【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种高分辨率和高信噪比的X射线成像系统，其特征在于，包括：狭缝，用于在垂直于狭缝方向形成发光样品的一维高分辨率图像，利用在平行于狭缝方向扩展的通光面积获得高信噪比；线像素探测器阵列，平行于狭缝，用于在垂直于线像素探测器的方向上，探测光强的空间位置的变化，采集所述发光样品的一维高分辨率图像；旋转装置，用于承载狭缝和线像素探测器阵列，能够以狭缝中心和线像素探测器阵列中心连线为轴，同步旋转狭缝和线像素探测器阵列。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：朱佩平，
申请(专利权)人：中国科学院高能物理研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11
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