百分率与不良率上限值为β的大小，并判断该不良百分率是第一次超过或第二次超过不良率上限值β，若该不良百分率≧β且为第一次超过不良率上限值β，执行步骤I10，若该不良百分率≧β且为第二次超过不良率上限值β，执行步骤I20，若不良百分率<β，执行步骤J00；步骤I10：控制器控制发出测试探针需要调整清洗的提示，执行步骤F00；步骤I20：控制器控制发出测试探针需要打磨处理的提示，执行步骤F00。所述的减少LED自动测试机混档率的方法，其中，当测试站设置N个时，方法具体包括以下步骤：步骤a00：调整好N个测试探针的高度和水平位置，设置好控制程序并进行校正，设定正向电压误差范围值为α，不良率上限值为β，并把α和β输入到控制器，控制器控制LED自动测试机自动运行；步骤b00：N个测试探针分别接触被测LED进行N次测试，得到N个正向电压VFn；步骤c00：控制器判断其中两个正向电压VFn-1-VFn是否在误差范围α内，若-α≤VFn-1-VFn≤+α，执行步骤d00，若VFn-1-VFn>+α或VFn-1-VFn<-α，执行步骤e00；步骤d00：分选装置根据测试仪设置的组合把合格的、符合各组合要求的或不合格的被测LED进行分档，执行步骤f00；步骤e00：把与测试探针接触不良的被测LED剔除；步骤h00：控制器自动计算出被剔除的不良被测LED数量占全部被测LED数量的不良百分率，控制器判断不良百分率与不良率上限值为β的大小，若不良百分率≧β，执行步骤i00，若不良百分率<β，执行步骤j00；步骤i00：控制器根据VFn-1-VFn的正负判断具体需要调整的测试探针的号数，并发出测试探针的号数和测试探针需要调整清洗或打磨处理的提示，执行步骤f00；...

【技术保护点】
一种减少LED自动测试机混档率的方法，LED自动测试机包括测试仪、分选机和控制器，分选机包括送料装置、测试站和分选装置，送料装置包括振盘和道轨，测试站上设置有吸嘴和测试探针，测试探针外接测试仪的供电电源，所述送料装置、测试站、分选装置测试仪都与控制器连接；送料装置把被测LED输送至测试站被吸嘴固定，测试探针接触被测LED的电极，由测试仪电源为被测LED提供一测试电流，通过测试仪对LED进行电参数、光度和色度的测试得到测试数据，分选装置根据测试仪设置的组合把合格的、符合各组合要求的或不合格的被测LED进行分档；其特征在于，方法具体包括以下步骤：步骤A00：调整好测试探针的高度和水平位置，设置好控制程序并进行校正，设定正向电压误差范围值为α，不良率上限值为β，并把α和β输入到控制器，控制器控制LED自动测试机自动运行；步骤B00：控制器控制测试探针分别两次接触被测LED进行两次测试，得到两个正向电压VF1和VF2；步骤C00：控制器判断VF1‑VF2是否在误差范围α内，若‑α≤VF1‑VF2≤+α，执行步骤D00，若VF1‑VF2>+α或VF1‑VF2<‑α，执行步骤E00；步骤D00：分选装置根据测试仪设置的组合把合格的、符合各组合要求的或不合格的被测LED进行分档，执行步骤F00；步骤E00：把与测试探针接触不良的被测LED剔除；步骤H00：控制器自动计算出被剔除的不良被测LED数量占全部被测LED数量的不良百分率，控制器判断不良百分率与不良率上限值为β的大小，若不良百分率≧β，执行步骤I00，若不良百分率<β，执行步骤J00；步骤I00：控制器控制发出测试探针需要调整、清洗或打磨处理的提示，执行步骤F00；步骤J00：控制器不发出测试探针需要进行调整清洗或打磨处理的提示；步骤F00：控制器判断全部被测LED是否已经分档完毕，否，执行步骤G00，是，执行步骤K00；步骤G00：执行步骤B00；步骤K00：结束测试。...

【技术特征摘要】
1.一种减少LED自动测试机混档率的方法，LED自动测试机包括测
试仪、分选机和控制器，分选机包括送料装置、测试站和分选装置，送料
装置包括振盘和道轨，测试站上设置有吸嘴和测试探针，测试探针外接测
试仪的供电电源，所述送料装置、测试站、分选装置测试仪都与控制器连
接；送料装置把被测LED输送至测试站被吸嘴固定，测试探针接触被测LED
的电极，由测试仪电源为被测LED提供一测试电流，通过测试仪对LED
进行电参数、光度和色度的测试得到测试数据，分选装置根据测试仪设置
的组合把合格的、符合各组合要求的或不合格的被测LED进行分档；
其特征在于，方法具体包括以下步骤：
步骤A00：调整好测试探针的高度和水平位置，设置好控制程序并进
行校正，设定正向电压误差范围值为α，不良率上限值为β，并把α和β输
入到控制器，控制器控制LED自动测试机自动运行；
步骤B00：控制器控制测试探针分别两次接触被测LED进行两次测试，
得到两个正向电压VF1和VF2；
步骤C00：控制器判断VF1-VF2是否在误差范围α内，若-α≤VF1-VF2≤+α，
执行步骤D00，若VF1-VF2>+α或VF1-VF2<-α，执行步骤E00；
步骤D00：分选装置根据测试仪设置的组合把合格的、符合各组合要
求的或不合格的被测LED进行分档，执行步骤F00；
步骤E00：把与测试探针接触不良的被测LED剔除；
步骤H00：控制器自动计算出被剔除的不良被测LED数量占全部被测
LED数量的不良百分率，控制器判断不良百分率与不良率上限值为β的大
小，若不良百分率≧β，执行步骤I00，若不良百分率<β，执行步骤J00；
步骤I00：控制器控制发出测试探针需要调整、清洗或打磨处理的提示，
执行步骤F00；
步骤J00：控制器不发出测试探针需要进行调整清洗或打磨处理的提

\t示；
步骤F00：控制器判断全部被测LED是否已经分档完毕，否，执行步
骤G00，是，执行步骤K00；
步骤G00：执行步骤B00；
步骤K00：结束测试。
2.根据权利要求1所述的减少LED自动测试机混档率的方法，其特
征在于，所述步骤I00具体包括步骤I10和步骤I20，步骤H00中控制器同
时判断不良百分率的次数，对应执行步骤I10或步骤I20，具体步骤如下：
步骤H00：控制器自动计算出被剔除的不良被测LED数量占全部被测
LED数量的不良百分率，控制器判断不良百分率与不良率上限值为β的大
小，并判断该不良百分率是第一次超过或第二次超过不良率上限值β，若该
不良百分率≧β且为第一次超过不良率上限值β，执行步骤I10，若该不良
百分率≧β且为第二次超过不良率上限值β，执行步骤I20，若不良百分率
<β，执行步骤J00；
步骤I10：控制器控制发出测试探针需要调整清洗的提示，执行步骤
F00；
步骤I20：控制器控制发出测试探针需要打磨处理的提示，执行步骤
F00。
3.根据权利要求2所述的减少LED自动测试机混档率的方法，其特
征在于，当测试站设置N个时，方法具体包括以下步骤：
步骤a00：调整好N个测试探针的高度和水平位置，设置好控制程序
并进行校正，设定正向电压误差范围值为α，不良率上限值为β，并把α和
β输入到控制器，控制器控制LED自动测试机自动运行；
步骤b00：N个测试探针分别接触被测LED进行N次测试，得到N个
正向电压VFn；
步骤c00：控制器判断其中两个正向电压VFn-1-VFn是否在误差范围α内，
若-α≤VFn-1-VFn≤+α，执行步骤d00，若VFn-1-VFn>+α或VFn-1-VFn<-α，执行步骤
e00；
步骤d00：分选装置根据测试仪设置的组合把合格的、符合各组合要
求的或不合格的被测LED进行分档，执行步骤f00；
步骤e00：把与测试探针接触不良的被测LED剔除；
步骤h00：控制器自动计算出被剔除的不良被测LED数量占全部被测
LED数量的不良百分率，控制器判断不良百分率与不良率上限值为β的大
小，若不良百分率≧β，执行步骤i00，若不良百分率<β，执行步骤j00；
步骤i00：控制器根据VFn-1-VFn的正负判断具体需要调整的测试探针的
号数，并发出测试探针的号数和测试探针需要调整清洗或打磨处理的提示，
执行步骤f00；
步骤j00：控制器不发出测试探针需要进行调整清洗或打磨处理的提
示；
步骤f00：控制器判断全部被测LED是否已经分档完毕，否，执行步
骤g00，是，执行步骤k00；
步骤g00：执行步骤b00；
步骤k00：结束测试。
4.根据权利要求3所述的减少LED自动测试机混档率的方法，其特
征在于，所述步骤i00中，判断需要调整的测试探针号数的具体步骤为：
当-α≤VFn-1-VFn≤+α时，说明所有测试探针都正常没有粘污、没有损伤，N个
测试探针测试VFn时都接触良好，其正向电压的误差值小，即VFn-1-VFn的值比
较小，N-M项目的不良率低，所有测试探针都不需要清洗、打磨处理，可正
常测试；当VFn-1-VFn<-α时，说明其中一个测试探针有粘污、损伤，第N-1
个测试探针测试VFn-1时接触良好，第N个测试探针测试VFn时接触不良，

\tVFn-1-VFn＜...

【专利技术属性】
技术研发人员：单忠频，陈树钊，陈高洋，郭泽成，张邦锋，
申请(专利权)人：佛山市多谱光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44