TOFD试块多通道序贯自动扫查机构制造技术

本发明专利技术涉及到一种TOFD试块多通道序贯自动扫查机构，包括设置在扫查架上的第一探头组，其特征在于所述扫查架上还设有至少一组第二探头组；所述第二探头组设置在固定座上，所述固定座设置在连杆上，所述连杆上下移动地设置在连接座上，弹簧套设在连杆上，弹簧的两端分别抵触在固定座和连接座上；所述连接座连接在所述扫查架上；所述连接座上还枢接有拨叉；其中拨叉的第一叉连接有拉片的一端，所述拉片的另一端连接在所述固定座上；所述拨叉的第二叉的下端低于试块的上表面；拉簧的一端连接在所述第一叉上，拉簧的另一端连接在所述连接座上。本发明专利技术有效解决了厚度较大试块需要进行多次扫查以及扫查过程中由于探头组、滚轮等与试块之间的碰撞所导致的数据不完整的问题。

【技术实现步骤摘要】
TOFD试块多通道序贯自动扫查机构
本专利技术涉及超声波检测领域，具体指一种T0FD多通道序贯自动扫查机构。
技术介绍
T0FD技术是一种基于衍射信号实施检测的技术，其利用波遇到障碍物或小孔后通 过散射继续传播的原理，采用一发一收两个宽带窄脉冲探头进行检测，探头相对于焊缝中 心线对称布置。发射探头产生非聚焦纵波波束以一定角度入射到被检工件中，其中部分波 束沿近表面传播被接收探头接收，部分波束经底面反射后被接收探头接收。接收探头通过 接收缺陷尖端的衍射信号及其时差来确定缺陷的位置及其高度。T0FD技术具有检测灵敏度 高，扫查速度快，对于裂纹、未熔合等面状危害性缺陷有极高的检出率，可及时成像且无辐 射污染等许多优点。 根据T0FD检测标准NB/T47013. 10-2010规定，利用T0FD技术进行设备缺陷的检 测前，应采用对比试块进行检测设置与校准，采用模拟试块对检测工艺进行验证试验。试块 调试的准确与否直接影响到实际检测质量，可以说试块扫查是T0FD检测的前提与依据。 现有的试块扫查装置通常包括一个扫查架，扫查架的下端设有带磁性的滚轮和编 码器，要能够在试块平面内平稳地行走，至少需要三个滚轮来适配试块表面，通常采用对称 设置的四个滚轮；而编码器一般连接在其中一个滚轮上；检测探头则对称设置在扫查架的 下部。扫查架手动或自动行走，对试块进行扫查。 对于一些厚度较大的试块，需要多组不同规格的探头组依次扫查，这样，对于一些 手动操作的扫查架来说，工作量非常大，且由于每次人工操作的不重复性，必然导致扫查结 果的误差。而对于自动扫查的扫查装置，则需要依次更换探头组后才能进行扫查。仍然存 在工作量大、偶发因素影响扫查结果的现象。同时上述现有的试块扫查装置均无法解决试 块一次扫查过程中由于探头组、滚轮等与试块之间的碰撞所导致的数据不完整的问题。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的现状提供一种能配合扫查装置一 次性完成厚度较大试块扫查的T0FD试块多通道序贯自动扫查机构，从而获得精确的扫查 结果，为TCFD检测提供准确的参考依据。 本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案为：该T0FD试块多通道序贯自动扫 查机构，包括设置在扫查架上的第一探头组，其特征在于所述扫查架上还设有至少一组第 二探头组； 所述第二探头组设置在固定座上，所述固定座设置在连杆上，所述连杆上下移动 地设置在连接座上，弹簧套设在连杆上，弹簧的两端分别抵触在固定座和连接座上； 所述连接座连接在所述扫查架上； 所述连接座上还枢接有拨叉；其中拨叉的第一叉连接有拉片的一端，所述拉片的 另一端连接在所述固定座上；所述拨叉的第二叉的下端低于试块的上表面； toon] 拉簧的一端连接在所述第一叉上，拉簧的另一端连接在所述连接座上。 所述拉片上设有滑孔，连接轴穿过所述滑孔连接所述的固定座。 上述方案中，第二探头组开始工作时，试块可以直接作用在拨叉的第二叉上，但是 通常由于结构的限制，拨叉第二叉的长度较长，拨叉摆动给定角度时第二叉下端需要有较 多的水平行程，易与后续探头组发生干涉，而且使本探头组在试块表面的扫查起始位置延 后，留下较长的空行程。为了改善和解决这一问题，所述拨叉的第二叉包括连接部、拉杆和 拨片，所述连接部与所述第一叉一体成型，所述拨片通过拉杆连接所述连接部，所述拨片的 下端低于试块的上表面；所述拨片枢接在所述连接座上，这样，在扫查开始时，拨片碰到试 块上表面边缘后，只需经历很短的直线扫查行程，就能使拨叉摆动较大的角度，进而使得探 头组能够较快地下降到试块表面进入扫查状态。 所述拨片靠近试块的端缘为圆滑的弧形结构。 所述第一探头组设置在所述第一固定座上，所述第一固定座设置在第一连杆上， 所述第一连杆上下移动地设置在第一连接座上，第一弹簧套设在第一连杆上，第一弹簧的 两端分别抵触在第一固定座和第一连接座上；所述第一连接座连接在所述扫查架上。 与现有技术相比，本专利技术第二探头组在该多通道序贯自动扫查机构的作用下，在 其不工作时，第二探头组的位置高于试块表面，因此其进入试块时不会与试块碰撞，从而不 会影响第一探头组的工作；而当其进入试块时，又在拨片的作用下逐渐耦合到试块表面，探 头下移进而耦合到试块表面的过程是渐进的，也是没有振动和冲击的，因此对第一探头组、 第二探头组的扫查过程均无任何不良影响；有效解决了现有技术中厚度较大试块需要进行 多次扫查以及扫查过程中由于探头组、滚轮等与试块之间的碰撞所导致的数据不完整的问 题。 【附图说明】 图1为本专利技术实施例使用状态的立体示意图； 图2为本专利技术实施例中三组探头组及其连接结构装配后的立体示意图； 图3为本专利技术实施例中第一探头组及其连接结构的立体示意图； 图4至图7为本专利技术实施例中第二探头组及其与基座之间连接组件的不同角度的 立体示意图。 【具体实施方式】 以下结合附图实施例对本专利技术作进一步详细描述。 如图1至图7所示，该T0FD试块自动扫查装置包括： 扫查架1，套设在试块11的外侧，扫查架可以根据需要选用现有技术中的任意一 种，例如自动扫查架或手动扫查架。本实施例为自动扫查架，采用三维直线运动模组驱动， 三维直线运动模组的输出端通过基座12连接探头组。为了方便调节各探头组内两个探头 之间的相对位置，本实施例在基座12上分别设置了与各探头组相对应的滑座13,各探头组 通过各自的连接结构连接在滑座13上。 本实施例中扫查的是较厚的试块，需要三组探头组配合扫查完成。 其中第一探头组2安装在第一擎臂41'设置在第一固定座4'上，第一固定座4' 设置在第一连杆5'上，第一连杆5'上下移动地设置在第一连接座6'上，第一弹簧7'套设 在第一连杆5'上，第一弹簧7'的两端分别抵触在第一固定座4'和第一连接座6'上；第一 连接座6'连接在滑座13上，通过滑座13连接在基座12上，从而连接扫查架1。 第二探头组3共有两组，依次设置在第一探头组的下游。 第二探头组3设置在固定座4上，固定座4设置在连杆5上，连杆5上下移动地设 置在连接座6上，弹簧7套设在连杆5上，弹簧7的两端分别抵触在固定座4和连接座6上； 连接座6连接在滑座13上。连接座上设有用于限制所述第一叉上移距离的限位块61。 连接座6上枢接有拨叉8 ;其中拨叉8的第一叉81连接有拉片9的一端，拉片9 的另一端连接在固定座4上。拉片9上设有滑孔91，连接轴92穿过滑孔91连接固定座4。 本实施例中固定座4的下方设有擎臂41，第二探头组3设置在擎臂41上。 拨叉可以直接使用一体成型的、仅包括第一叉和第二叉的结构，此时，拨叉的第二 叉82的下端低于试块的上表面；第二探头组工作时，试块直接推动第二叉，使第二叉转动。 本实施例中拨叉的第二叉包括与第一叉81 -体成型的连接部85、拉杆83和拨片84,连接 部85通过拉杆83连接拨片84 ;拨片84的下端低于试块的上表面；拨片84枢接在连接座 6上。拨片12靠近试块的端缘为圆滑的弧形结构，本实施例中拨片12为弧度为90°的扇 形结构。 拉簧10的一端连接在第一叉81上，拉簧的本文档来自技高网...

【技术保护点】
TOFD试块多通道序贯自动扫查机构，包括设置在扫查架(1)上的第一探头组(2)，其特征在于所述扫查架(1)上还设有至少一组第二探头组(3)；所述第二探头组(3)设置在固定座(4)上，所述固定座(4)设置在连杆(5)上，所述连杆(5)上下移动地设置在连接座(6)上，弹簧(7)套设在连杆(5)上，弹簧(7)的两端分别抵触在固定座(4)和连接座(6)上；所述连接座(6)连接在所述扫查架(1)上；所述连接座(6)上还枢接有拨叉(8)；其中拨叉(8)的第一叉(81)连接有拉片(9)的一端，所述拉片(9)的另一端连接在所述固定座(4)上；所述拨叉的第二叉(82)的下端低于试块的上表面；拉簧(10)的一端连接在所述第一叉(81)上，拉簧的另一端连接在所述连接座(6)上。

【技术特征摘要】
1. T0FD试块多通道序贯自动扫查机构，包括设置在扫查架（1)上的第一探头组（2)，其 特征在于所述扫查架（1)上还设有至少一组第二探头组（3); 所述第二探头组（3)设置在固定座（4)上，所述固定座（4)设置在连杆（5)上，所述连 杆（5)上下移动地设置在连接座（6)上，弹簧（7)套设在连杆（5)上，弹簧（7)的两端分别 抵触在固定座（4)和连接座（6)上； 所述连接座（6)连接在所述扫查架（1)上； 所述连接座（6)上还枢接有拨叉（8);其中拨叉（8)的第一叉（81)连接有拉片（9)的 一端，所述拉片（9)的另一端连接在所述固定座（4)上；所述拨叉的第二叉（82)的下端低 于试块的上表面； 拉簧（10)的一端连接在所述第一叉（81)上，拉簧的另一端连接在所述连接座（6)上。2. 根据权利要求1所述的T0FD试块多通道序贯自动扫查机构，其特征在于所述拉片 (9)上设有滑孔（91)，连接轴92穿过所述滑孔（91)连接所述的固定座（4)。3. 根据权利要求1或2所述的T0FD试块多通道序贯自动扫查机构，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：竺国荣，陈定岳，郑祥明，王杜，陈虎，黄辉，胡杰，许波，沈建民，柴军辉，牛亚平，吴文祥，黄莎露，
申请(专利权)人：宁波市特种设备检验研究院，
类型：发明
国别省市：浙江;33