本发明专利技术公开了一种功放元件的过流保护、电流检测控制方法及装置，用以减小从输出采样控制信号到功放元件出现过流时控制关闭功放元件之间的时延，从而能够在功放元件出现过流时，及时关闭功放元件，有效的保护了功放元件。所述功放元件的过流保护方法，包括：可擦除可编辑逻辑器件EPLD接收处理器发送的工作模式配置信息；当EPLD根据工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，EPLD发送采样控制信号至检测器，以指示检测器检测功放元件的电流值；EPLD接收到检测器发送的检测完成信号后，读取检测器检测到的电流值，并将所述电流值与预设阈值进行比较，当所述电流值大于所述预设阈值时，关闭所述功放元件。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及通信
，尤其涉及一种功放元件的过流保护、电流检测控制方 法及装置。
技术介绍
时分复用（Time Division，TD)系统工作过程中，为了降低功耗，在接收时隙下会 关闭功放元件，而在发射时隙下，需要对功放元件的工作状态进行监控，一旦功放元件出现 过流现象，需要及时关闭功放元件，以保证功放元件不受损坏。 目前，微控制单元（Micro Control Unit，MCU)采用德州仪器（TI)的AMC7812芯片 来获取射频拉远单元（Radio Remote Unit，RRU)板卡上的电流电压值，该AMC7812芯片包 含12位（bit)，16通道（SE)，500每秒千次采样（KSPS)的模数转换器（Analog-to-Digital Converter，ADC)和 12 个 12 位的数模转换器（Digital to Analog Converter，DAC)，通过 内部多路开关（Multiplexer，Mux)切换通道的方式采集各个通道的电流电压值，控制接口 为10接口，数据传输采用I2C接口。MCU获取RRU功放元件的电流也是通过AMC7812芯片 实现的。 现有技术中MCU获取功放元件的电流值的原理，如图1所示，MCU 102按照一 定的频率，连续的通过通用数据交换格式（Maplnfo, MIF)接口配置可擦除可编辑逻辑器 件（Erasable Programmable Logic Device，EPLD) 104 的寄存器 0x44，EPLD 中控制单元 CONTROL控制 10输出 CNTV信号给AMC7812 106,当 MCU 102 确定 AMC7812 106 输出 DAV信号 时，确定AMC7812 106完成一次电流检测，MCU 102通过EPLD 104的I2C通道获取AMC7812 106检测到的电流值，从而完成MCU102对功放元件电流值的读取，EPLD的I2C通道透传 AMC7812 106检测到的电流值。 从MCU获取功放元件的电流的过程可以看出，获取功放元件电流的功能比较简 单，MCU连续检测功放元件的电流值，也即MCU通过EPLD输出采样控制信号至AMC7812,当 AMC7812完成电流值的检测时获取功放元件的电流值（EPLD只是做透传），这种方式由MCU 控制EPLD的管脚产生延时，输出采样控制信号，从MCU控制EPLD输出采样控制信号到MCU 获取到功放元件的电流值之间存在较大的时延，而且，MCU获取功放元件的电流值之后，MCU 将功放元件的电流值与预设阈值进行比较，以在功放元件出现过流时，输出关闭功放元件 的信号控制关闭功放元件，由MCU中的软件实现功放元件的电流值与预设阈值比较，在功 放元件出现过流时，输出关闭功放元件的信号控制关闭功放元件，软件实现方法存在较大 的时延。 综上所述，现有技术中从输出采样控制信号到功放元件出现过流时控制关闭功放 元件之间存在较大的时延，功放元件出现过流时，无法及时关闭功放元件。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种功放元件的过流保护、电流检测控制方法及装置，用以 减小从输出采样控制信号到功放元件出现过流时控制关闭功放元件之间的时延，从而能够 在功放元件出现过流时，及时关闭功放元件，有效的保护了功放元件。 本专利技术实施例提供的一种功放元件的过流保护方法，包括：可擦除可编辑逻辑器 件EPLD接收处理器发送的工作模式配置信息；当所述EPLD根据所述工作模式配置信息确 定自身处于第一工作模式时，所述EPLD发送采样控制信号至检测器，以指示所述检测器检 测功放元件的电流值；所述EPLD接收到所述检测器发送的检测完成信号后，读取所述检测 器检测到的电流值，并将所述电流值与预设阈值进行比较，当所述电流值大于所述预设阈 值时，关闭所述功放元件。 本专利技术实施例提供的上述方法中，EPLD根据接收到的处理器发送的工作模式配置 信息，确定自身处于第一工作模式时，EPLD自动触发发送采样控制信号至检测器，检测并获 取功放元件的电流值，获取功放元件的电流值之后，由EPLD硬件实现功放元件的电流值与 预设阈值的比较，在功放元件的电流值大于预设阈值时控制关闭功放元件，与现有技术中 由MCU控制EPLD的管脚产生延时，输出采样控制信号，在获取功放元件的电流值之后，由 MCU中的软件将功放元件的电流值与预设阈值比较，在功放元件出现过流时，输出关闭功放 元件的信号控制关闭功放元件相比，EPLD自动触发发送采样控制信号并获取功放元件的电 流值，由于EPLD控制时序比处理器更加精确，因此，无需通过MCU产生的延时输出采样控 制信号，减小了从输出采样控制信号到获取到功放元件的电流值之间的时延，且由EPLD硬 件实现功放元件的电流值与预设阈值的比较，在功放元件的电流值大于预设阈值时控制关 闭功放元件，减小了功放元件的电流值与预设阈值比较的时延和输出关闭功放元件的信号 控制关闭功放元件的时延，从而减小了从输出采样控制信号到功放元件出现过流时控制关 闭功放之间的时延，能够在功放元件出现过流时，及时关闭功放元件，有效的保护了功放元 件，同时无需处理器控制EPLD输出采样控制信号，节省了处理器定时触发控制EPLD输出采 样控制信号的开销。 在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述方法中，所述EPLD发送采样 控制信号至检测器，具体为：所述EPLD接收到用于指示所述功放元件每个帧起始的中断信 号后，启动预设计时器，并在所述计时器的计时时间等于预设采样时间点的时间时，发送采 样控制信号至检测器。 在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述方法中，所述功放元件任一 时隙配置中的每个时隙存在至少一个所述预设采样时间点。 在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述方法中，所述EPLD将所述电 流值与预设阈值进行比较之前，该方法还包括：所述EPLD接收所述处理器发送的所述功放 元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时 隙的预设阈值；所述EPLD将所述电流值与预设阈值进行比较，包括：当所述EPLD根据所述 发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为发射时隙时，所述EPLD 将所述电流值与发射时隙的预设阈值进行比较；当所述EPLD根据所述发射时隙和接收时 隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为接收时隙时，所述EPLD将所述电流值与 接收时隙的预设阈值进行比较；其中，所述发射时隙的预设阈值与所述接收时隙的预设阈 值不同。 本专利技术实施例提供的上述方法中，由于功放元件发射时隙和接收时隙的电流不 同，将发射时隙的预设阈值和接收时隙的预设阈值设置为不同，在获取到预设采样时间点 的电流值之后，根据功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前 采样时间点属于发射时隙还是接收时隙，若属于发射时隙，则将获取到的电流值与发射时 隙的预设阈值进行比较；若属于接收时隙，则将获取到的电流值与接收时隙的预设阈值进 行比较，与采用同一预设阈值进行比较相比，针对发射时隙和接收时隙设置不同的预设阈 值，实现发射时隙和接收时隙的差别化过流保护，更加精确的保护功放元件。 在一种可能的实施方式中，本专利技术实本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种功放元件的过流保护方法，其特征在于，包括：可擦除可编辑逻辑器件EPLD接收处理器发送的工作模式配置信息；当所述EPLD根据所述工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，所述EPLD发送采样控制信号至检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值；所述EPLD接收到所述检测器发送的检测完成信号后，读取所述检测器检测到的电流值，并将所述电流值与预设阈值进行比较，当所述电流值大于所述预设阈值时，关闭所述功放元件。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：毛慧敏，陈宇翔，杨威，李鑫维，
申请(专利权)人：大唐移动通信设备有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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