利用分布式直流电场同时测定颗粒物的淌度和介电淌度的方法技术

技术编号:10599465 阅读:207 留言:0更新日期:2014-10-30 13:12
本发明专利技术公开一种利用分布式直流电场同时测定颗粒物的淌度和介电淌度的方法。本发明专利技术通过设计电泳通道结构使外加直流电场出现分布区域,引起颗粒物电泳和介电电泳耦合迁移,再由显微成像系统记录颗粒物的耦合运动轨迹与速度,最后通过速度矢量分解或数据拟合等方法来计算出每个颗粒物的淌度和介电淌度。由此结合统计分析,可得到同类颗粒物的平均淌度和平均介电淌度。通过本发明专利技术的测定结果,将有助于更准确地研究细胞等颗粒物的表面电荷性质和分子识别的特性;就细胞而言,还可以帮助预测细胞捕获、分选、富集等过程中细胞的运动轨迹,或优化电泳系统特别是通道形状的设计;同时本发明专利技术也提供了一种新的表征分类颗粒物的新参数。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开一种。本专利技术通过设计电泳通道结构使外加直流电场出现分布区域,引起颗粒物电泳和介电电泳耦合迁移,再由显微成像系统记录颗粒物的耦合运动轨迹与速度,最后通过速度矢量分解或数据拟合等方法来计算出每个颗粒物的淌度和介电淌度。由此结合统计分析,可得到同类颗粒物的平均淌度和平均介电淌度。通过本专利技术的测定结果,将有助于更准确地研究细胞等颗粒物的表面电荷性质和分子识别的特性;就细胞而言,还可以帮助预测细胞捕获、分选、富集等过程中细胞的运动轨迹,或优化电泳系统特别是通道形状的设计;同时本专利技术也提供了一种新的表征分类颗粒物的新参数。【专利说明】利用分布式直流电场同时测定颗粒物的淌度和介电淌度的 方法
本专利技术涉及一种同时测定颗粒物的淌度和介电淌度的方法,具体涉及一种利用分 布式直流电场同时测定颗粒物的淌度和介电淌度的方法。
技术介绍
细胞等颗粒物的淌度可用来表征颗粒物表面电荷,是研究细胞等颗粒物表面结构 和功能的一个重要物理参数。在非均匀电场中,细胞等颗粒物除了受到直流电场力的作用 夕卜,还存在非均匀电场的极化作用或介电作用力,进而出现介本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用分布式直流电场同时测定颗粒物的淌度和介电淌度的方法,包括以下步骤:(1)制作电泳通道,所述电泳通道能够形成不均匀直流电场;在所述电泳通道的端部设置电解槽;(2)对所述电泳通道的内壁进行共价或非共价化学修饰,以消除电渗;(3)将所述电解槽与直流电源相连接,构成电泳系统;将所述电泳系统置于显微录像观测平台上,并将所述电泳通道产生不均匀直流电场的部分调整到显微视野中;(4)向一个所述电解槽中加入颗粒悬浮液,并使颗粒流至显微视野中;向其余所述电解槽中加入背景电解质溶液,并流入所述电泳通道中;控制所述电解槽中的液面高度相等;(5)在放置所述悬浮颗粒物的所述电解槽和相对设置的所述电解槽之间施加直流...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈义朱秀珍
申请(专利权)人:中国科学院化学研究所
类型:发明
国别省市:北京;11

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