结合几何标定的相位测量轮廓术系统非线性校正方法技术方案

本发明专利技术公开了一种结合几何标定的相位测量轮廓术系统非线性校正方法。用相位测量轮廓术对标靶进行扫描，得到准确相位、平均亮度和亮度调制，分别利用准确相位和平均亮度对投影装置和摄像装置进行标定，根据准确相位和拍摄的结构光图像获取投影装置的非线性响应，建立灰度查找表，在投射结构光图案进行三维扫描前，利用该查找表对图案的灰度值进行预补偿，从而达到对测量系统进行非线性校正的目的。本发明专利技术可用于相位测量轮廓术系统的几何标定和非线性校正。本发明专利技术把测量系统的几何标定与非线性校正有机结合起来，具有操作简便，校正精度和执行效率高的优点。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种。用相位测量轮廓术对标靶进行扫描，得到准确相位、平均亮度和亮度调制，分别利用准确相位和平均亮度对投影装置和摄像装置进行标定，根据准确相位和拍摄的结构光图像获取投影装置的非线性响应，建立灰度查找表，在投射结构光图案进行三维扫描前，利用该查找表对图案的灰度值进行预补偿，从而达到对测量系统进行非线性校正的目的。本专利技术可用于相位测量轮廓术系统的几何标定和非线性校正。本专利技术把测量系统的几何标定与非线性校正有机结合起来，具有操作简便，校正精度和执行效率高的优点。【专利说明】
本专利技术涉及光学三维传感技术，特别是涉及结构光三维测量系统的非线性校正方 法。
技术介绍
相位测量轮廓术（phasemeasuringprofilometry，简称PMP)是一种应用广泛的 非接触式光学三维测量技术，它具有精度高和可靠性高的优点。在实际应用中，当投影图 案较少时，摄像头-投影机系统的非线性将造成严重的相位误差，而另一方面，三维扫描的 实时性要求投影图案的数目尽可能少。ZhongweiLi等在论文"LiZ,ShiY,WangC, etal.Accuratecalibrationmethodforastructuredlightsystem.Optical Engineering, 2008, 47(5): 053604-053604-9"中介绍了相位测量轮廓术几何标定和非 线性校正的方法。其中非线性校正方法首先向均匀平面投射4步相移的正弦结构光图案， 得到受非线性影响的畸变相位，计算相位误差，然后把畸变相位和相位误差均量化为256 级，建立从畸变相位到相位误差的查找表，在实际测量中，利用该查找表对畸变相位进行 事后补偿，达到非线性校正的目的。上述方法存在以下缺点：首先，该方法没有把系统的 几何标定和非线性校正有机结合起来，需要另外在均匀平面上投射结构光图案以获得准确 相位和畸变相位；其次，非线性校正的精度受查找表量化级数影响；第三，由于相位误差与 图案数目相关，所以该方法根据4步相移图案建立的查找表仅能用于4步相移的PMP，应 用范围受到限制；第四，该非线性校正方法是对畸变相位进行补偿，畸变相位中随机噪声 较大，校正精度容易受随机噪声的影响。ChaoZuo等在论文"ZuoC，ChenQ，GuG，et al.High-speedthree-dimensionalprofilometryformultipleobjectswithcomplex shapes ?Opticsexpress, 2012，20 (17) : 19493-19510" 中提出了通过投射和捕捉一 系列纯色灰度图案获取投影机的亮度非线性响应，根据该非线性响应建立灰度查找表，利 用该查找表对投影图案进行预补偿，达到非线性校正的目的。该方法存在以下不足：首先， 该方法不能与系统几何标定过程有机结合，需要投射大量纯色灰度图案，所以效率不高；其 次，因为纯色灰度图案与PMP图案具有不同的光场，所以该方法建立的灰度查找表并不能 精确反映投影PMP图案时投影机的非线性响应。如何把PMP系统的几何标定和非线性校正 有机结合起来，仅利用几何标定过程中拍摄的结构光图像来获取投影设备的非线性响应， 精确高效地完成的非线性校正，应用本专利技术提及的方案就可以解决这一关键技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对目前结构光系统非线性校正方案不能与几何标定有机结合、 执行效率低、校正精度低的缺点，提出一种与几何标定相结合的非线性校正方法，该方法操 作简便，能达到较高的校正精度和执行效率。 本专利技术的目的是采用下述技术方案来实现的： 使用投影装置向三维标靶依次投射基频和高频的正弦结构光图案，并用摄像装置进行 同步拍摄，根据拍摄图像分别计算出低频相位和高频截断相位，采用时间相位展开得到准 确的绝对相位，同时计算出结构光图像的直流分量和亮度调制；把准确相位用于投影装置 的几何标定，即利用相位计算出标靶特征点在投影装置坐标系中的对应点坐标，利用该对 应关系计算出世界坐标系到投影装置坐标系的转换矩阵；把结构光图像的直流分量用于摄 像装置的几何标定，即通过对结构光图像的直流分量进行特征点检测，计算出标靶特征点 在摄像装置坐标系中的对应点坐标，利用该对应关系计算出世界坐标系到摄像装置坐标系 的转换矩阵；对拍摄图像进行规范化处理，即把拍摄的结构光图像减去其直流分量，再点除 亮度调制后，找出图像的最小和最大灰度值，采用min-max标准化方法把图像灰度值规范 到区间，最后把灰度值等比例拉伸到与投影图案灰度值相同的范围；通过对结构光 图像的亮度调制进行阈值分割确定拍摄图像中具有高信噪比的有效区域；根据准确相位计 算出有效区域内每个像素点在投影图案中对应点的灰度值，建立从规范化结构光图像到投 影图案的灰度值查找表，即把规范化结构光图像的灰度值作为查找表索引，对每一个索引， 找到结构光图像所有具有该索引灰度值的像素点，取这些像素点在投影图案中对应点的平 均灰度值作为查找表输出；在投射结构光图案进行三维扫描前，利用该查找表对图案的灰 度值进行预补偿，从而达到对测量系统进行非线性校正的目的。 本专利技术与现有技术相比有如下优点： 因为本专利技术的非线性校正过程与系统几何标定有机结合起来，除了几何标定所用的PMP图案，不需要投射额外的编码图案，简化了系统非线性校正的过程，提高了校正的效率； 由于本专利技术方法依据拍摄的PMP图像建立灰度查找表，所以该查找表准确反映了实际PMP 扫描时的光场条件，提高了校正精度。 【专利附图】【附图说明】 图1为本专利技术相位测量轮廓术系统非线性校正方法的工作流程图。 【具体实施方式】 下面结合附图、工作原理对本专利技术作进一步详细说明。 采用的装置有1台CASIO XJ-M140投影机，投影机缓存帧大小为 S〇C)x600像素，灰度量化等级为8bit，投影机最大输出频率为150帧/s ;1个Prosilica GC650工业摄像头，分辨率为640x480像素，灰度量化等级为8bit,摄像头最大捕捉频率为 62帧/s;-个用于摄像头和投影机几何标定的立体标靶。1台具有Core i3 3530 CPU, 4GB 内存的计算机，由计算机对结构光投影和拍摄过程进行控制。附图1为本实施例非线性校 正方法流程图。本实例具体实施步骤如下： (1)用基频和高频的正弦结构光图案对三维标靶进行扫描，根据PMP算法获得准确相 位、结构光图像的直流分量和亮度调制。 PMP原理在论文"Liu K, Wang Y, Lau D L, et al. Dual-frequency pattern scheme for high-speed 3-D shape measurement . Opt. Express, 2010, 18(5): 5229-5244"中有详细介绍，现简述如下： 用投影机向三维标靶投射正弦结构光图案，投射的图案表示为： 【权利要求】1. 一种，其特征在于使用投影装 置向三维标靶依次投射基频和高频的正弦结构光图案，并用摄像装置进行同步拍摄，根据 拍摄图像分别计算出低频相位和高频截断相位，采用时间相位展开得到准本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种结合几何标定的相位测量轮廓术系统非线性校正方法，其特征在于使用投影装置向三维标靶依次投射基频和高频的正弦结构光图案，并用摄像装置进行同步拍摄，根据拍摄图像分别计算出低频相位和高频截断相位，采用时间相位展开得到准确的绝对相位，同时计算出结构光图像的直流分量和亮度调制，把准确相位用于投影装置的几何标定，把结构光图像的直流分量用于摄像装置的几何标定，把结构光图像的灰度值规范化到与投影图案灰度值相同的范围，在拍摄图像中确定具有高信噪比的有效区域，根据准确相位计算出有效区域内每个像素点在投影图案中对应点的灰度值，建立从规范化结构光图像到投影图案的灰度值查找表，在投射结构光图案进行三维扫描前，利用该查找表对图案的灰度值进行预补偿，从而达到对测量系统进行非线性校正的目的。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘凯，龙云飞，郑晓军，吴炜，杨晓敏，
申请(专利权)人：四川大学，
类型：发明
国别省市：四川;51