本实用新型专利技术属于测量工具领域，尤其涉及一种葡萄果粒粒径测量装置。所述装置包括主尺，主尺由两块第一支板和第一V型槽组成，第一V型槽长度方向两端分别与两块第一支板连接，主尺竖直截面呈M型，第一支板上设有长度衡量刻度。本实用新型专利技术结构简单，设计巧妙，一次精确测量多个葡萄果粒粒径，平均值计算方便，测量速度更快，效率高。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术属于测量工具领域，尤其涉及一种葡萄果粒粒径测量装置。所述装置包括主尺，主尺由两块第一支板和第一V型槽组成，第一V型槽长度方向两端分别与两块第一支板连接，主尺竖直截面呈M型，第一支板上设有长度衡量刻度。本技术结构简单，设计巧妙，一次精确测量多个葡萄果粒粒径，平均值计算方便，测量速度更快，效率高。【专利说明】一种葡萄果粒粒径测量装置
本技术属于测量工具领域，尤其涉及一种葡萄果粒粒径测量装置。
技术介绍
葡萄果实大小是其果实商品性的重要性状之一，也是葡萄育种家关心的重要性状之一。对于水果果实的大小测量，一般都使用游标卡尺测量单个果实的纵径和横径，这种测量方法不仅速度慢而且测量后需要对数据进行后期的平均化处理计算。目前关于葡萄果粒粒径的测量工作，主要使用普通直尺进行测量，如果数据要求精确的情况下只能依然使用游标卡尺，测量单个果粒，测量速度慢，效率低。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种葡萄果粒粒径测量装置。本技术结构简单，设计巧妙，一次精确测量多个葡萄果粒粒径，平均值计算方便，测量速度更快，效率高。 为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案如下: 一种葡萄果粒粒径测量装置，所述装置包括主尺，主尺由两块第一支板和第一 V型槽组成，第一 V型槽长度方向两端分别与两块第一支板连接，主尺竖直截面呈M型，第一支板上设有长度衡量刻度。 优选的，所述第一 V型槽的一端设有挡板。 优选的，第一 V型槽长度方向两端分别与两块第一支板平滑过渡连接。 优选的，所述装置还包括由两块第二支板和第二 V型槽组成的副尺，第二 V型槽长度方向两端分别与两块第二支板平滑过渡连接，副尺竖直截面呈M型，第二支板上设有长度衡量刻度，主尺的第一支板背向长度衡量刻度的一面设有滑动槽，副尺的两块第二支板分别与滑动槽滑动连接，第一 V型槽和第二 V型槽开口方向相同，设有长度衡量刻度的第一支板和和第二支板接触。 工作时，将多颗葡萄果粒依次放置于主尺的第一 V型槽内，调整葡萄果粒的位置，然后轻推最外侧的葡萄果粒，保证最内侧的葡萄果粒接触挡板且每个葡萄果粒相互接触以达到消除误差的目的，然后根据第一支板上的长度衡量刻度读数，得到多颗葡萄果粒的粒径和值，经过平均数计算即得葡萄果粒粒径的平均值。 当葡萄果粒粒径较大导致主尺长度不够时，可将副尺从主尺的下方沿滑动槽拉出，辅助主尺进行测量，根据主尺第一支板上长度衡量刻度的读数和第二支板上长度衡量刻度的读数和，得到多颗葡萄果粒粒径和值，经过平均数计算即得葡萄果粒粒径的平均值，当测量完毕后将副尺复位即可。 本技术同样适合大枣、核桃、板栗等果实大小的测量。 本技术与现有技术相比，具有如下优点: I)主尺和副尺的配合设计，满足了工作人员在现场测量工作的减负需求，一尺即可测量各个品种的葡萄果粒粒径； 2)主尺和副尺的竖直截面呈M型，葡萄果粒放置于V型槽内不易滚动，降低测量难度，提高测量效率； 3)主尺和副尺的V型槽和支板连接处平滑过渡，防止划伤葡萄果粒，进一步提高了测量数据的精确性并保证本技术的清洁度。 【专利附图】【附图说明】 图1为【具体实施方式】中葡萄果粒粒径测量装置的主尺立体结构示意图； 图2为【具体实施方式】中葡萄果粒粒径测量装置结构的俯视图； 图3为【具体实施方式】中葡萄果粒粒径测量装置的立体结构示意图。 【具体实施方式】 为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。 如图1-3所示，一种葡萄果粒粒径测量装置，所述装置包括主尺，主尺由两块第一支板4和第一 V型槽I组成，第一 V型槽I长度方向两端分别与两块第一支板4平滑过渡连接，主尺竖直截面呈M型，第一支板上设有长度衡量刻度3，第一 V型槽I的一端设有挡板2 ； 所述装置还包括由两块第二支板7和第二 V型槽6组成的副尺，第二 V型槽6长度方向两端分别与两块第二支板7平滑过渡连接，副尺竖直截面呈M型，第二支板7上设有长度衡量刻度8，主尺的第一支板4背向长度衡量刻度3的一面设有滑动槽5，副尺的两块第二支板7分别与滑动槽5滑动连接，第一 V型槽I和第二 V型槽6开口方向相同，设有长度衡量刻度3和长度衡量刻度8的第一支板4和和第二支板7接触。 工作时，将多颗葡萄果粒依次放置于主尺的第一 V型槽I内，调整葡萄果粒的位置，然后轻推最外侧的葡萄果粒，保证最内侧的葡萄果粒接触挡板2且每个葡萄果粒相互接触以达到消除误差的目的，然后根据第一支板4上的长度衡量刻度3读数，得到多颗葡萄果粒的粒径和值，经过平均数计算即得葡萄果粒粒径的平均值。 当葡萄果粒粒径较大导致主尺长度不够时，可将副尺从主尺的下方沿滑动槽拉出，辅助主尺进行测量，根据主尺第一支板4上长度衡量刻度3的读数和第二支板7上长度衡量刻度8的读数和，得到多颗葡萄果粒粒径和值，经过平均数计算即得葡萄果粒粒径的平均值，当测量完毕后将副尺复位即可。【权利要求】1.一种葡萄果粒粒径测量装置，其特征在于，所述装置包括主尺，主尺由两块第一支板和第一 V型槽组成，第一 V型槽长度方向两端分别与两块第一支板连接，主尺竖直截面呈M型，第一支板上设有长度衡量刻度。2.如权利要求1所述的一种葡萄果粒粒径测量装置，其特征在于，所述第一V型槽的一端设有挡板。3.如权利要求1所述的一种葡萄果粒粒径测量装置，其特征在于，第一V型槽长度方向两端分别与两块第一支板平滑过渡连接。4.如权利要求1-3任一所述的一种葡萄果粒粒径测量装置，其特征在于，所述装置还包括由两块第二支板和第二 V型槽组成的副尺，第二 V型槽长度方向两端分别与两块第二支板平滑过渡连接，副尺竖直截面呈M型，第二支板上设有长度衡量刻度，主尺的第一支板背向长度衡量刻度的一面设有滑动槽，副尺的两块第二支板分别与滑动槽滑动连接，第一 V型槽和第二 V型槽开口方向相同，设有长度衡量刻度的第一支板和和第二支板接触。【文档编号】G01N15/02GK204008385SQ201420344941【公开日】2014年12月10日 申请日期:2014年6月26日 优先权日:2014年6月26日 【专利技术者】刘崇怀, 姜建福, 樊秀彩, 张颖, 孙海生, 李民 申请人:中国农业科学院郑州果树研究所本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种葡萄果粒粒径测量装置，其特征在于，所述装置包括主尺，主尺由两块第一支板和第一V型槽组成，第一V型槽长度方向两端分别与两块第一支板连接，主尺竖直截面呈M型，第一支板上设有长度衡量刻度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘崇怀，姜建福，樊秀彩，张颖，孙海生，李民，
申请(专利权)人：中国农业科学院郑州果树研究所，
类型：新型
国别省市：河南;41
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