平板显示装置的密封方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种用于密封平板显示装置的方法。该密封方法包括：在位于基板上的发光单元四周涂覆密封剂，以及在发光单元上方覆盖封装基板；将光照射到密封剂区域上，来初次硬化密封剂（第一次硬化）；监测密封剂的硬化状态；以及基于监测结果进一步将光照射到密封剂的处于不理想硬化状态的区域上，来硬化密封剂的处于不理想硬化状态的区域（第二次硬化）。该密封方法可以防止由不足的激光照射剂量而引起的密封缺陷，因此确保更稳定的密封结构。这可以提高平板显示装置的质量。

【技术实现步骤摘要】
要求优先权本申请引用较早于2013年I月31日在韩国知识产权局提交的并在那里正式分配序号10-2013-0011501的申请，将该申请并入本文，并且要求从该申请获得的所有权益。
本公开涉及一种用于密封平板显示装置的显示区的方法。
技术介绍
诸如有机发光显示装置之类的平板显示装置，由于其可操作的特性，而可以被制作得非常薄和柔韧。鉴于此，对该装置正在进行很多研究。然而，有机发光显示装置的发光单元通过渗入该区域内的水而被劣化。因此，有机发光装置需要一种用于密封发光单元并保护发光单元不会渗入外部水的封装结构。在该相关技术部分中公开的以上信息仅用于加强对本专利技术的背景的理解，因此其可能包含并不构成本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本公开的一个或多个实施例包括一种用于密封平板显示装置、以防止由于不足的激光剂量而导致的密封缺陷的方法的公开内容。其它方面将在随后的说明书中被部分阐述，并且这些方面部分根据说明书是明显的，或者通过所提供的实施例的实施可以来领会。根据本公开的一个或多个实施例，一种用于密封平板显示装置的方法包括:在位于基板上的发光单元四周涂覆密封剂，并且在所述发光单元上方覆盖封装基板；将光照射到密封剂区域上，来初次硬化所述密封剂(第一次硬化)；监测所述密封剂的硬化状态；以及基于监测结果进一步将光照射到所述密封剂的处于不理想硬化状态的区域上，来硬化所述密封剂的处于所述不理想硬化状态的区域(第二次硬化)。监测所述密封剂的硬化状态可以包括通过电荷耦合器件(CCD )相机实时监测所述密封区。所述CCD相机可以在与光照射头一起移动时监测所述密封剂的硬化状态。所述监测可以进一步包括在所述CXD相机内安装中性密度(ND)滤光器。所述密封剂可以包括玻璃料。所述光可以包括激光。用于密封平板显示装置的所述方法可以进一步包括将具有透光缝的密封剂硬化掩膜安装到所述封装基板上，所述透光缝可以具有与所述密封剂区域的形状相对应的形状，并且光通过所述透光缝照射到所述密封剂区域上。用于所述第二次硬化的光照射剂量可以是用于所述第一次硬化的光照射剂量的70%-80%。【附图说明】由于通过参照以下详细描述，在结合附图考虑时本专利技术变得更好理解，因此本专利技术的更完整理解以及伴随本专利技术的诸多优点会变得更容易明显，在附图中相同的附图标记指代相同或相似的组件，附图中:图1是图示根据本公开实施例的用于密封平板显示装置的方法的截面图；图2是图1的平板显示装置的平面图；图3是图示图1的激光装置的详细结构的正视图；图4A至图4C是逐步图示图1的密封方法的截面图；以及图5是图1的密封方法的流程图。【具体实施方式】 现在将详细地参照各实施例，各实施例的示例在附图中示出，其中在整篇说明书中相同的附图标记表示相同的元件。在这一点上，本专利技术的实施例可以具有不同的形式，而不应当被解释为局限于本文所阐述的描述。相应地，下面仅通过参照附图描述各实施例，以说明本专利技术描述的各方面。如在本文中使用的，术语“和/或”包括所列出的相关联项目中的一个或多个的任意组合和所有组合。诸如“…中的至少一个”之类的表述在位于一列要素之后时修饰该列全部要素，而不是修饰该列中的单独要素。下面参照附图更全面地描述示例性实施例。然而，本专利技术构思可以以多种不同形式体现，而不应当被解释为局限于本文中介绍的示例性实施例。在附图中，为了清楚起见，可以放大层和区域的尺寸和相对尺寸。可以理解，当提及一元件或层位于另一元件或层“上”或者“连接至”或“联接至”另一元件或层时，该元件或层可以直接位于另一元件或层上或者直接连接至或联接至另一元件或层，或者可以存在中间元件或层。相反，当提及一元件或层“直接位于”另一元件或层“上”或者“直接连接至”或“直接联接至”另一元件或层时，不存在中间元件或层。相同或相似的附图标记始终是指相同或相似的元件。这里所使用的词语“和/或”包括所列出的相关联项目中的一个或多个的任意组合和所有组合。可以理解，尽管这里可以使用词语第一、第二、第三等来描述各种元件、组件、区域、层、图案和/或部分，但这些元件、组件、区域、层、图案和/或部分不应当受限于这些词语。这些词语仅用于将一个元件、组件、区域、层、图案或部分与另一元件、组件、区域、层、图案或部分区分开来。因此，以下所讨论的第一元件、组件、区域、层或部分可以被命名为第二元件、组件、区域、层或部分，而不超出示例实施例的教导。为了易于描述，这里可以使用空间上相对的词语，例如“下面”、“下方”、“下”、“上方”和“上”等，以描述如图中例示的一个元件或特征与另一元件或特征(或多个元件或特征)的关系。可以理解，空间上相对的词语意在除图中描绘的定向之外还包含处于使用中或操作中的装置的不同定向。例如，如果图中的装置翻转，则被描述为在其它元件或特征“下方”或“下面”的元件就会被定向为位于其它元件或特征“上方”。因此，示例性词语“下方”可以包含上方和下方的定向。装置可以以其它方式定向(旋转90度或以其它定向)，并且可以对这里使用的空间上相对的描述语言进行相应的解释。这里所使用的术语的目的仅在于描述特定的示例实施例，并不意在限制本专利技术。这里所使用的单数形式同样意在包括复数形式，除非上下文清楚地给出其它指示。进一步可以理解，词语“包括”和/或“包含”在本说明书中使用时指明存在所陈述的特征、整体、步骤、操作、元件、和/或组件，但不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或其组合的存在或附加。这里将参照截面图描述示例性实施例，该截面图是本专利技术构思在示图上理想的示例性实施例(及中间结构)的示意性图示。因此，由于例如制造技术和/或制造容限而导致的图示形状的改变是可以预期的。所以，示例性实施例不应当被解释为限于这里所图示的区域的特定形状，而是包括由于例如制造而导致的形状的偏差。图中例示的区域本质上是示意性的，并且它们的形状并不意在例示出装置的区域的实际形状，也不意在限制本专利技术构思的范围。除非有其它限定，这里所使用的所有词语(包括科技术语)具有与本专利技术构思所属领域的普通技术人员通常的理解相同的含义。进一步可以理解，诸如那些在常用词典中所限定的词语，应当被解释为具有与其在相关领域的意义上中相一致的含义，而不应以理想化的或完全形式的意义来解释，除非这里明确进行了这种限定。传统的封装结构包括:其上具有发光单元的玻璃基板；以及覆盖该玻璃基板的封装基板，玻璃基板和封装基板之间的空间利用诸如玻璃料之类的密封剂密封。换言之，在发光单元四周涂覆玻璃料，然后将封装基板放置在玻璃料上部，并且照射激光来硬化玻璃料，从而完成密封。当通过将激光照射到密封剂上来硬化发光单元四周的玻璃料密封剂时，如果所照射的激光能量在不同的照射部分过于不规则，那么所完成的密封可能有缺陷。换言之，如果激光能量不足，则密封剂硬化的不足以实现理想的密封，并且被密封的部分可能彼此分离。具体地，密封缺陷通常发生在激光照射开始和结束的区域附近。由于密封激光功率随着激光功率开启和关闭而逐渐升高和下降，所以激光照射开始或结束的区域与其它区域相比缺少激光能量，因此可能无法被完整密封。不能使用具有这种密封缺陷的产品。因此，需要一种解决这种密封问题的方案。图1和图2图示根据本公开实施例的用于密封平板显示本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于密封平板显示装置的方法，所述方法包括：在位于基板上的发光单元四周涂覆密封剂，并且在所述发光单元上方覆盖封装基板；将光照射到密封剂区域上，以初次硬化所述密封剂，形成第一次硬化；监测所述密封剂的硬化状态；以及基于监测结果进一步将光照射到所述密封剂的处于不理想硬化状态的区域上，以硬化所述密封剂的处于不理想硬化状态的区域，形成第二次硬化。

【技术特征摘要】
2013.01.31 KR 10-2013-00115011.一种用于密封平板显示装置的方法，所述方法包括: 在位于基板上的发光单元四周涂覆密封剂，并且在所述发光单元上方覆盖封装基板； 将光照射到密封剂区域上，以初次硬化所述密封剂，形成第一次硬化； 监测所述密封剂的硬化状态；以及 基于监测结果进一步将光照射到所述密封剂的处于不理想硬化状态的区域上，以硬化所述密封剂的处于不理想硬化状态的区域，形成第二次硬化。2.根据权利要求1所述的方法，其中监测所述密封剂的硬化状态包括通过电荷耦合器件相机实时监测所述密封剂区域。3.根据权利要求2所述的方法，其中所述电荷耦合器件相机在与光照射头一起移动时监测所述密封剂的硬化状态。4.根据权利要求2所述的方法，其中所述方法进一步包括在所述电荷耦合...

【专利技术属性】
技术研发人员：具珉湘，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR