电子式标准模拟应变量校准器的校准方法技术

本发明专利技术涉及电子式标准模拟应变量校准器的校准方法，包括以下步骤：接线；设置量程；将输出比率分别设置为量程的10％、20％、30％、40％、50％、60％、70％、80％、90％和100％，测量出相应的输出电压值并分别记为V1到V10；将V1到V10进行修正分别得到V11到V110；将V11到V110分别带入第一公式计算得到相应的应变量ε1到ε10；将ε1到ε10分别带入第二公式计算得到待校标准模拟应变量校准器输出的应变量的误差δ。本发明专利技术桥路的激励电压采用四线法接线方式，有效降低了引线电阻引入的误差和温度及其它干扰带来的影响，因此，可以对准确度为±0.01％以上的电子式标准模拟应变量校准器的直流或100kHz以下任意频率点的应变量进行校准。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及，包括以下步骤：接线；设置量程；将输出比率分别设置为量程的10％、20％、30％、40％、50％、60％、70％、80％、90％和100％，测量出相应的输出电压值并分别记为V1到V10；将V1到V10进行修正分别得到V11到V110；将V11到V110分别带入第一公式计算得到相应的应变量ε1到ε10；将ε1到ε10分别带入第二公式计算得到待校标准模拟应变量校准器输出的应变量的误差δ。本专利技术桥路的激励电压采用四线法接线方式，有效降低了引线电阻引入的误差和温度及其它干扰带来的影响，因此，可以对准确度为±0.01％以上的电子式标准模拟应变量校准器的直流或100kHz以下任意频率点的应变量进行校准。【专利说明】
本专利技术涉及参数校准装置的校准方法，具体而言是电子式标准模拟应变量校准器 的校准方法。
技术介绍
标准模拟应变量校准器是力学应变量的电学模拟标准，代替标准电阻应变计 (片）产生模拟标准应变量，用来检定"应变测量仪"。标准模拟应变量校准器可分为机械 式和电子式两种，随着科学技术的发展和实际应用的需要，电子式标准模拟应变量校准器 日愈增多。现有技术如JJG533-2007《标准模拟应变量校准器检定规程》只适用于机械式 标准模拟应变量校准器的检定/校准，而不适用于电子式标准模拟应变量校准器的检定/ 校准。其原因在于JJG533-2007《标准模拟应变量校准器检定规程》采用比较法（电桥平 衡法），需要校准（检定）系统与被校准的标准模拟应变量校准器阻抗相匹配。机械式标准 模拟应变量校准器为无源标准器，符合上述条件，而电子式标准模拟应变量校准器为有源 标准器，它的输出阻抗与比较法检定系统阻抗不匹配，导致系统无法平衡，指零仪不能正常 工作。另外，桥路的激励电压采用二线法接线方式，容易受引线电阻误差和温度及其它干扰 的影响，而且，现有校准方法提供的桥路供电电压为定点频率（1kHz)，标准装置受电阻精度 的影响，校准频率和准确度受到限制，只能对定点频率（1kHz)下的应变量进行校准，而且 只能校准准确度在±0.02%以下的标准模拟应变量校准器。因此，设计出可以对高准确度 应变量校准器在多点频率下的应变量进行校准的电子式标准模拟应变量校准器的校准方 法十分必要。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种可以对高准确度应变量校准器在多点频率下的应变量 进行校准的。 为实现上述目的，本专利技术提出，包括以 下步骤： ，包括以下步骤： S1.将待校电子式标准模拟应变量校准器的输出正、负端分别与7位半以上数字 电压表的电压信号输入端Hi、Lo连接，将待校电子式标准模拟应变量校准器的桥压正端和 桥压取样正端分别与电压校准器的输出高端Hi和取样正端S+连接，将待校电子式标准模 拟应变量校准器的桥压负端和桥压取样负端分别与电压校准器的输出低端Lo和取样负端 s-连接； S2.将待校电子式标准模拟应变量校准器的输出量程设置为2mV/V，输出比率设 置为〇,电压校准器向待校电子式标准模拟应变量校准器提供桥路激励电压Vs，由7位半以 上数字电压表测量出待校电子式标准模拟应变量输出的零点值并记为％; S3.将待校电子式标准模拟应变量校准器的输出比率分别设置为量程的10%、 20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%和100%，由7位半以上数字电压表分别测量 出相应的输出电压值并分别记为VrV2、V3、V4、V5、V6、V7、V8、V9和V1Q ; S4.将输出电压值Vi、V2、V3、V4、V5、V6、V7、V8、V9和V1Q分别减去V。，得到输出电压 修正值vn、v12、v13、v14、v15、v16、v17、v18、v19 和v110; S5?将第一公式 【权利要求】1.，包括以下步骤：51. 将待校电子式标准模拟应变量校准器的输出正、负端分别与7位半以上数字电压 表的电压信号输入端Hi、Lo连接，将待校电子式标准模拟应变量校准器的桥压正端和桥压 取样正端分别与电压校准器的输出高端Hi和取样正端S+连接，将待校电子式标准模拟应 变量校准器的桥压负端和桥压取样负端分别与电压校准器的输出低端Lo和取样负端S-连 接；52. 将待校电子式标准模拟应变量校准器的输出量程设置为2mV/V，输出比率设置为 〇,电压校准器向待校电子式标准模拟应变量校准器提供桥路激励电压V s，由7位半以上数 字电压表测量出待校电子式标准模拟应变量输出的零点值并记为％;53. 将待校电子式标准模拟应变量校准器的输出比率分别设置为量程的10%、20%、 30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%和100%，由7位半以上数字电压表分别测量出相 应的输出电压值并分别记为Vp V2、V3、V4、V5、V6、V 7、V8、V9和V1(l ;54. 将输出电压值Vp V2、V3、V4、V5、V6、V 7、V8、V9和V1Q分别减去V。，得到输出电压修正 值 vn、v12、v13、v14、v15、v 16、v17、v18、v19 和 v110;55. 将第一公式 4V\ 、 V. ε = -- = 2 x A KV V s s 中的vx分别以输出电压修正值Vn、v12、v13、v14、v 15、v16、v17、v18、v19和V 11Q代入， 式中常数K设定为2. 00, Vs为桥路激励电压， 计算得到相应的应变量ε i、ε 2、ε 3、ε 4、ε 5、ε 6、ε 7、ε 8、ε 9和ε 1(| ;56. 将第二公式 J =厂、xlOO% A 中的εχ分别以应变量ε" ε2、ε3、ε4、ε5、ε6、ε 7、ε8、ε9和ε1(ι代入， 式中ε Ν为应变量标称值，其值等于设置的输出量程乘以200再乘以χ，χ分别为1、2、 3、4、5、6、7、8、9 和 10， 计算得到待校电子式标准模拟应变量校准器输出的应变量的误差δ ;57. 将待校电子式标准模拟应变量校准器的输出量程分别设置为5mV/V、10mV/V、 20mV/V和100mV/V，重复步骤S2到步骤S6,分别得到相应量程下待校电子式标准模拟应变 量校准器输出的应变量的误差S。【文档编号】G01B7/16GK104236448SQ201410461047【公开日】2014年12月24日 申请日期:2014年9月11日 优先权日:2014年9月11日 【专利技术者】黄品芳, 毛凡, 吴传昕, 杨金兰, 常辉, 罗喜明, 胡蕙, 邓念平 申请人:湖北航天技术研究院计量测试技术研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】
电子式标准模拟应变量校准器的校准方法，包括以下步骤：S1.将待校电子式标准模拟应变量校准器的输出正、负端分别与7位半以上数字电压表的电压信号输入端Hi、Lo连接，将待校电子式标准模拟应变量校准器的桥压正端和桥压取样正端分别与电压校准器的输出高端Hi和取样正端S+连接，将待校电子式标准模拟应变量校准器的桥压负端和桥压取样负端分别与电压校准器的输出低端Lo和取样负端S‑连接；S2.将待校电子式标准模拟应变量校准器的输出量程设置为2mV/V，输出比率设置为0，电压校准器向待校电子式标准模拟应变量校准器提供桥路激励电压Vs，由7位半以上数字电压表测量出待校电子式标准模拟应变量输出的零点值并记为V0；S3.将待校电子式标准模拟应变量校准器的输出比率分别设置为量程的10％、20％、30％、40％、50％、60％、70％、80％、90％和100％，由7位半以上数字电压表分别测量出相应的输出电压值并分别记为V1、V2、V3、V4、V5、V6、V7、V8、V9和V10；S4.将输出电压值V1、V2、V3、V4、V5、V6、V7、V8、V9和V10分别减去V0，得到输出电压修正值V11、V12、V13、V14、V15、V16、V17、V18、V19和V110；S5.将第一公式ϵx=4VxKVs=2×VxVs]]>中的Vx分别以输出电压修正值V11、V12、V13、V14、V15、V16、V17、V18、V19和V110代入，式中常数K设定为2.00，Vs为桥路激励电压，计算得到相应的应变量ε1、ε2、ε3、ε4、ε5、ε6、ε7、ε8、ε9和ε10；S6.将第二公式δ=ϵN-ϵxϵx×100%]]>中的εx分别以应变量ε1、ε2、ε3、ε4、ε5、ε6、ε7、ε8、ε9和ε10代入，式中εN为应变量标称值，其值等于设置的输出量程乘以200再乘以x，x分别为1、2、3、4、5、6、7、8、9和10，计算得到待校电子式标准模拟应变量校准器输出的应变量的误差δ；S7.将待校电子式标准模拟应变量校准器的输出量程分别设置为5mV/V、10mV/V、20mV/V和100mV/V，重复步骤S2到步骤S6，分别得到相应量程下待校电子式标准模拟应变量校准器输出的应变量的误差δ。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄品芳，毛凡，吴传昕，杨金兰，常辉，罗喜明，胡蕙，邓念平，
申请(专利权)人：湖北航天技术研究院计量测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：湖北;42