本实用新型专利技术涉及一种芯片编带复测装置，包括测试台和位于所述测试台上的输入部、传输部、测试部和收料部，所述输入部、测试部和收料部在所述测试台上依次设置，所述传输部贯穿所述测试部，对正在进行测试的芯片编带进行传输。本实用新型专利技术提供的芯片编带复测装置能够实现自动输入、传输、测试和收料，实现自动生产，减少人力投放，提高生产效率。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种编带测试装置，尤其涉及一种芯片编带的复测装置。
技术介绍
如果故障芯片已经安装到PCB上，可能会造成整个PCB维修甚至更换，这种更换的成本是相当大的，也会降低对客户的信誉。虽然前期为提高芯片制作质量做出了很大努力，也经过了多次测试，但由于库存、时间的影响，已编带芯片中仍可能存在不良品，这就需要出厂前对已编带芯片进行检测及筛选。如何在不损坏编带的情况下对芯片进行再检测并作出筛选是需要解决的现实问题。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于提供一种编带复测装置，以解决现有技术中存在的技术问题。本技术提供的芯片编带复测装置，包括测试台和位于所述测试台上的输入部、传输部、测试部和收料部，所述输入部、测试部和收料部在所述测试台上依次设置，所述传输部贯穿所述测试部，对正在进行测试的芯片编带进行传输。优选地，所述输入部包括引导结构和入料针轮，所述引导结构包括左右引导块，在所述左右引导块之间形成供所述编带通过的间隙，所述间隙的宽度与所述编带的厚度相当，所述入料针轮设置在所述引导结构的下游侧。优选地，所述入料针轮包括针轮本体和多个针头，所述针头位于所述针轮本体的外圆周上。优选地，在所述左右引导块之一的下侧形成有凹槽，所述凹槽面对所述测试台台面安装，所述入料针轮安装在设置有凹槽的引导块的一侧，使得入料针轮上靠近所述引导块的部分针头能够穿过所述凹槽。优选地，所述输入部还包括放料盒，所述放料盒位于靠近所述测试台的一端的位置，所述引导结构放置在所述放料盒的出口处。优选地，所述传输部包括传输带、带张紧轮和轨道台，所述轨道台上设置有轨道面，所述轨道面与所述传输带面对面设置，在所述轨道面和传输带之间形成供所述编带传输的通道。优选地，所述带张紧轮有多个，包括入口轮和出口轮，所述入口轮设置在靠近轨道面的入口端，所述出口轮设置在靠近轨道面的出口端。 优选地，还包括定位部，所述定位部包括传感器检测装置，所述传感器检测装置设置在所述入口轮的上游侧，对所述编带上的芯片进行定位和计数。优选地，所述测试部设置在所述入口轮和出口轮之间，并设置在所述轨道面的相对侧。优选地，所述测试部包括测试压机构和测试板卡固定机构。优选地，还包括切除部，所述切除部设置在所述入口轮和出口轮之间，并设置在所述测试部的下游侧，位于所述轨道面的相对侧。优选地，所述切除部包括自动切除机构，所述自动切除机构包括动力气缸、切除刀具和刀具导轨，所述切除刀具的刀刃面对所述编带设置，所述刀刃的高度位于所述编带上的芯片的下侧，在所述动力气缸的作用下，所述切除刀具可沿所述刀具导轨沿与所述编带垂直的方向移动。优选地，所述切除部还包括切除料盒，所述切除料盒设置在所述编带的另外一侧，与所述自动切除机构相对设置。优选地，所述切除料盒为形成在所述轨道台上的凹槽。优选地，所述收料部设置在所述出口轮的下游侧，并位于所述测试台的另外一端。优选地，所述收料部包括导料槽和收料盒，所述导料槽与所述传输所述编带的通道相对；所述收料盒位于所述测试台的侧面上，所述收料盒的下端低于所述测试台的表面。本技术提供的芯片编带复测装置，采用针轮上料，皮带传输，光电对射开关定位计数，重力下滑自动收料，自动检测及切除芯片，实现了自动生产，能够减少人力投放，提高生产效率。【附图说明】通过以下参照附图对本技术实施例的描述，本技术的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中:图1为本技术的编带复测装置的整体结构示意图；图2为本技术的编带复测装置主体结构放大示意图；图3为图2中的K向局部视图。【具体实施方式】以下将参照附图更详细地描述本技术的各种实施例。在各个附图中，相同的元件采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。说明:本申请中沿着芯片编带的传输方向，与芯片编带传输方向相同的前方为下游，与芯片编带传输方向相反的一侧为上游。如图1-2所示，本技术的编带复测装置包括测试台10和位于测试台10上的输入部1、传输部2、定位部3、测试部4、切除部5和收料部6，所述输入部1、定位部3、测试部4、切除部5和收料部6在测试台10上依次设置，所述传输部2贯穿所述测试部4和切除部5，对正在进行处理的编带9进行传输。所述输入部I包括放料盒11、引导结构12和入料针轮13，所述放料盒11位于靠近所述测试台10的一端的位置，所述引导结构12放置在所述放料盒11的出口处，对从所述放料盒11中输出的编带9进行引导。优选地，所述引导结构12包括左右引导块，在所述左右引导块之间形成供所述编带9通过的间隙122，所述间隙122的宽度与所述编带9的厚度相当。在左右引导块之一的下侧形成有凹槽123，所述凹槽123面对所述测试台10台面安装(参见图3)。如图3所示，所述入料针轮13包括针轮本体131和多个针头132，所述针头132位于针轮本体131的外圆周上。所述入料针轮13安装在设置有凹槽123的引导块的一侧，使得入料针轮13上靠近所述引导块的部分针头132能够穿过所述凹槽123，从而能够插入经过所述间隙122的编带9中的小孔91中，这样，编带9能够在所述入料针轮13的作用下自动向前送入。所述传输部2包括传输带21、带张紧轮22和轨道台23。所述带张紧轮22有多个，包括入口轮221和出口轮222。所述轨道台23上有轨道面231，所述轨道面231与所述传当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种芯片编带复测装置，其特征在于，包括测试台和位于所述测试台上的输入部、传输部、测试部和收料部，所述输入部、测试部和收料部在所述测试台上依次设置，所述传输部贯穿所述测试部，对正在进行测试的芯片编带进行传输。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：曾扬扬，
申请(专利权)人：杭州友旺电子有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33
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