【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】模块和电容检测方法
本专利技术涉及对检测对象的电容值进行检测的模块,也涉及对检测对象的电容值进行检测的方法。
技术介绍
比如,在特许公开号为56-107170(专利文献1)和2-271266(专利文献2)的日本专利中,公开了测量电容器的静电电容的设备。特许公开号为56-107170的日本专利中公开的设备包括电源和直流电流测量设备。电源随时间以已知的恒定速率提高电压。电源和直流电流测量设备被串联到电容器的端子。从测得的电流值计算电容器的静电电容。特许公开号为2-271266的日本专利中公开的设备包括直流电源、连接在该直流电源和电容器之间的电阻器、用于检测流过该电阻器的电流的电流检测电路、用于集成由所述电流检测电路检测的充电电流的集成电路和运算输出单元。该运算输出单元基于通过所述集成电路获得的集成值和跨所述电容器端子的电压计算所述电容器的静电电容。引文列表专利文献专利文献1:特许公开号为56-107170的日本专利专利文献2:特许公开号为2-271266的日本专利
技术实现思路
技术问题具有大电容值的电容组件常存在于从检测端子到检测对象的通路上。电容组件的电容值可随设备的不同而不同。如果电容组件的变化比得上检测对象的电容值的变化宽度,对检测对象的电容值的变化进行检测会变得困难。本专利技术的目的是提供一种用于对检测对象的电容值进行高精度检测的技术。问题的解决方案根据一方面,本专利技术提供包括电流通路和电容检测电路的模块。该电流通路连接到检测对象并包括电容组件。所述电容检测电路通过所述电流通路向检测对象提供恒定电流,且从而检测该检测对象的电容值。所述电容值检测电路包括 ...
【技术保护点】
一种模块,包括:连接到检测对象(Cs)并包括电容组件(Cp)的电流通路;以及通过所述电流通路将恒定电流提供至所述检测对象(Cs)的电容检测电路(10),用于检测所述检测对象(Cs)的电容值,所述电容值检测电路(10)包括:恒流源(20),将所述恒定电流提供至电压检测点(P),充电/放电电路(24),将所述电流通路连接至所述电压检测点(P)以对所述检测对象(Cs)和所述电容组件(Cp)充电,以及将所述电流通路从所述电压检测点(P)断开以使所述检测对象和所述电容组件(Cp)放电,时间测量电路(28),测量充电时间直至所述电压检测点(P)的电压达到规定电压,存储单元(30),存储预先获得的第一数据(ΔΝ0)作为具有已知电容值的电容元件(Ck)的所述充电时间,以及存储预先获得的第二数据(N1)作为所述电容组件(Cp)的所述充电时间,以及运算单元(32),从当所述电流通路连接到所述电压检测点(P)时所述时间测量单元(28)的第一测量值(N11)和所述第二数据(N1)之间的差生成表示所述检测对象(Cs)的所述充电时间的第三数据,并基于所述第三数据与所述第一数据(ΔΝ0)之间的比率以及所述已知的电容 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种对检测对象的电容值进行检测的装置,包括:连接到检测对象(Cs)并包括电容组件(Cp)的电流通路;以及通过所述电流通路将恒定电流提供至所述检测对象(Cs)的电容检测电路(10),用于检测所述检测对象(Cs)的电容值,所述电容检测电路(10)包括:恒流源(20),将所述恒定电流提供至电压检测点(P),充电/放电电路(24),将所述电流通路连接至所述电压检测点(P)以对所述检测对象(Cs)和所述电容组件(Cp)充电,以及将所述电流通路从所述电压检测点(P)断开以使所述检测对象和所述电容组件(Cp)放电,时间测量单元(28),测量直至所述电压检测点(P)的电压达到规定电压的充电时间,存储单元(30),存储预先获得的第一数据(ΔΝ0)作为具有已知电容值的电容元件(Ck)的所述充电时间,以及存储预先获得的第二数据(N1)作为所述电容组件(Cp)的所述充电时间,以及运算单元(32),从当所述电流通路连接到所述电压检测点(P)时所述时间测量单元(28)的第一测量值(N11)和所述第二数据(N1)之间的差生成表示所述检测对象(Cs)的所述充电时间的第三数据,并基于所述第三数据与所述第一数据(ΔΝ0)之间的比率以及所述已知电容值计算所述检测对象(Cs)的电容值。2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述时间测量单元(28)包括:振荡器(42),和计数器(44),响应来自所述振荡器的输出信号,用于生成计数值作为指示所述充电时间的数据;所述存储单元(30)预先存储所述振荡器的振荡频率的初始值和所述第一数据(ΔΝ0)的初始值;且所述运算单元(32)根据所述振荡频率的所述初始值和所述振荡频率的测量值之间的比率校正所述第一数据(ΔΝ0)的所述初始值,以更新所述第一数据(ΔΝ0)。3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,该装置还包括:参考电容元件(Cref);其中所述充电/放电电路(24)将所述参考电容元件(Cref)连接至所述电压检测点(P)以对所述参考电容元件(Cref)充电;所述充电/放电电路(24)将所述参考电容元件(Cref)从所述电压检测点(P)断开以使所述参考电容元件(Cref)放电;所述时间测量单元(28)测量所述参考电容元件(Cref)的所述充电时间从而输出第二测量值(N12);所述存储单元(30)预先存储预先获得的第四数据(N2)作为所述参考电容元件(Cref)...
【专利技术属性】
技术研发人员:南云正二,中里正,戴宇杰,张小兴,吕英杰,
申请(专利权)人:株式会社村田制作所,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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