导热温度测试比较仪制造技术

本发明专利技术公开了一种导热温度测试比较仪，要解决的技术问题是缩短测量时间，方便两种产品间的对比而且便于携带。本发明专利技术包括恒温加热平台，所述恒温加热平台的上端设有活动连接的温度取样装置，所述温度取样装置包括一个基座，所述基座的下端设有两个以上的导热片，导热片分别与数量和导热片数量相等的热电温度计连接，所述热电温度计的热电偶分别从基座的外部插入基座内并且分别与导热片接触，热电偶经热电温度计的补偿导线与测温仪表连接。与现有技术相比，采用同时进行采样，而且采用的是两个导热胶/脂一个“面”瞬间传导温度的温度值，这样不仅测量时间短，而且方便两种产品间的对比，准确度高；而且其结构简单，生产成本低。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种导热温度测试比较仪，要解决的技术问题是缩短测量时间，方便两种产品间的对比而且便于携带。本专利技术包括恒温加热平台，所述恒温加热平台的上端设有活动连接的温度取样装置，所述温度取样装置包括一个基座，所述基座的下端设有两个以上的导热片，导热片分别与数量和导热片数量相等的热电温度计连接，所述热电温度计的热电偶分别从基座的外部插入基座内并且分别与导热片接触，热电偶经热电温度计的补偿导线与测温仪表连接。与现有技术相比，采用同时进行采样，而且采用的是两个导热胶/脂一个“面”瞬间传导温度的温度值，这样不仅测量时间短，而且方便两种产品间的对比，准确度高；而且其结构简单，生产成本低。【专利说明】
本专利技术涉及一种温度测试仪，特别是一种用于测量导热胶/脂的导热温度的导热 温度测试比较仪。 导热温度测试比较仪
技术介绍
目前，市面上所使用的测量导热胶/脂导热温度的测试仪器仅用于测量自身的导 热温度，不能进行两种不同导热温度的导热胶/脂进行同时对比，导致需要分两次进行测 量，不仅其体积大，不便于携带，而便于携带的导热仪且因为其结构复杂，导致售价高昂；而 自身带有加热功能，由于加热的时间长，温度不稳定，需要很长的测量时间；而采用针式探 测头方式采集温度的，是将针式探测头插入导热胶/脂内部进行测量，这样的测量方式，需 要人工手持两个探测头或者放入容器中进行加热，其测量导热胶/脂的是类似于一个"点" 的温度值，这样在测量的过程中，测量得到的温度值准确度不高，这样容易造成结果误差 大，无法能够准确的得出测试结果。 【专利技术内容】 本专利技术的目的是提供一种导热温度测试比较仪，要解决的技术问题是缩短测量时 间，方便两种产品间的对比而且便于携带。 为解决上述问题，本专利技术采用以下技术方案实现：一种导热温度测试比较仪，所 述导热温度测试比较仪包括恒温加热平台，所述恒温加热平台的上端设有活动连接的温度 取样装置，所述温度取样装置包括一个基座，所述基座的下端设有两个以上的导热片，导热 片分别与数量和导热片数量相等的热电温度计连接，所述热电温度计的热电偶分别从基座 的外部插入基座内并且分别与导热片接触，热电偶经热电温度计的补偿导线与测温仪表连 接。 本专利技术所述的基座由上座和下座组成，所述下座上设有数量与导热片数量相等并 且贯穿下座的上端面与下端面的第一通孔，导热片分别卡嵌在第一通孔内；所述导热片的 下端面与第一通孔的下端孔口之间留有间隙；在下座的一侧侧面上设有分别与第一通孔连 通的第二通孔，第二通孔的孔径小于第一通孔的孔径，所述热电偶经第二通孔伸入第一通 孔内并且与导热片的上端面接触。 本专利技术所述的上座上设有分别与第一通孔连通的第三通孔。 本专利技术所述的第三通孔内设有上端具有开口且内部中空的导热杆，所述导热杆插 接在第三通孔内，所述导热杆的下端与导热片相互接触。 本专利技术所述的导热片设有两个。 本专利技术所述的第一通孔的下端、下座上设有与第一通孔同轴且连通的第四通孔， 第四通孔的孔径小于第一通孔的孔径。 本专利技术所述的导热片的上端、第一通孔内设有外径与第一通孔孔径相等并且中空 的固定柱，所述固定柱的内径大于导热杆的外径。 toon] 本专利技术所述的下座的下端、两个第四通孔外分别设有一周环形溢流槽，两个环形 溢流槽相互连通形成一个字形，所述环形溢流槽的内环径大于第四通孔的孔径。 本专利技术所述的两个第一通孔的孔心之间的距离为415mm;第一通孔的孔径为 200mm ;第三通孔的孔径为85mm ;第四通孔的孔径为180mm ;基座的长为818-822mm、宽为 408_412mm、高 386_394mm，间隙的高度为 30mm。 本专利技术所述的恒温加热平台的上端坚向设有两根导轨，在导轨上设有导槽，所述 基座设置在两根导轨之间，所述上座的两侧通过不脱出螺钉活动连接在导轨上。 本专利技术与现有技术相比，采用两个以上的导热片以及热电温度计分别对不同的导 热胶/脂同时在同一个恒温加热平台上进行导热温度的测量，由于是同时进行采样，而且 采用的是两个导热胶/脂一个"面"瞬间传导温度的温度值，这样不仅测量时间短，而且方 便两种产品间的对比，准确度高；而且其结构简单，生产成本低。 【专利附图】【附图说明】 图1是本专利技术的立体结构示意图。 图2是本专利技术基座的底部结构不意图。 图3是本专利技术第一种基座的结构示意图。 图4-1是图3沿A-A方向的剖视图。 图4-2是图3沿C-C方向的剖视图。 图5是本专利技术第二种基座的结构示意图。 图6-1是图5沿B-B方向的剖视图。 图6-2是图5沿D-D方向的剖视图。 图7是本专利技术固定柱与导热片的连接结构示意图。 图8是本专利技术导轨与基座以及恒温加热平台之间的连接结构示意图。 图9是本专利技术导热杆的结构示意图。 【具体实施方式】 下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步详细说明。 如图1和图2所示，本专利技术的导热温度测试比较仪包括一个恒温加热平台1，该恒 温加热平台1可以采用现有技术中的恒温加热平台；在恒温加热平台1的平台加热面上设 有一个活动连接的温度取样装置2 ; 所述温度取样装置2包括一个基座3,基座3为圆柱形或者是立方体形状，此处基 座3为立方体形状；所述基座3采用隔热材料制成，在基座3的下端设有两个以上的导热片 4,使温度取样的方式是导热片先对导热胶/脂的上端面以"面"接触的形式对导热胶/脂 的温度进行吸收后，再通过热电温度计5进行取样，在本实施例中，导热片4为两个，而两个 导热片4分别与两个热电温度计5连接； 由于两个导热片4与两个热电温度计5的连接结构是相同的，因此，这里仅对其中 一组导热片4和热电温度计5的连接结构进行描述； 热电温度计5的热电偶6分别从基座3的外部插入基座3内并且分别与导热片4 接触，热电偶6经热电温度计4的补偿导线7与测温仪表8连接。 如图3、图4-1和图7所示，基座3是由上座10和下座11组成，两者之间通过在四 个对角位置上设置圆柱头内六角螺钉连接固定，在下座11上设有两个相邻并且贯穿下座 11上端面与下端面的第一通孔12,当导热片4设有四个以上时，采用矩形阵列的方式对第 一通孔12进行排列；在第一通孔12的下端、下座11上设有与第一通孔12连通且孔径小于 第一通孔12孔径的第四通孔17,第四通孔17与第一通孔12同轴设置，因此，第一通孔12 与第四通孔17之间形成阶梯状结构，两个导热片4分别从第一通孔12装入，导热片4的下 端面靠近边缘处与该阶梯状结构接触，从而使导热片4被固定在第一通孔12内，当导热片 4装入第一通孔12内时，导热片4的下端面与第一通孔12的下端孔口之间留有间隙13,所 述间隙13的高度为第四通孔17的长度；当导热片4插入第一通孔12内后，导热片4的下 端面与第四通孔17之间形成用于容纳导热胶/脂的间隙13,这样可以保证测量的准确性； 在下座11的一侧侧面上设有两个分别与两个第一通孔12连通的第二通孔9,在导热片4的 上端、第一通孔12内设有外径与第一通孔12孔径相等并且中空的固定柱21，固定柱21的 上下两端均具有开口，当固定柱21插入本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种导热温度测试比较仪，其特征在于：所述导热温度测试比较仪包括恒温加热平台(1)，所述恒温加热平台(1)的上端设有活动连接的温度取样装置(2)，所述温度取样装置(2)包括一个基座(3)，所述基座(3)的下端设有两个以上的导热片(4)，导热片(4)分别与数量和导热片(4)数量相等的热电温度计(5)连接，所述热电温度计(5)的热电偶(6)分别从基座(3)的外部插入基座(3)内并且分别与导热片(4)接触，热电偶(6)经热电温度计(4)的补偿导线(7)与测温仪表(8)连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈博捷，
申请(专利权)人：陈博捷，
类型：发明
国别省市：广东;44