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一种局部加厚地膜制造技术

技术编号:11414693 阅读:81 留言:0更新日期:2015-05-06 14:19
本发明专利技术公开了一种局部加厚地膜,包括厚度为0.008±0.003mm的地膜,所述地膜两侧边加厚至0.012mm,加厚部分宽幅为80mm-120mm。本发明专利技术在常规地膜覆盖方式的基础上,创造性的将地膜周边加厚,这样可增加使用时被土埋压处地膜的拉伸强度,便于地膜整体完整回收,降低地膜破碎残留在土壤中的概率,减小残留地膜对土壤的污染,解决残留地膜造成作物减产的问题。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种局部加厚地膜,包括厚度为0.008±0.003mm的地膜,其特征在于:所述地膜两侧边加厚至0.012mm,加厚部分宽幅为80mm-120mm。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨林
申请(专利权)人:杨林
类型:发明
国别省市:贵州;52

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