一种极低频电波屏蔽测试装置制造方法及图纸

一种极低频电波屏蔽测试装置，该装置包括：电波屏蔽筒和筒内测试线圈，筒内测试线圈位于电波屏蔽筒内；电波屏蔽筒包括：第一筒端盖、第二筒端盖、厚壁金属管、螺杆、双重孔盖和屏蔽盖；将第一筒端盖，厚壁金属管和第二筒端盖通过螺杆固定成一体，形成极低频电波屏蔽测试装置的屏蔽空腔主体部分；筒内测试线圈由外到内分布有支撑测试螺线管线圈的盘支架、位于测试螺线管线圈外面的保护套管、测试螺线管线圈、缠绕所述测试螺线管线圈的圆管；位于圆管孔内用于支撑测试管的管支架和测试管。本发明专利技术的极低频电波屏蔽测试装置屏蔽范围宽，整体密闭及屏蔽性能强，尤其对中低频段电波屏蔽效果好，适合专业实验室使用。

【技术实现步骤摘要】
一种极低频电波屏蔽测试装置
本专利技术涉及电波屏蔽领域，尤其涉及一种极低频电波屏蔽测试装置，用作卫星低频电磁波探测器的三维搜索线圈传感器上各线圈分量的电磁检测筛选试验。
技术介绍
低频电波屏蔽技术是指：利用良导电性物质的高电导率既等电位屏蔽体特性，形成电磁相对干净的空间区域，用于屏蔽特定空间区域外部交变电波对其内部产生的电波泄漏等干扰。对于10Hz量级的极低频电波，由于电波泄漏于屏蔽导体层内部的趋肤深度明显加大或面电流层明显加厚等不利因素，此时，电波屏蔽体不仅要有对通常交流屏蔽体非常良好的接地结构和极低的接地电阻等常规措施，还需采用多层或加厚的屏蔽体器壁及极高电导率的器壁导电材料，以避免较厚的低频趋肤面电流层透入到屏蔽体内部。在检测极微弱低频电波，特别是采用高导磁软磁芯的电磁线圈测量微弱低频电波时，此类电波屏蔽体尤为重要。在卫星空间探测时，由于所要检测的磁层空间电波极其微弱，要求采用的低频电波探测器具备极高的电磁灵敏度、分辨率以及长期工作稳定性等严格的技术指标和性能。因此在探测器设备研制过程的各环节或阶段中，需要针对不同项目、类型及性能要求对探测器进行多方面严格地检测和参数标定。但是，在目前试验室环境中，很难模拟出外层空间真实的物理环境及低干扰物理背景，而达到更高标准的严格指标检测更为困难。以背景低频电磁噪声小于10-5nT/(Hz)1/2的环境为例，为了实现对这一波段的低频电波探测器设备严格地检测与标定，需要具备对极低频电波进行屏蔽同时又能对探测器的传感器搜索线圈作基本测试、筛选及标定的装置，目前只能在实验室中采用非常规的金属屏蔽筒侧壁加厚的屏蔽方法来模拟实现满足这一电磁指标的空间环境。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，克服实验室实际环境中噪声背景对高灵敏度的低频电波探测器检测模拟空间中极低频电磁信号造成的干扰，从而提供一种极低频电波屏蔽测试装置。为实现上述专利技术目的，本专利技术的极低频电波屏蔽测试装置包括：电波屏蔽筒1和筒内测试线圈2，所述筒内测试线圈2位于所述电波屏蔽筒1内；所述电波屏蔽筒1包括：第一筒端盖1-1、第二筒端盖1-2、厚壁金属管1-3、螺杆1-4、双重孔盖1-5及屏蔽盖1-57；所述第一筒端盖1-1和所述第二筒端盖1-2位于所述厚壁金属管1-3的两端；所述双重孔盖1-5封闭所述第二筒端盖1-2，所述屏蔽盖1-57用于覆盖封闭所述双重孔盖1-5；将所述第一筒端盖1-1，所述厚壁金属管1-3和所述第二筒端盖1-2通过所述螺杆1-4固定成一体，形成极低频电波屏蔽测试装置的屏蔽空腔主体部分；所述筒内测试线圈2由外到内分布有支撑测试螺线管线圈2-1的盘支架2-2、位于测试螺线管线圈2-1外面的保护套管2-7、测试螺线管线圈2-1、缠绕所述测试螺线管线圈2-1的圆管2-6；位于所述圆管2-6孔内用于支撑测试管2-4的管支架2-5和测试管2-4；所述测试管2-4的长度大于所述测试螺线管线圈2-1的长度。上述技术方案中，所述第一筒端盖1-1沿中心轴线从内到外设有圆盆形凹槽1-11、环形凹槽1-12、螺孔1-13；所述第二筒端盖1-2从内到外设有通孔1-21，第一环形槽1-22、孔1-23；所述环形凹槽1-12的尺度和形状由所述厚壁金属管1-3的端部几何结构决定，所述环形凹槽1-12的凹槽深度不小于所述厚壁金属管1-3壁厚尺寸的1/2。上述技术方案中，所述双重孔盖1-5包括：第一级孔盖1-51和第二级孔盖1-55；所述第一级孔盖1-51上开设有第一级孔盖通孔1-53，第一级孔盖顶部1-52设有环绕第一级孔盖通孔1-53的第二环形槽1-54；所述第二级孔盖1-55设有信号线孔1-56。上述技术方案中，所述屏蔽盖1-57的侧壁上开有引线孔1-58；所述第一级孔盖顶部1-52上设有U型手柄1-59，所述U型手柄1-59中部设有旋钮1-510和中部螺孔1-511；所述旋钮1-510用于压紧屏蔽盖1-57。上述技术方案中，所述第二级孔盖1-55用于封闭所述第一级孔盖通孔1-53，所述屏蔽盖1-57用于覆盖封闭所述第二级孔盖1-55；所述U型手柄1-59的两底脚处设有同轴线的轴孔，所述第一级孔盖顶部1-52为圆柱体，其侧壁沿径向开设两个螺孔，这两个螺孔同轴线，两个螺孔的中心连线与所述第一级孔盖1-51中心轴线垂直相交，这两个螺孔用于装设贯穿所述U型手柄1-59两底脚处轴孔的固定螺栓1-512，所述第一级孔盖顶部1-52沿轴向开设供所述第二级孔盖1-55穿入的通孔。上述技术方案中，所述第一级孔盖1-51用于直接堵塞所述通孔1-21，所述第一级孔盖顶部1-52直径大于所述通孔1-21直径的1/3；所述第一级孔盖1-51和所述第二级孔盖1-55均是由其结构沿中心轴线的剖面成T形的同轴线不等径圆柱体构成，由直接堵塞开孔内的小直径圆柱体段上的矩形螺丝扣紧固。上述技术方案中，所述测试螺线管线圈2-1本体端部与所述第一筒端盖1-1和所述第二筒端盖1-2内壁之间间距不小于所述测试螺线管线圈2-1本体直径的1/2；所述第一级孔盖通孔1-53直径大于所述保护套管2-7的外径。本专利技术优点在于：1、本专利技术的极低频电波屏蔽测试装置结构设计合理、操作简便、适于长尺度的被测线轴检测；2、本专利技术的极低频电波屏蔽测试装置总体结构配合精度高、电磁密封性好、部件孔隙泄漏小，易于实现十赫兹级低频弱电波的高精度检测；3、本专利技术的极低频电波屏蔽测试装置屏蔽范围宽，整体密闭及屏蔽性能强，尤其对中低频段电波屏蔽效果好，适合专业实验室使用。4、本专利技术的极低频电波屏蔽测试装置有助于制作出高质量的星载低频电波探测器，此类探测器适合探测极其微弱的磁层空间电波。附图说明图1是本专利技术的极低频电波屏蔽测试装置的三维视图；图2是本专利技术的极低频电波屏蔽测试装置的电波屏蔽筒的三维视图；图3是本专利技术的极低频电波屏蔽测试装置的筒内测试线圈的三维视图；图4是本专利技术的极低频电波屏蔽测试装置的双重孔盖结构部件三维视图。附图标识：1电波屏蔽筒2筒内测试线圈3筒支架1-1第一筒端盖1-2第二筒端盖1-3厚壁金属管1-4螺杆1-5双重孔盖1-6信号线引出端3-1圆柱体3-2接地桩1-11圆盆形凹槽1-12环形凹槽1-13螺孔1-21通孔1-22第一环形槽1-23孔1-24螺帽1-51第一级孔盖1-52第一级孔盖顶部1-53第一级孔盖通孔1-54第二环形槽1-55第二级孔盖1-56信号线孔1-57屏蔽盖1-58引线孔1-59U型手柄1-510旋钮1-511中部螺孔1-512固定螺栓2-1测试螺线管线圈2-2盘支架2-3连结螺杆2-4测试管2-5管支架2-6圆管2-7保护套管具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术的极低电波屏蔽测试装置进行详细说明，并通过下述技术方案予以实现。如图1和图3所示，根据本专利技术的一个实施例的极低电波屏蔽测试装置包括：电波屏蔽筒1和筒内测试线圈2，其中筒内测试线圈2位于电波屏蔽筒1内。如图1和图4所示，电波屏蔽筒1包括：第一筒端盖1-1、第二筒端盖1-2、厚壁金属管1-3、螺杆1-4、双重孔盖1-5及屏蔽盖1-57；所述第一筒端盖1-1和所述第二筒端盖1-2位于所述厚壁金属管1-3的两端；所述双重孔盖1-5封闭所述第二筒端盖1-2，所述屏蔽盖1-57用于覆盖封闭所述双重孔本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种极低频电波屏蔽测试装置，该装置包括：电波屏蔽筒(1)和筒内测试线圈(2)，所述筒内测试线圈(2)位于所述电波屏蔽筒(1)内；所述电波屏蔽筒(1)包括：第一筒端盖(1‑1)、第二筒端盖(1‑2)、厚壁金属管(1‑3)、螺杆(1‑4)、双重孔盖(1‑5)和屏蔽盖(1‑57)；所述第一筒端盖(1‑1)和所述第二筒端盖(1‑2)位于所述厚壁金属管(1‑3)的两端；所述双重孔盖(1‑5)封闭所述第二筒端盖(1‑2)，所述屏蔽盖(1‑57)用于覆盖封闭所述双重孔盖(1‑5)；将所述第一筒端盖(1‑1)，所述厚壁金属管(1‑3)和所述第二筒端盖(1‑2)通过所述螺杆(1‑4)固定成一体，形成极低频电波屏蔽测试装置的屏蔽空腔主体部分；所述筒内测试线圈(2)由外到内分布有支撑测试螺线管线圈(2‑1)的盘支架(2‑2)、位于测试螺线管线圈(2‑1)外面的保护套管(2‑7)、测试螺线管线圈(2‑1)、缠绕所述测试螺线管线圈(2‑1)的圆管(2‑6)；位于所述圆管(2‑6)孔内用于支撑测试管(2‑4)的管支架(2‑5)和测试管(2‑4)；所述测试管(2‑4)的长度大于所述测试螺线管线圈(2‑1)的长度。

【技术特征摘要】
1.一种极低频电波屏蔽测试装置，该装置包括：电波屏蔽筒(1)和筒内测试线圈(2)，所述筒内测试线圈(2)位于所述电波屏蔽筒(1)内；所述电波屏蔽筒(1)包括：第一筒端盖(1-1)、第二筒端盖(1-2)、厚壁金属管(1-3)、螺杆(1-4)、双重孔盖(1-5)和屏蔽盖(1-57)；所述第一筒端盖(1-1)和所述第二筒端盖(1-2)位于所述厚壁金属管(1-3)的两端；所述双重孔盖(1-5)封闭所述第二筒端盖(1-2)，所述屏蔽盖(1-57)用于覆盖封闭所述双重孔盖(1-5)；将所述第一筒端盖(1-1)、所述厚壁金属管(1-3)和所述第二筒端盖(1-2)通过所述螺杆(1-4)固定成一体，形成极低频电波屏蔽测试装置的屏蔽空腔主体部分；所述筒内测试线圈(2)由外到内分布有支撑测试螺线管线圈(2-1)的盘支架(2-2)、位于测试螺线管线圈(2-1)外面的保护套管(2-7)、测试螺线管线圈(2-1)、缠绕所述测试螺线管线圈(2-1)的圆管(2-6)；位于所述圆管(2-6)孔内用于支撑测试管(2-4)的管支架(2-5)和测试管(2-4)；所述测试管(2-4)的长度大于所述测试螺线管线圈(2-1)的长度。2.根据权利要求1所述的极低频电波屏蔽测试装置，其特征在于，所述第一筒端盖(1-1)沿中心轴线从内到外设有圆盆形凹槽(1-11)、环形凹槽(1-12)和螺孔(1-13)；所述第二筒端盖(1-2)从内到外设有通孔(1-21)、第一环形槽(1-22)和孔(1-23)；所述环形凹槽(1-12)的尺度和形状由所述厚壁金属管(1-3)的端部几何结构决定，所述环形凹槽(1-12)的凹槽深度不小于所述厚壁金属管(1-3)壁厚尺寸的1/2。3.根据权利要求2所述的极低频电波屏蔽测试装置，其特征在于，所述双重孔盖(1-5)包括：第一级孔盖(1-51)和第二级孔盖(1-55)；所述第一级孔盖(1-51)上开设有第一级孔盖通孔(1-53)，...

【专利技术属性】
技术研发人员：董伟，沈超，陈涛，王乃泉，罗静，
申请(专利权)人：中国科学院空间科学与应用研究中心，
类型：发明
国别省市：北京;11