【技术实现步骤摘要】
—种LGA模块的射频测试电路
本技术涉及一种射频测试电路，尤其涉及一种LGA模块的射频测试电路。
技术介绍
在目前LGA模块的射频测试中，一种解决方法是采用专用同轴连接器，射频座放在电路板上，射频头通过同轴电缆接在仪器上，在电路板上放置射频座，需要增加额外的板面积，增加器件和电路板成本，并且与LGA模块不断缩小的趋势相悖。另一种是采用射频探针直接与测试馈点接触，电路板上无需放置射频座，只预留电路测试馈点，电路板上只有测试馈点或者周围有个别接地点，与射频探针接触时接地性能差，导致测试误差。
技术实现思路
本技术目的在于解决在目前LGA模块的射频测试中，因射频测试馈点与射频探针接触时接地性能差，导致测试误差的不足而提供的一种新型LGA模块的射频测试电路。本技术是通过以下技术方案来实现的:在LGA模块的有焊盘的一面设置有一射频测试馈点，所述射频测试馈点测试时与从仪器接出的射频头内的射频探针直接接触，以所述射频测试馈点为中心，周围布一圈铜环，所述铜环测试时与从仪器接出的射频头的环形外壁相接触，使整个测试系统共地，并且在所述铜环上增加若干连接主地的地孔，以提升射频测试时的接地性能，减少射频测试电路的对地阻抗。进一步地，所述铜环内径与外径大小根据具体使用的测试射频头外壁规格而定。本技术的有益效果在于:结构简单，电路板上不必专门预留射频座的位置，可以进一步缩小LGA模块的面积；省去了射频座，节省板面积，节约生产成本；增加了铜环，确保射频测试时具有良好的接地特性，不论是在研发还是生产过程中都能确保测试结果准确。【附图说明】图1为本技术LGA模块的射频测试电路结构示意图；图...
【技术保护点】
一种LGA模块的射频测试电路，其特征在于：在LGA模块的有焊盘的一面设置有一射频测试馈点，所述射频测试馈点测试时与从仪器接出的射频头内的射频探针直接接触，以所述射频测试馈点为中心，周围布一圈铜环，所述铜环测试时与从仪器接出的射频头的环形外壁相接触，使整个测试系统共地，并且在所述铜环上增加若干连接主地的地孔，以提升射频测试时的接地性能，减少射频测试电路的对地阻抗。
【技术特征摘要】
1.一种LGA模块的射频测试电路,其特征在于:在LGA模块的有焊盘的一面设置有一射频测试馈点，所述射频测试馈点测试时与从仪器接出的射频头内的射频探针直接接触，以所述射频测试馈点为中心，周围布一圈铜环，所述铜环测试时与从仪器接出的射频头的环形外壁...
【专利技术属性】
技术研发人员：崔岑，谢晓楠，吴学伟，周向阳，何坚强，
申请(专利权)人：深圳市伟文无线通讯技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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