一种利用准光学谐振腔快速实时诊断等离子体的新方法技术

技术编号:10833139 阅读:183 留言:0更新日期:2014-12-27 17:43
一种利用准光学谐振腔快速实时诊断等离子体的新方法,属于等离子诊断领域。诊断装置包括准光学谐振腔和矢量网络分析仪,其中准光学谐振腔为对称双凹腔或平凹腔。测试信号经同轴线,耦合输入孔进入谐振腔;信号穿过谐振腔后经耦合输出孔、同轴线传回矢量网络分析仪。用两台或更多台矢量网络分析仪选取不同频率进行点频测试(CW Sweep),根据测量结果计算出等离子体的参数。本发明专利技术适用于诊断如飞行尾迹类的等离子体,具有快速、准确和测量范围宽的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于等离子体诊断领域,涉及微波,毫米波频段介质材料复介电常数测试 用准光学谐振腔。
技术介绍
等离子体微波诊断方法主要包括静电探针法和微波诊断法。静电探针法常用于低 温等离子体的诊断,微波诊断法则常用于高温等离子体的诊断。微波诊断法又分为微波探 针诊断法,微波腔诊断法,等离子体辐射诊断法。微波腔诊断法中的开腔诊断法常用于毫米 波频段的等离子体诊断中。 准光学谐振腔,简称准光腔。常用的准光腔结构有两种:一种是对称双凹腔结构, 由两个凹面镜正对放置而成;另一种是平凹腔结构,由一个平面镜和一个凹面镜正对放置 而成。传统开腔诊断方法适用于等离子体在一段时间内可以保持稳定的情况,不适用于诊 断类似飞行尾迹之类的瞬态等离子体。微波干涉仪诊断技术是一种可以快速实时测量等离 子体的方法,但是该方法的测量精度和测量范围往往不能达到要求。本专利技术将准光学谐振 腔运用于类似飞行尾迹之类的非稳定等离子体诊断中,利用了准光学谐振腔对微扰极其敏 感的特性;诊断装置结构简单,操作方便
技术实现思路
本专利技术对数据的测量采用点频测试(cw Sweep),数据测量和提取十分迅速,可以 跟上非稳定等离子体的变化速度。 _ 本专利技术提供的利用准光学谐振腔快速诊断等离子体的方法,运用两台或更多台矢 量网络分析仪进行点频测试(cw Sweep),测量等离子体经过准光学谐振腔时信号的幅值和 相位,利用测得的两个或多个频率点的数据计算出等离子体的电子浓度和电子温度。 【附图说明】 图1是本专利技术提供的基于准光学谐振腔的快速实时诊断等离子体装置结构示意 图,左侧是准光学谐振腔为对称双凹腔的结构示意图,右侧是准光学谐振腔为平凹腔的结 构示意图。 图2是对称双凹腔的结构示意图。 图3是平凹腔的结构示意图。 图4是对称双凹腔中凹面镜示意图 图5是平凹腔中凹面镜示意图。 [0011 ]图1至图5中:1是准光学谐振腔,2是矢量网络分析仪;11是对称双凹腔中第一 凹面镜或平凹腔中凹面镜,12是对称双凹腔中第二凹面镜,111、112是对称双凹腔中第一 凹面镜中心的输入能量耦合孔或平凹腔中凹面镜中心附近的输入能量耦合孔, 121、122是 对称双凹腔中第二凹面镜中心的输出能力耦合孔或平凹腔中凹面镜中心附近的输出能量 耦合孔。 【具体实施方式】 ,装置如图1所示,包括 准光学谐振腔1和矢量网络分析仪2。所述准光学谐振腔1可为对称双凹腔或平凹腔。对 于准光学谐振腔为对称双凹腔的装置而言,第一台矢量网络分析仪产生的测试信号通过一 段同轴线传输,穿过对称双凹腔中位于凹面镜11中心的输入耦合孔111后耦合入对称双凹 腔;信号穿过对称双凹腔后,经对称双凹腔中位于凹面镜12中心的输出耦合孔121耦合入 另一段同轴线传回至矢量网络分析仪。第二台矢量网络分析仪产生的测试信号通过一段同 轴线传输,穿过对称双凹腔中位于凹面镜11中心的输入耦合孔112后耦合入对称双凹腔; 信号穿过对称双凹腔后,经对称双凹腔中位于凹面镜12中心的输出耦合孔122耦合入另一 段同轴线传回至矢量网络分析仪。为了提高测量精度,可增加准光学谐振腔的耦合孔数量 以连接更多的矢量网络分析仪进行测量。 对于准光学谐振腔为平凹腔的装置而言,第一台矢量网络分析仪产生的测试信号 通过一段同轴线传输,穿过平凹腔中位于凹面镜11中心附近的输入耦合孔111后耦合入平 凹腔;平凹腔所产生的输出信号穿过平凹腔中位于凹面镜11中心附近的输出耦合孔121后 经另一段同轴线传回至矢量网络分析仪。第二台矢量网络分析仪产生的测试信号通过一段 同轴线传输,穿过平凹腔中位于凹面镜11中心附近的输入耦合孔121后耦合入平凹腔;平 凹腔所产生的输出信号穿过平凹腔中位于凹面镜11中心附近的输出耦合孔122后经另一 段同轴线传回至矢量网络分析仪。为了提高测量精度,可增加准光学谐振腔的耦合孔数量 以连接更多的矢量网络分析仪进行测量。 利用准光学谐振腔诊断等离子体时,首先利用网络分析仪2测出准光学谐振腔1 空腔时的谐振频率和品质因素 Q。。选取f。附近的两个频率点^和^,用矢量网络分析仪 进行点频测试(CW Swe印)。两台矢量网络分析仪中任选一台测量&频率信号的幅值和相 位,另一台测量f2频率的信号幅值和相位。由于谐振腔内有等离子体时,谐振频率将增大, 所以选取的测试频率和f 2 -般大于f。。为了提高精度,可以增加矢量网络分析仪,选取 更多频率点进行测量。 对矢量网络分析仪测得的数据进行分析,令|H(f\) I表示1频率的信号幅值,《?(乂) 表示A频率信号的相位;|H(f2) I表示f2频率信号的幅值,^(Λ)表示f2频率信号的相位。 对于谐振系统,有 (/)=--J-- _7] Ui〇{L_k) (1) l/o f) ^(/) =-arctan Q A (2) V v/〇 f)) _9] 其中,H(f)表示信号,4/)表示信号的相位,Q表示品质因数,fQ表示谐振频率,f 表不信号的频率。 利用测量数据0(_/;)和《?(/2),得到方程: ⑶本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用准光学谐振腔快速实时诊断等离子体的新方法,诊断装置包括准光学谐振腔(1)和矢量网络分析仪(2)。

【技术特征摘要】
1. 一种利用准光学谐振腔快速实时诊断等离子体的新方法,诊断装置包括准光学谐振 腔(1)和矢量网络分析仪(2)。2. 根据权利要求1所述的利用准光学谐振腔快速实时诊断等离子体的方法,其特征 在于:对于准光学谐振腔(1)而言,矢量网络分析仪(2)产生的测试信号通过同轴线、耦合 孔进入谐振腔;谐振腔产生的输出信号经另一耦合孔、同...

【专利技术属性】
技术研发人员:陶冰洁谢冰郭高凤李恩高源慈郑虎
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:发明
国别省市:四川;51

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