【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及微波真空电子器件
,尤其涉及一种对小尺寸带状注速调管中 间谐振腔进行冷测的装置与方法。
技术介绍
在速调管中,谐振腔特性关系到速调管的输出功率和工作带宽等工作特性,冷测 技术能够反映谐振腔特性,是验证设计的重要手段。速调管的输入谐振腔和输出谐振腔可 以采用端口法或者探针法测试其谐振特性,速调管的中间谐振腔与外部无耦合,通常采用 探针法测试。 速调管的高频率和紧凑型是目前的发展趋势,高频率的速调管谐振腔和电子注 通道尺寸变得越来越小。W波段速调管的电子注通道直径或者矩形通道的高度通常小于 1_,如美国加利福尼亚大学戴维斯分校研制的W波段带状注速调管的电子注通道高度仅 为 0· 72mm。 在现有的谐振腔特性测试技术中,端口法测试是基于矢量网络分析仪的一种测试 方法,这种方法能直观的反映出谐振腔的谐振频率和外品质因子,操作简单。探针法测试是 将探针插入速调管的电子注通道,由扫频信号源产生的扫频信号通过源探针在谐振腔间隙 上激励起高频场,再通过接收探针,经检波器将谐振腔间隙电场的幅度随频率变化显示在 示波器上。探针法测试需要满足条件的探针和设备,但是直径小于1_的探针在国内还无 法获取。 输入谐振腔和输出谐振腔的测试都能够采用单端口法进行测试,通过测试该端口 的群时延曲线就能反映出该谐振腔的特性,若中间谐振腔也采用该方法进行测试,将降低 成本,并简化测试装置。 然而,在实现本专利技术的过程中, 申请人:发现由于带状注速调管中间谐振腔没有测 试端口,导致无法采用端口法对其进行冷测,以得到频率特 ...
【技术保护点】
一种对带状注速调管中间谐振腔进行冷测的装置,其特征在于:所述带状注速调管中间谐振腔包括:谐振腔本体(60),在其内部形成有前后开口的中间谐振腔(10);所述中间谐振腔(10)两侧开设直至所述谐振腔本体(60)两侧的通孔,其中,第一侧通孔的截面尺寸等于中间谐振腔相邻部位的截面尺寸,第二侧通孔在中间谐振腔的第二侧形成台阶;所述装置包括:调谐销钉(30),其窄端插入所述中间谐振腔(10)的第一侧的通孔内,构成所述中间谐振腔(10)的一个腔壁,其宽端与步进电机连接,所述步进电机带动该调谐销钉(30)左右移动,所述中间谐振腔(10)的体积随插入深度而改变;测试输出法兰(20),固定于所述谐振腔本体(60)的第二侧,其第一侧为矩形台阶,插入所述谐振腔本体(60)的第二侧并沉槽至底部,该测试输出法兰(20)的中心具有与所述中间谐振腔(10)第二侧通孔横截面尺寸相同的波导孔(21),该波导孔(21)的第一侧对准所述中间谐振腔(10);以及矢量网络分析仪,其测试端口连接至所述测试输出法兰(20)中心波导孔的第一侧,通过所述波导孔(21)对所述中间谐振腔(10)进行测试。
【技术特征摘要】
1. 一种对带状注速调管中间谐振腔进行冷测的装置,其特征在于: 所述带状注速调管中间谐振腔包括:谐振腔本体¢0),在其内部形成有前后开口的中 间谐振腔(10); 所述中间谐振腔(10)两侧开设直至所述谐振腔本体¢0)两侧的通孔,其中,第一侧通 孔的截面尺寸等于中间谐振腔相邻部位的截面尺寸,第二侧通孔在中间谐振腔的第二侧形 成台阶; 所述装置包括: 调谐销钉(30),其窄端插入所述中间谐振腔(10)的第一侧的通孔内,构成所述中间谐 振腔(10)的一个腔壁,其宽端与步进电机连接,所述步进电机带动该调谐销钉(30)左右移 动,所述中间谐振腔(10)的体积随插入深度而改变; 测试输出法兰(20),固定于所述谐振腔本体¢0)的第二侧,其第一侧为矩形台阶,插 入所述谐振腔本体¢0)的第二侧并沉槽至底部,该测试输出法兰(20)的中心具有与所述 中间谐振腔(10)第二侧通孔横截面尺寸相同的波导孔(21),该波导孔(21)的第一侧对准 所述中间谐振腔(10);以及 矢量网络分析仪,其测试端口连接至所述测试输出法兰(20)中心波导孔的第一侧,通 过所述波导孔(21)对所述中间谐振腔(10)进行测试。2. 根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述中间谐振腔(10)第二侧通孔的高度 大于所述中间谐振腔(10)相邻部位的高度,宽度小于所述中间谐振腔(10)相邻部位的宽 度,从而在该侧形成台阶。3. 根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括:装夹模具组件(40); 所述测试输出法兰(20)通过该装夹模具组件(40)固定于所述谐振腔本体(60)的第 二侧。4. 根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述装夹模具组件(40)包括: 左夹板组合和右夹板组合,每一夹板组合均由2个U型夹板相对设置并通过上下2第 二拉杆固定连接,其中部形成一方孔; 2个第一拉杆,所述左夹板组合和右夹板组合分别...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨修东,阮存军,张长青,王树忠,
申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所,
类型:发明
国别省市:北京;11
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