一种LED光源高温长期光通维持率检测方法技术

本发明专利技术涉及一种LED光源高温长期光通维持率检测方法，包括待测件安装、环境温度调整、待测件老化、光通维持率测试。本发明专利技术将主动式散热结构转变为被动式散热结构，利用温度控制系统实时控制试验箱内部温度，排除了因现有主动散热结构停转而造成测试失败的可能性，提高了检测过程的可靠性；并且LED点亮所产生的热量能够被保留在试验箱内，温度控制系统在利用LED光源正常工作的热能基础上进行加热工作，除去了散热系统的运作成本，运行所需功率仅需现有方法的1/10～1/3，有效减少测试成本与耗能。

【技术实现步骤摘要】
一种LED光源高温长期光通维持率检测方法
本专利技术涉及一种LED光源寿命检测方法，特别是一种LED光源高温长期光通维持率检测方法。
技术介绍
LED由于具有体积小、耗电量低、坚固耐用、使用寿命长、安全低电压、低热量、环保等优点，正在冲击着传统照明市场，各个国家也都实施了大量的优惠政策进行大力的推广。然而LED灯具的实际使用寿命，一直是业界所关注的重中之重，也是LED在实际推广中的决定性所在；由于LED灯具种类繁多，加之寿命测试时间周期较长(测试时间至少为6000小时)，如果要对每个型号的LED灯具进行寿命的测试，其成本是相当高的。为此北美照明工程协会(IESNA)研究并发表了IESLM-80和IESTM-21两份标准，LM-80指出了一种LED光源光通维持率的验证方法(6000-10000小时)，而TM-21则是基于LM-80的测试数据对LED的更长期的寿命进行推算(3万小时乃至更长时间)。决定LED光衰的决定因素是LED芯片的结温，LM-80测试所用的三个Ts(外壳温度，LED封装光源接触点上的温度)温度点(55℃、85℃、第三个由制造商选择)，基本上可以涵盖LED的实际使用情况，只要LED在实际灯具中的实测Ts值，便可推算灯具的使用的光通维持率。但由于LED被点亮后，温度会急剧升高，从而造成表面和周围空气出现巨大温差，在灯具测试过程中LED环境设定温度需控制在(Ts-5)℃内，而LED的壳温变化控制在(Ts-2)℃，如何既能控制LED周围空气温度，又能控制Ts成为该测试中的技术难点。现有的测试温度控制多采用如专利公告号CN102590763B和CN203299341U所述的方法，即在试验箱内安装制冷器或散热风扇，将LED点亮所产生的热量随空气排出试验箱，再完全由温度控制系统提供热能使试验箱内部温度控制在测试所需范围内。由于老化测试时间长(通常在6000小时左右)，如果采取主动式散热结构，如制冷器或风扇散热，一旦散热结构在测试过程中停止运转，试验箱内温度将由于LED点亮所产生的热量无法排出，导致Ts急剧升高，烧坏LED光源使测试失败；又由于主动式散热结构需不停转散热，而LED点亮所产生的热量又未能被有效利用，传统试验箱每立方米的设备额度功率需15kw，整个测试过程成本与耗能巨大。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种检测过程更为稳定，且环保节能的LED光源高温长期光通维持率检测装置和方法。本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案是：一种LED光源高温长期光通维持率检测装置，其结构包括试验箱、供电控制器、LED温度测试仪、寿命测试仪和温度控制系统；所述试验箱内设有测试位，测试位上安装有散热板，所述LED温度测试仪与测试位连接，所述寿命测试仪通过供电控制器与试验箱连接，所述温度控制系统由设置在试验箱内的环境温度检测装置和加热装置组成；检测过程中，所述试验箱呈密闭状态。通过在检测过程中设置密闭试验箱，通过散热板将LED光源测试时所产生的能量辐射至试验箱内从而控制Ts温度，将主动式散热结构转变为被动式散热结构，利用温度控制系统实时控制试验箱内部温度，排除了因现有主动散热结构停转而造成测试失败的可能性，提高了检测装置的可靠性；并且LED点亮所产生的热量能够被保留在试验箱内，温度控制系统在利用LED光源正常工作的热能基础上进行加热工作，除去了散热系统的运作成本，本装置运行所需功率仅需现有设备的1/10～1/3，有效减少测试成本与耗能。作为优选，所述散热板上设有均温板。基于均温板的高导热系数能够将LED光源的热量由点迅速扩散成面，可以有效控制Ts温度，再由散热板将热量快速传递到空气中，使环境温度检测装置能够及时反应试验箱内部温度，加热装置及时调整从而保证环境设定温度与Ts控制在变化范围内，提高检测可靠性。作为优选，所述散热板上设有对流孔或散热片中的一种或两种。对流孔或散热片的设置能使LED光源的热量更快速传递到空气中，使环境温度检测装置能够及时反应试验箱内部温度，加热装置及时调整从而保证环境设定温度与Ts控制在变化范围内，进一步提高检测可靠性。作为优选，所述测试位均匀分布在试验箱内。测试位的均匀分布能使LED光源辐射至试验箱内的热量更为均匀，既可以使Ts更容易控制，由使试验箱内的温度更为均匀加热更易控制。作为优选，所述加热装置均匀分布在试验箱内。在测试位均匀分布的前提下均匀分布加热装置使试验箱内的温度加热更易控制。作为优选，所述寿命测试仪内设有计时芯片。计时芯片的设置使寿命测试仪具有断电保存功能，可以准确记录LED光源的通断时间，不会因为意外断电导致测试准确性，提高了检测可靠性。作为优选，所述试验箱采用绝热材料制成，导热系数小于或等于0.15W/(m·k)。当试验箱导热系数小于或等于0.15W/(m·k)时，试验箱可保证整个测试过程中试验箱处于恒温状态中，减少外围环境为试验箱内测试温度造成影响，也可减少加热装置所产生的能量消耗。作为优选，所述试验箱由固定部与抽拉部组成，所述抽拉部设置在固定部内并通过导轨滑动连接。固定部与抽拉部的设置使试验箱能够适应不同数量及大小的LED光源，当测试数量较少且LED光源较小时，通过靠近固定部与抽拉部以缩小检测空间以减少检测时的能量耗损；当测试数量较多或LED光源较大时，通过拉出抽拉部以扩大检测空间以适应不同种类的测试要求。作为优选，所述固定部与抽拉部间设置有定位件。定位件的设置使测试过程中固定部与抽拉部的位置保持相对固定，使加热过程更易控制，进而提高检测可靠性。一种LED光源高温长期光通维持率检测方法，包括以下步骤：S1)待测件安装：将待测LED光源置入试验箱内安装有散热板的测试位，安装后密闭试验箱，开始测试；S2)环境温度调整：当待测LED光源正常工作后，通过温度控制系统中的环境温度检测装置检测试验箱内部温度，当内部温度达到稳定后，温度控制系统中的加热装置开始工作，逐步加热检测试验箱内部温度至环境设定温度；S3)待测件老化：环境温度调整后，在设定老化时间内维持该环境设定温度；S4)光通维持率测试：当设定老化时间到达后，从试验箱中取出待测LED光源，进行光通维持率测试。检测过程中，所述试验箱呈密闭状态。通过在检测过程中设置密闭试验箱，通过散热板将LED光源测试时所产生的能量辐射至试验箱内从而控制Ts温度，将主动式散热结构转变为被动式散热结构，利用温度控制系统实时控制试验箱内部温度，排除了因现有主动散热结构停转而造成测试失败的可能性，提高了检测过程的可靠性；并且LED点亮所产生的热量能够被保留在试验箱内，温度控制系统在利用LED光源正常工作的热能基础上进行加热工作，除去了散热系统的运作成本，运行所需功率仅需现有方法的1/10～1/3，有效减少测试成本与耗能。作为优选，所述步骤S1中，待测LED光源通过均温板与散热板连接。基于均温板的高导热系数能够将LED光源的热量由点迅速扩散成面，可以有效控制Ts温度，再由散热板将热量快速传递到空气中，使环境温度检测装置能够及时反应试验箱内部温度，加热装置及时调整从而保证环境设定温度与Ts控制在变化范围内，提高检测可靠性。作为优选，所述步骤S3中，通过LED温度测试仪检测待测LED光源外壳温度，当待测LED光源外壳温度低于外壳设定温本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种LED光源高温长期光通维持率检测方法，包括以下步骤：S1)待测件安装：将待测LED光源置入试验箱内安装有散热板的测试位，安装后密闭试验箱，开始测试；S2)环境温度调整：当待测LED光源正常工作后，通过温度控制系统中的环境温度检测装置检测试验箱内部温度，当内部温度达到稳定后，温度控制系统中的加热装置开始工作，逐步加热检测试验箱内部温度至环境设定温度；S3)待测件老化：环境温度调整后，在设定老化时间内维持该环境设定温度；S4)光通维持率测试：当设定老化时间到达后，从试验箱中取出待测LED光源，进行光通维持率测试。

【技术特征摘要】
1.一种LED光源高温长期光通维持率检测方法，包括以下步骤：S1)待测件安装：将待测LED光源置入试验箱内安装有散热板的测试位，安装后密闭试验箱，开始测试；S2)环境温度调整：当待测LED光源正常工作后，通过温度控制系统中的环境温度检测装置检测试验箱内部温度，当内部温度达到稳定后，温度控制系统中的加热装置开始工作，逐步加热检测试验箱内部温度至环境设定温度，首先进行正向加热，等额增加加热装置功率，直至试验箱内部温度等于或超过环境设定温度，若试验箱内部温度等于环境设定温度，停止增加功率；若试验箱内部温度超过环境设定温度，取最后功率作为上限端点，取最后功率的前一次功率作为下限端点，通过二分法调整功率，直到试验箱内部温度等于环境设定温度；S3)待测件老化：环境温度调整后，在设定老化时间内维持该环境设定温度；S4)光通维持率测试：当设定老化时间到达后，从试验箱中取出待测LED光源，进行光通维持率测试。2.根据权利要求1所述的一种LED光源高温长期光通维持率检测方法，其特征在于：所述步骤S1中，待测LED光源通过均温板与散热板连接。3.根据权利要求1所述的一种LED光源高温长期光通维持率检测方法，其特征在于：所述步骤S3中，通过LED温度测试仪检测待测LED光源外壳温度，当待测LE...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋卫敏，胡旭梁，翟莉芳，章丹枫，
申请(专利权)人：浙江中博光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33