【技术实现步骤摘要】
[0001 ] 本专利技术涉及一种高接梨树侧生超长枝刻芽的方法。
技术介绍
梨树髙接换优是我国生产上常用的技术。梨树高接后树冠往往发生大量的超长枝。在自然生长状态下，第二年枝条生长仍较旺，枝条两级分化严重，成花量较少，且原超长枝的下部常出现短枝，由于结果年限较短，易导致结果部位外移。针对上述问题，本专利技术对高接后树冠发生的所有超长枝进行刻芽，促使长枝上发生的新梢长势更加均匀，不仅中短枝比例显著增加，而且刻芽后长枝的下部能够抽生部分中、长枝，这样，能够有效地延长结果枝组寿命，在一定程度上控制了结果部位的外移。
技术实现思路
本专利技术建立了一种用于高接梨树侧生超长枝刻芽的方法。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:梨树髙接后第二年春季，选择树冠上发生的超长枝，于萌芽前进行刻芽，从而达到促进枝量增加和花芽形成、有效控制结果部位外移的目的。采用本专利技术技术后，高接树树势缓和加快，产量恢复快，树冠立体结果能力强。本专利技术的具体内容，即一种高接梨树侧生超长枝刻芽的方法如下: 1、超长枝选择:选择高接树树冠上抽生的长度在80cm以上、基部直径在0.6cm以上的枝条。2、刻芽时期:春季梨树萌芽前一周内。3、拉枝开角:如果超长枝角度小于45°，先将其拉至70°、0°。4、刻芽方法:在超长枝上，除了顶端30cm不刻芽外，对其上所有的芽均进行刻伤处理。刻芽工具可采用壁纸刀或长柄手术刀。对于超长枝两侧和背下芽，刻芽部位在芽上方0.5cm处；对于超长枝的背上芽，刻芽部位则在芽下方0.5cm处，刻伤长度为枝条周长的1/2~2/3，深达木质部。本专利技术专利的...
【技术保护点】
一种高接梨树侧生超长枝刻芽方法，其特征在于包括以下几个步骤：（1）刻芽对象 梨树高接后第二年春季萌芽前，选择长度在80cm以上，粗度在0.6cm以上的侧生枝条作为刻芽对象；（2）刻芽时间与部位 萌芽前一周，对树上所有的侧生超长枝进行刻芽，每个长枝除了顶端30cm部位不刻芽外，对其它所有的芽均刻伤；（3）刻芽方法 超长枝条上的侧生和背下芽在芽上方0.5cm处刻，背上芽则在芽下方0.5cm处刻，刻伤长度为枝条周长的1/2~2/3，深达木质部。
【技术特征摘要】
1.一种高接梨树侧生超长枝刻芽方法，其特征在于包括以下几个步骤: (1)刻芽对象梨树高接后第二年春季萌芽前，选择长度在80cm以上，粗度在0.6cm以上的侧生枝条作为刻芽对象； (2)刻芽时间与部位萌芽前一周，对树上所有...
【专利技术属性】
技术研发人员：李英丽，张建光，许建锋，张玉星，张江红，
申请(专利权)人：河北农业大学，
类型：发明
国别省市：河北;13
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