一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点位置识别方法技术

本发明专利技术公开一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点位置识别方法，包括在紧缩场暗室内建立三维直角坐标系；在所述三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据所述紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以所述紧缩场馈源所在位置T为圆心，以紧缩场馈源发射波经紧缩场反射面反射至处于测试区的待测目标所在位置A的发射波传播路径为半径，在所述紧缩场暗室中构建一个圆球面；所述同步散射点位于所述圆球面与所述紧缩场暗室各面及其内部各物体的交汇处。通过本发明专利技术方法可快速找到紧缩场内与待测目标散射信号同时到达紧缩场馈源的有干扰作用的同步散射点位置。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点位置识别方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：在紧缩场暗室内建立三维直角坐标系；在所述三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置T；根据所述紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以所述紧缩场馈源所在位置T为圆心，以紧缩场馈源发射波经紧缩场反射面反射至处于测试区内待测目标所在位置A的发射波传播距离为半径，在所述紧缩场暗室中构建一个圆球面；所述圆球面与所述紧缩场暗室各面及其内部各物体的交汇处即为所述紧缩场雷达目标特性测量同步散射点位置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：马永光，李贵兰，袁岩兴，马蔚宇，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11