发光二极管响应特性的测试系统及方法技术方案

本发明专利技术提供了一种发光二极管响应特性的测试系统及方法。该测试系统包括：计算机调制模块，用于下发脉冲电压参数，并对接收到的光响应和电响应数据进行分析；脉冲电压产生模块，连接至计算机调制模块，用于依照计算机调制模块下发的脉冲电压参数，产生脉冲电压，并将该脉冲电压加载至待测试的发光二极管；以及数据采集模块，用于采集待测试的发光二极管的光响应和电响应数据，并将该光响应和电响应数据上传至计算机调制模块；其中，待测试的发光二极管，连接至脉冲电压产生模块，其在脉冲电压产生模块产生的脉冲电压的驱动下发光。本实施例能够实现脉冲电压下发光二极管光响应及电响应的同时快速测定。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了一种。该测试系统包括：计算机调制模块，用于下发脉冲电压参数，并对接收到的光响应和电响应数据进行分析；脉冲电压产生模块，连接至计算机调制模块，用于依照计算机调制模块下发的脉冲电压参数，产生脉冲电压，并将该脉冲电压加载至待测试的发光二极管；以及数据采集模块，用于采集待测试的发光二极管的光响应和电响应数据，并将该光响应和电响应数据上传至计算机调制模块；其中，待测试的发光二极管，连接至脉冲电压产生模块，其在脉冲电压产生模块产生的脉冲电压的驱动下发光。本实施例能够实现脉冲电压下发光二极管光响应及电响应的同时快速测定。【专利说明】
本专利技术涉及光电子器件的测量领域，具体涉及一种。
技术介绍
发光二极管是一种能将电能转化为光能的半导体二极管，包括由无机材料组成的无机电致发光二极管(LED)及由有机材料组成的有机电致发光二极管(OLED)。发光二极管具有体积小，工作电压低，工作电流小，发光均匀稳定、响应速度快、高效节能、无污染、发光波长可调等优点。在照明及显示等领域已经被广泛应用，并且在快速响应系统中广泛的应用前景。 在显示应用领域，发光二极管的电压响应特性是一重要参数，发光二极管的光响应及电响应特性分别影响了显示器件的显示效果及寿命，从而直接决定显示器的优劣。但是，目前已有的对发光二极管的响应特性的测试方法不够系统完善，不能够很好的同时测定发光二极管的光响应及电响应特性；而分开测量发光二极管在脉冲电压下的光响应及电响应不仅效率低更会引入较大的测量误差。因此，如何同时实现对发光二极管光响应及电响应准确、快速、定量测定成为亟待解决的问题。
技术实现思路
(一 )要解决的技术问题 鉴于上述技术问题，本专利技术提供了一种，以实现对发光二极管光响应及电响应的同时测量。 ( 二 )技术方案 根据本专利技术的一个方面，提供了一种发光二极管响应特性的测试系统。该测试系统包括:计算机调制模块1，用于下发脉冲电压参数，并对接收到的光响应和电响应数据进行分析；脉冲电压产生模块2，连接至计算机调制模块1，用于依照计算机调制模块I下发的脉冲电压参数，产生脉冲电压，并将该脉冲电压加载至待测试的发光二极管3 ;以及数据采集模块4，用于采集待测试的发光二极管3的光响应和电响应数据，并将该光响应和电响应数据上传至计算机调制模块I ;其中，待测试的发光二极管3，连接至脉冲电压产生模块2，其在脉冲电压产生模块2产生的脉冲电压的驱动发光。 优选地，本专利技术发光二极管响应特性的测试系统中，数据采集模块4包括:采样电阻，与发光二极管3串联，其一端电性连接至发光二极管的输出端，另一端接地；光电探测器，其响应波长与发光二极管发射光波长相匹配，其光学探头朝向发光二极管3的出光侧；以及采样示波器，其时钟端口与脉冲电压产生模块2的时钟端口相连接，其第一输入端与光电探测器的信号输出端相连接，其第二输入端连接至发光二极管与采样电阻之间的电路节点，其信号输出端与计算机调制模块I相连接，用于实现对第一输入端和第二输入端输出信号的采样，并将采样产生的数据传送至计算机调制模块I。 根据本专利技术的一个方面，提供了一种应用上述测试系统进行发光二极管响应特性测试的方法。该方法包括:步骤A:搭建测试系统并调节光路，使得待测试发光二极管3发射的光可以被数据采集模块4中的光电探测器采集；步骤B:设置计算机调制模块I输出指令，调制脉冲电压产生模块2产生具有一定波形、频率、强度、脉宽或连续变化的脉冲电压；步骤C:脉冲电压产生模块2接收计算机调制模块I的脉冲电压输出调制指令，并按计算机调制模块I的指令输出相应脉冲电压，输出的脉冲电压加载到发光二极管3，同时脉冲电压的时钟信息被数据采集模块4中的采样示波器采集记录作为校准曲线；步骤D:发光二极管3受脉冲电压产生模块2输出的脉冲电压驱动发光，并使电路中产生具有一定波形的电流；步骤E数据采集模块4中的光电探测器采集发光二极管3发射出光信号，得到发光二极管的光信号响应数据，并输入到采样示波器；同时，采样示波器采集采样电阻两端分压，得到发光二极管的电响应数据；采样示波器将采集到的光信号响应数据和电响应数据实时输入到计算机调制模块I ;以及步骤F:计算机调制模块I对应采样示波器的输出数据实时记录并处理分析，得到发光二极管3的光响应及电响应特性。 (三)有益效果 从上述技术方案可以看出，本专利技术不仅能够实现脉冲电压下发光二极管光响应及电响应的同时快速测定，而且能够轻松实现不同脉冲电压信号下发光二极管光响应及电响应的自动化检测；通过计算机调制模块的处理分析，不仅可以得到光响应及电响应特性等信息，而且可以实现对电响应的电流的定量及光响应的相对强度测定，对进一步研究发光二极管的发光机理及应用具有重要意义。 【专利附图】【附图说明】 图1为根据本专利技术实施例发光二极管响应特性测试系统的结构示意图； 图2为图1所示发光二极管响应特性测试系统中有机发光二极管的截面结构示意图； 图3为图1所示发光二极管响应特性测试系统中发光二极管及数据采集模块电路连接示意图； 图4为利用图1所示发光二极管响应特性测试系统进行测试获得的发光二极管光响应及电响应曲线。 【本专利技术主要元件符号说明】 1-计算机调制模块；2-脉冲电压产生模块； 3-发光二极管；4-数据采集模块。 【具体实施方式】 为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本专利技术进一步详细说明。需要说明的是，在附图或说明书描述中，相似或相同的部分都使用相同的图号。附图中未绘示或描述的实现方式，为所属
中普通技术人员所知的形式。另外，虽然本文可提供包含特定值的参数的示范，但应了解，参数无需确切等于相应的值，而是可在可接受的误差容限或设计约束内近似于相应的值。实施例中提到的方向用语，例如“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等，仅是参考附图的方向。因此，使用的方向用语是用来说明并非用来限制本专利技术的保护范围。 本专利技术提供了一种，能够实现对发光二极管响应特性的光响应及电响应的同时、快速、定量检测及实时数据的记录与处理分析，检测效率高，准确性高并且能够实现自动化测试。 在本专利技术的一个示例性实施例中，提供了一种发光二极管响应特性的测试系统。图1为根据本专利技术实施例发光二极管响应特性测试系统的结构示意图。如图1所示，本实施例发光二极管响应特性的测试系统包括:计算机调制模块1，用于下发脉冲电压参数，并对接收到的光响应和电响应数据进行分析；脉冲电压产生模块2，连接至计算机调制模块1，用于依照计算机调制模块I下发的脉冲电压参数，产生脉冲电压，并将该脉冲电压加载至待测试的发光二极管3 ;数据采集模块4，用于采集待测试发光二极管3的光响应和电响应数据，并将该光响应和电响应数据发送至计算机调制模块I。其中，发光二极管3，连接至脉冲电压产生模块2，其在脉冲电压产生模块产生的脉冲电压的驱动下发光。 以下对本实施例发光二极管响应特性的测试系统的各个组成部分进行详细说明。 本实施例中，计算机调制模块(I)设定脉冲电压输出指令为:脉冲电压波形为矩形波形，脉冲强度为13.0V，脉冲频率为33Hz，脉冲宽度为16 μ S。 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种发光二极管响应特性的测试系统，其特征在于，包括：计算机调制模块(1)，用于下发脉冲电压参数，并对接收到的光响应和电响应数据进行分析；脉冲电压产生模块(2)，连接至所述计算机调制模块(1)，用于依照所述计算机调制模块(1)下发的脉冲电压参数，产生脉冲电压，并将该脉冲电压加载至待测试的发光二极管(3)；以及数据采集模块(4)，用于采集待测试的发光二极管(3)的光响应和电响应数据，并将该光响应和电响应数据上传至所述计算机调制模块(1)；其中，待测试的发光二极管(3)，连接至所述脉冲电压产生模块(2)，其在所述脉冲电压产生模块(2)产生的脉冲电压的驱动下发光。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：牛立涛，关敏，楚新波，李弋洋，曾一平，
申请(专利权)人：中国科学院半导体研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11