一种电子分析天平微量加载与漂移判别方法技术

本发明专利技术公开了一种电子分析天平微量加载与漂移判别方法，以解决电子分析天平微量加载与漂移的技术难点。该发明专利技术包括如下步骤：a)对温度传感器输出的温度数据进行补偿；b)利用补偿后的温度数据对零点漂移量和灵敏度系数进行校正；c)利用质量采样数据、零点漂移量和灵敏度系数计算质量；d)根据质量的变化速率对微量加载和漂移进行判别。本发明专利技术方法可以快速区分漂移与加载。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了，以解决电子分析天平微量加载与漂移的技术难点。该专利技术包括如下步骤：a)对温度传感器输出的温度数据进行补偿；b)利用补偿后的温度数据对零点漂移量和灵敏度系数进行校正；c)利用质量采样数据、零点漂移量和灵敏度系数计算质量；d)根据质量的变化速率对微量加载和漂移进行判别。本专利技术方法可以快速区分漂移与加载。【专利说明】
本专利技术属于信号处理
，涉及一种电子分析天平微量加载与漂移判别方 法。 -种电子分析天平微量加载与漂移判别方法
技术介绍
电子分析天平是一种高精度质量计量仪器，是广泛应用于国防、科研、工厂、实验 室的质量计量标准器具，具有称量准确度高、稳定性好、响应速度快等特点。工作环境温度 变化使天平示值发生缓慢变化，即漂移现象，在一定时间段内因漂移造成的质量变化与微 量加载难以区分。因此，微量加载与漂移判别方法是实现电子分析天平快速、准确称量的关 键技术。
技术实现思路
为了克服现有技术中存在的缺陷，温度变化速率较快时，漂移质量变化速率可能 超过微量加载质量变化速率，需先对温度进行补偿后再判别微量加载与本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子分析天平微量加载与漂移判别方法，其特征在于，包括以下步骤：a)对温度传感器输出的温度数据进行补偿；b)利用补偿的温度数据对零点漂移量和灵敏度系数进行校正；c)利用采样数据、零点漂移量和灵敏度系数计算质量；d)根据质量的变化速率对微量加载和漂移进行判别。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：滕召胜，黄强，唐享，蒋婷，任亚奇，
申请(专利权)人：湖南大学，
类型：发明
国别省市：湖南;43