基于嵌入式的三维测量结构光实时编码器制造技术

技术编号:10582600 阅读:141 留言:0更新日期:2014-10-29 13:24
基于嵌入式的三维测量结构光实时编码器。三维非接触式扫描系统具有扫描时间短,精确度高、测量部位多等多种优于传统测量技术和工具的特点,因此发展较快。本实用新型专利技术组成包括:图像采集系统,所述的图像采集系统(2)与FPGA器件(1)连接,所述的FPGA器件总线与时钟芯片(3)连接,所述的FPGA器件与D/A芯片(4)连接,所述的D/A芯片与VGA接口(5)连接。本实用新型专利技术用于基于嵌入式的三维测量结构光实时编码器。(*该技术在2024年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】基于嵌入式的三维测量结构光实时编码器。三维非接触式扫描系统具有扫描时间短,精确度高、测量部位多等多种优于传统测量技术和工具的特点,因此发展较快。本技术组成包括:图像采集系统,所述的图像采集系统(2)与FPGA器件(1)连接,所述的FPGA器件总线与时钟芯片(3)连接,所述的FPGA器件与D/A芯片(4)连接,所述的D/A芯片与VGA接口(5)连接。本技术用于基于嵌入式的三维测量结构光实时编码器。【专利说明】基于嵌入式的三维测量结构光实时编码器
: 本技术涉及一种基于嵌入式的三维测量结构光实时编码器。
技术介绍
: 1985年,位于德国Munich-Karlsfeld的M. A. N.光学测量技术中心率先利用相移 干涉法(Phase Shift Interferometry, PSI)实现了变形测量和振动分析。1986年,该中 心的研究人员Dr. Breuckmann将PSI技术引入三维形貌测量,形成了一种新的三维形貌测 量技术:相位测量轮廓术(PMP)。并成立了自己的实验室,专门从事此方面技术的研究,近 20年来相继推出了不同型号的测量系统本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于嵌入式的三维测量结构光实时编码器,其组成包括:图像采集系统,其特征是:所述的图像采集系统与FPGA器件连接,所述的FPGA器件内部包括通信模块、光栅生成模块、D/A控制模块、内部RAM模块、总线,所述的通信模块通过总线与所述的内部RAM模块连接,所述的光栅生成模块通过总线与D/A控制模块连接,所述的D/A控制模块与D/A芯片连接,所述的D/A芯片与VGA接口连接,所述的通信模块与图像采集系统连接,所述的总线与时钟芯片连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王刚吴冈石磊朱明清陈庆文孙凯明甄海涛聂洪淼
申请(专利权)人:黑龙江省科学院自动化研究所
类型:新型
国别省市:黑龙江;23

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