一种元件特征识别方法与系统技术方案

本发明专利技术公开了一种元件特征识别方法，包括：获取一张待识别的元件图片；所述元件图片被标定为具有待识别的元件特征；从数据库中选取一种对所述元件特征的识别率最高的特征提取算法；所述数据库记载有多种不同的特征提取算法对所述元件特征的识别率；根据所述特征提取算法提取所述元件图片的算法特征值；根据所述算法特征值识别所述元件图片是否具有所述元件特征。同时，本发明专利技术还公开了一种元件特征识别系统。实施本发明专利技术可以自适应地选取对元件特征识别率最高的特征提取算法，提高每次识别的有效性与正确率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种元件特征识别方法，包括：获取一张待识别的元件图片；所述元件图片被标定为具有待识别的元件特征；从数据库中选取一种对所述元件特征的识别率最高的特征提取算法；所述数据库记载有多种不同的特征提取算法对所述元件特征的识别率；根据所述特征提取算法提取所述元件图片的算法特征值；根据所述算法特征值识别所述元件图片是否具有所述元件特征。同时，本专利技术还公开了一种元件特征识别系统。实施本专利技术可以自适应地选取对元件特征识别率最高的特征提取算法，提高每次识别的有效性与正确率。【专利说明】一种元件特征识别方法与系统
本专利技术涉及图像识别领域，尤其涉及一种元件特征识别方法与系统。
技术介绍
自动光学检查(AOI, Automated Optical Inspect1n)为工业自动化有效的检测方法，使用机器视觉作为检测标准技术，大量应用于IXD/TFT、晶体管与PCB工业制程上，在民生用途则可延伸至保全系统。自动光学检查是工业制程中常见的代表性手法，利用光学方式取得成品的表面状态，以影像处理来检出异物或图案异常等瑕疵，因为是非接触式检查，所以可在中间本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种元件特征识别方法，其特征在于，包括：获取一张待识别的元件图片；所述元件图片被标定为具有待识别的元件特征；从数据库中选取一种对所述元件特征的识别率最高的特征提取算法；所述数据库记载有多种不同的特征提取算法对所述元件特征的识别率；根据所述特征提取算法提取所述元件图片的算法特征值；根据所述算法特征值识别所述元件图片是否具有所述元件特征。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈振安，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44