通用零件多级初检装置制造方法及图纸

技术编号:11072809 阅读:71 留言:0更新日期:2015-02-25 12:02
本发明专利技术提供了一种通用零件多级初检装置,包括上下并列同向排布的多级传送带结构,每级传送带上均设有初检装置,每个初检装置的出口处均设有活动翻盖,最下方一级传送带的活动翻盖下方与废料盒连接,其余级传送带的活动翻盖下方正对下一级传送带上初检装置的入口。通过多级检测结构,保证检测结果的精确性,防止由于检测误差而导致的零件浪费。

【技术实现步骤摘要】

    本专利技术涉及零件质检领域,具体是一种通用零件多级初检装置
技术介绍
通用零件对零件精度的要求比较低,通常质检环节比较简单,比如称重检测。通用零件初检过程中,通过简单的称重就可以去除明显不合格的零件。影响质检结果最常见的因素就是零件在流水线上紧靠或产生堆叠。现有的技术是通过在质检装置前使用感应闸门来使零件分离,当感应闸门感应到有零件通过时,闸门关闭,挡住后面的零件,待前一个零件质检完成后再打开闸门进行下一个零件的质检。该方法能够在一定程度上避免因零件紧靠而导致的两个零件同时进行质检的情况,但是当零件产生堆叠时,感应闸门仍然会默认两个零件为同一个零件,影响质检结果。并且,质检装置长时间使用,差生误差时也会影响质检结果。质检精度不高会导致本来合格的产品被误认为残次品而产生浪费。
技术实现思路
本专利技术为了解决因零件紧靠而导致的两个零件同时进行质检的情况,提供了一种通用零件多级初检装置,能够使零件分离开单独检测,防止由于质检精确度不高而导致合格产品被浪费的现象发生。本专利技术包括上下并列同向排布的多级传送带结构,每级传送带上均设有初检装置,每个初检装置的出口处均设有活动翻盖,最下方一级传送带的活动翻盖下方与废料盒连接,其余级传送带的活动翻盖下方正对下一级传送带上初检装置的入口。零件通过初检装置时,若是合格则活动翻盖不打开,沿传送带进入合格品区。若是不合格,则打开活动翻盖,零件坠入下一级传送带的初检装置,继续进行检测。若是因为零件堆叠而导致的质检不合格,堆叠零件在下坠过程中会产生分离,从而使零件在下一级初检装置中可以单独检测,检测合格的产品进入合格品区,不合格产品再通过活动翻盖进入下一级装置进行复检。通过多级检测结构,保证检测结果的精确性,防止由于检测误差而导致的零件浪费。进一步改进,所述的活动翻盖下方设有减震垫,防止零件坠落产生损坏。附图说明图1为本专利技术结构示意图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术作进一步说明。本专利技术一种具体结构如图1所示,包括上下并列同向排布的3级传送带结构,每级传送带1上均设有初检装置2,每个初检装置2的出口处均设有活动翻盖3,最下方一级传送带的活动翻盖3下方与废料盒4连接,第一、二级传送带的活动翻盖3下方正对下一级传送带上初检装置2的入口。每个活动翻盖3下方设有减震垫。本专利技术工作过程如下:零件通过初检装置时,若是合格则活动翻盖不打开,沿传送带进入合格品区。若是不合格,则打开活动翻盖,零件坠入下一级传送带的初检装置,继续进行检测。若是因为零件堆叠而导致的质检不合格,堆叠零件在下坠过程中会产生分离,从而使零件在下一级初检装置中可以单独检测,检测合格的产品进入合格品区,不合格产品再通过活动翻盖进入下一级装置进行复检。通过多级检测结构,保证检测结果的精确性,防止由于检测误差而导致的零件浪费。本专利技术具体应用途径很多,以上所述仅是本专利技术的优选实施方式,应当指出,对于本
的普通技术人员来说,在不脱离本专利技术原理的前提下,还可以作出若干改进,这些改进也应视为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种通用零件多级初检装置,其特征在于:包括上下并列同向排布的多级传送带结构,每级传送带(1)上均设有初检装置(2),每个初检装置(2)的出口处均设有活动翻盖(3),最下方一级传送带的活动翻盖(3)下方与废料盒(4)连接,其余级传送带的活动翻盖(3)下方正对下一级传送带上初检装置(2)的入口。

【技术特征摘要】
1.一种通用零件多级初检装置,其特征在于:包括上下并列同向排布的多级传送带结构,每级传送带(1)上均设有初检装置(2),每个初检装置(2)的出口处均设有活动翻盖(3),最下方一级传送带的活动翻盖(3)下...

【专利技术属性】
技术研发人员:肖伟武
申请(专利权)人:南京协凯科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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