【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种硅基III‑V族纳米管与微米管,其特征在于,其是生长在单晶Si衬底上的III‑V族应变半导体薄膜,借助III‑V族牺牲层的侧向腐蚀与单晶Si衬底脱离,自卷曲围成两端不封闭的圆柱型中空管状结构,管状结构的直径为1nm‑100μm,长度为1μm‑1mm。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:王琦,王二洋,李伯昌,任晓敏,贾志刚,闫映策,蔡世伟,黄永清,
申请(专利权)人:北京邮电大学,
类型:发明
国别省市:北京;11
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