一种中心式快门闭合时间的检测方法技术

技术编号:10725046 阅读:308 留言:0更新日期:2014-12-04 01:57
一种中心式快门闭合时间的检测方法属于航空航天成像技术领域,方法包括:将中心式快门紧临面阵CCD有效感光区,快门前放置光源,快门开启后面阵CCD开始曝光,达到预设曝光时间后闭合并读取面阵CCD各像元灰度值。面阵CCD执行两次曝光成像,时间分别为t1及t2(t2>t1)。将第二次成像各像元灰度值减去第一次得到新图像数据。设新图像数据中与快门总通光区对应像元的灰度均值为gM,则面阵CCD像元的感光速度v可由计算。设快门开始闭合时快门通光区对应像元灰度均值为gB,失去曝光条件时通光区对应像元灰度均值为gN。快门从开始闭合到失去曝光条件的闭合时间tS可由计算。本中心式快门闭合时间检测方法简单,易于实施,快门闭合时间检测精度优于0.1ms。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】属于航空航天成像
,方法包括:将中心式快门紧临面阵CCD有效感光区,快门前放置光源,快门开启后面阵CCD开始曝光,达到预设曝光时间后闭合并读取面阵CCD各像元灰度值。面阵CCD执行两次曝光成像,时间分别为t1及t2(t2>t1)。将第二次成像各像元灰度值减去第一次得到新图像数据。设新图像数据中与快门总通光区对应像元的灰度均值为gM,则面阵CCD像元的感光速度v可由计算。设快门开始闭合时快门通光区对应像元灰度均值为gB,失去曝光条件时通光区对应像元灰度均值为gN。快门从开始闭合到失去曝光条件的闭合时间tS可由计算。本中心式快门闭合时间检测方法简单,易于实施,快门闭合时间检测精度优于0.1ms。【专利说明】—种中心式快门闭合时间的检测方法
本专利技术属于航空航天成像
,提供了一种镜间中心式快门闭合时间的检测方法。
技术介绍
中心式快门在航空立体测绘成像领域有着广泛应用。中心式快门的闭合时间影响航摄成像质量,是衡量中心式快门性能的重要指标,对相机最短有效曝光时间起决定性作用。中心式快门闭合过程检测通常采用光敏三极管,快门闭合过程中光敏三极管感光区接收到的光通量发生变化,导致光敏三极管输出电压变化,通过检测光敏三极管输出电压的变化来确定快门闭合过程,这种检测方法只能给出快门闭合的概略过程,难以确定快门失去曝光条件的准确时间。
技术实现思路
针对
技术介绍
存在的问题,本专利技术设计了一种中心式快门闭合时间的准确检测方法。本专利技术利用面阵CCD(光电耦合器件)检测快门闭合时间。在恒定均匀照度条件下,面阵CCD像元曝光量与曝光时间呈线性关系;在测得面阵CCD像元感光速度的条件下,根据快门闭合过程中通光区对应像元的曝光量,可计算出快门闭合的准确时间。 本专利技术解决技术问题所采用的技术方案如下: ,该方法包括如下设备:光源、中心式快门和面阵CCD,将待检测中心式快门紧临面阵CCD感光区放置,使快门与面阵CCD间紧密结合,无漏光区域;快门前放置均匀恒定照度光源,该方法包括如下步骤: 步骤一:面阵(XD第一次曝光时输出图像灰度值为Aij,曝光时间为h ;第二次曝光时输出图像灰度值为Bu,曝光时间为t2(t2 > h),设两次成像对应像元灰度值之差为Cij,即 Cij = Bij-Aij ; 步骤二:将Cij中数据按从大到小次序排列得到序列Mi ;设快门总通光区对应像元的数量为NT,NT可由JVr =「&/&]计算,其中「]为取整函数,St为快门总通光区面积,Sp为面阵CCD单个像元面积;序列Mi前Nt个数据为快门总通光区像元对应的灰度数据,gM取为序列Mi前Nt个数据的均值 【权利要求】1.,该方法包括如下设备:光源、中心式快门和面阵CCD,将待检测中心式快门紧临面阵CCD有效感光区放置,使快门与面阵CCD间紧密结合,无漏光区域;快门前放置均匀恒定照度光源,其特征在于,该方法包括如下步骤: 步骤一:面阵CCD第一次曝光时输出图像灰度值为Aij,曝光时间为h ;第二次曝光时输出图像灰度值为Bu,曝光时间为t2,其中t2 > h,设两次成像对应像元灰度值之差为Cij,即Cij = ; 步骤二:将Cu中数据按从大到小次序排列得到序列Mi ;设快门总通光区对应像元的数量为Nt, 乂可由乂=「&/6^~|计算,其中「I为取整函数,S1^快门总通光区面积,Sp为面阵CCD单个像元面积;序列Mi前Nt个数据为快门总通光区像元对应的灰度数据,gM取为序列Mi前Nt个数据的均值式可得出面阵CCD像元的感光速度V ; 步骤三:设快门闭合过程中通光区面积达到总通光区面积P%时失去曝光条件,快门失去曝光条件时通光区对应像元数量Ns可由A7s =「& Xp%/SP^计算; 步骤四JfAu中数据按从大到小顺序排列得到序列Ri ;快门失去曝光条件时通光区对应的Ns个像元的灰度值为序列Ri的前Ns个数据,快门失去曝光条件时通光区对应像元灰度值gN取力步骤五:快门刚开始闭合时通光区对应像元灰度值gB为快门总通光区边缘对应像元的 灰度值,gB可由可得到快门从开始闭合到失去曝光条件的准确闭合时间。2.如权利要求1所述的,其特征在于,步骤五中,将81<取为快门总通光区特定位置对应像元的灰度值,利用式可得出快门从开 始闭合到闭合至特定位置的时间。3.如权利要求1所述的,其特征在于,所述面阵CCD在开始曝光时清除各像元在曝光信号开启前所生成的光生电荷。【文档编号】G04F10/10GK104181805SQ201410320971【公开日】2014年12月3日 申请日期:2014年7月7日 优先权日:2014年7月7日 【专利技术者】杨永明, 赵嘉鑫, 李昕阳, 李文明 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种中心式快门闭合时间的检测方法,该方法包括如下设备:光源、中心式快门和面阵CCD,将待检测中心式快门紧临面阵CCD有效感光区放置,使快门与面阵CCD间紧密结合,无漏光区域;快门前放置均匀恒定照度光源,其特征在于,该方法包括如下步骤:步骤一:面阵CCD第一次曝光时输出图像灰度值为Aij,曝光时间为t1;第二次曝光时输出图像灰度值为Bij,曝光时间为t2,其中t2>t1,设两次成像对应像元灰度值之差为Cij,即Cij=Bij‑Aij;步骤二:将Cij中数据按从大到小次序排列得到序列Mi;设快门总通光区对应像元的数量为NT,NT可由计算,其中为取整函数,ST为快门总通光区面积,SP为面阵CCD单个像元面积;序列Mi前NT个数据为快门总通光区像元对应的灰度数据,gM取为序列Mi前NT个数据的均值gM=1NT×Σi=1i=NTMi,]]>利用式可得出面阵CCD像元的感光速度v;步骤三:设快门闭合过程中通光区面积达到总通光区面积p%时失去曝光条件,快门失去曝光条件时通光区对应像元数量NS可由计算;步骤四:将Aij中数据按从大到小顺序排列得到序列Ri;快门失去曝光条件时通光区对应的NS个像元的灰度值为序列Ri的前NS个数据,快门失去曝光条件时通光区对应像元灰度值gN取为步骤五:快门刚开始闭合时通光区对应像元灰度值gB为快门总通光区边缘对应像元的灰度值,gB可由Ri式计算;利用可得到快门从开始闭合到失去曝光条件的准确闭合时间。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨永明赵嘉鑫李昕阳李文明
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
类型:发明
国别省市:吉林;22

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