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一种开关间隙测试仪制造技术

技术编号:11410903 阅读:71 留言:0更新日期:2015-05-06 10:24
一种开关间隙测试仪,包括支撑底座,支撑底座上设有检测机构,所述检测机构包括直线电机及其驱动的滑移支撑座,滑移支撑座上安装有编码器,编码器的下方连接测量探头。所述滑移支撑座与编码器之间设有用于调整编码器及测量探头位置的上下调整机构。本发明专利技术的结构简单,操作方便,且由于其结构设计合理,测得结果准确度高,能够适用于不同型号的精密开关的间隙测量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种开关间隙测试仪,其特征在于:包括支撑底座(1),支撑底座上设有检测机构(2),所述检测机构包括直线电机(3)及其驱动的滑移支撑座(4),滑移支撑座(4)上安装有编码器(5),编码器(5)的下方连接测量探头(6)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:黄灿超郭世杰
申请(专利权)人:三峡大学
类型:发明
国别省市:湖北;42

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