一种测试压头定位机构制造技术

本发明专利技术公开了一种测试压头定位机构，它包括底座（1）、水平定位柱（2）、测试头定位块（3）、定位螺钉（4）和定位螺钉支撑座（5），测试头定位块（3）放置在底座（1）上，且测试头定位块（3）与底座（1）接触的下表面上开设有方形槽（6），水平定位柱（2）设置在底座（1）的上表面上，且与方形槽（6）滑动配合连接，测试头定位块（3）左右两侧方均设置有一定位螺钉支撑座（5），定位螺钉支撑座（5）内螺纹连接有一定位螺钉（4），定位螺钉支撑座（5）通过螺钉安装在底座（1）的上表面上。本发明专利技术的有益效果是：它具有调整位置方便、可避免测试头倾斜和节约生产成本的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种测试压头定位机构
本专利技术涉及定位机构，特别是一种测试压头定位机构。
技术介绍
晶片上具有多个触点，在测试时，需要触头与触点相接触，但是现有的测试装置中，测试头经过多次使用后，易出现磨损，导致测试到在移动过程中容易出现歪斜，从而使测试头下压产品时不能垂直向下，导致触头与晶片上的待测触点接触不到位，影响产品测试的准确性，严重的还会导致刮坏触点，导致产品报废，提高生产成本。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种调整位置方便、可避免测试头倾斜和节约生产成本的测试压头定位机构。 本专利技术的目的通过以下技术方案来实现:一种测试压头定位机构，它包括底座、水平定位柱、测试头定位块、定位螺钉和定位螺钉支撑座，所述的测试头定位块放置在底座上，且测试头定位块与底座接触的下表面上开设有方形槽，所述的水平定位柱设置在底座的上表面上，且与方形槽滑动配合连接，所述的测试头定位块左右两侧方均设置有一定位螺钉支撑座，定位螺钉支撑座内螺纹连接有一定位螺钉，定位螺钉支撑座通过螺钉安装在底座的上表面上。 所述的测试头定位块下表面的方形槽为两道。 所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试压头定位机构，其特征在于：它包括底座（1）、水平定位柱（2）、测试头定位块（3）、定位螺钉（4）和定位螺钉支撑座（5），所述的测试头定位块（3）放置在底座（1）上，且测试头定位块（3）与底座（1）接触的下表面上开设有方形槽（6），所述的水平定位柱（2）设置在底座（1）的上表面上，且与方形槽（6）滑动配合连接，所述的测试头定位块（3）左右两侧方均设置有一定位螺钉支撑座（5），定位螺钉支撑座（5）内螺纹连接有一定位螺钉（4），定位螺钉支撑座（5）通过螺钉安装在底座（1）的上表面上。

【技术特征摘要】
1.一种测试压头定位机构，其特征在于:它包括底座(1)、水平定位柱(2)、测试头定位块(3)、定位螺钉(4)和定位螺钉支撑座(5)，所述的测试头定位块(3)放置在底座(1)上，且测试头定位块(3)与底座(1)接触的下表面上开设有方形槽(6)，所述的水平定位柱(2)设置在底座(1)的上表面上，且与方形槽(6)滑动配合连接，所述的测试头定位块(3)左右两侧方均设置有一定位螺钉...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚远旭，太嘉伟，
申请(专利权)人：东晶锐康晶体成都有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51