金属构件初始整体几何缺陷的简易测量方法技术

技术编号:10301751 阅读:180 留言:0更新日期:2014-08-07 08:23
本发明专利技术公开了一种金属构件初始整体几何缺陷的简易测量方法,利用光学经纬仪配合普通钢尺,对金属构件不同区域的初始几何缺陷进行测量,然后根据金属构件测量区域的几何关系,利用公式计算得到金属构件的初始整体几何缺陷。本发明专利技术操作较为方便,并且具有准确性、有效性和可靠性高的优点。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种,利用光学经纬仪配合普通钢尺,对金属构件不同区域的初始几何缺陷进行测量,然后根据金属构件测量区域的几何关系,利用公式计算得到金属构件的初始整体几何缺陷。本专利技术操作较为方便,并且具有准确性、有效性和可靠性高的优点。【专利说明】
本专利技术涉及金属构件测量方法领域,具体是一种。
技术介绍
金属结构构件由于生产、锻造和加工过程中生产工艺和加工工艺的制约,不可避免的存在这样或那样的初始缺陷,而构件的初始整体几何缺陷就是其中一类重要的缺陷形式,尤其是对于长细比较大的受压构件,初始整体几何缺陷往往对其力学性能和破坏模式有着至关重要的影响。因此,在结构工程领域,尤其是金属结构构件的设计计算中,无论是传统的碳素钢材料结构构件,还是以高强钢和不锈钢为代表的高性能钢材结构构件,乃至以铝合金为代表的新型金属材料结构构件,初始整体几何缺陷都是土木工程师和结构设计师必须要解决的一个问题。而对于科研工作者来说,对金属结构构件的有限元数值模拟同样必须考虑构件的初始整体几何缺陷。如今,采用现代实验技术方法,如激光扫描技术或三维整体成像技术可以精确的测量构件的初始整体几何缺本文档来自技高网...

【技术保护点】
金属构件初始整体几何缺陷的简易测量方法包括以下步骤:(1)首先在距离万能试验机上构件测试点一定距离的地方放置好三脚架,将光学经纬仪水平放置在三脚架上固定好,调整三脚架三个脚的高度,使得光学经纬仪与地面保持平行;(2)然后将待测构件竖直放置于万能试验机测试点上,固定光学经纬仪的横轴,使得光学经纬仪在水平面内无法转动,通过在垂直面内上下移动光学经纬仪的镜筒,观测构件顶部和底部的铅垂线,确保构件与地面保持垂直;(3)接着通过万能试验机给构件施加微小的荷载,使得构件固定不动,然后松开光学经纬仪的横轴,将光学经纬仪的镜筒对准构件的右侧,通过在垂直面内上下移动光学经纬仪的镜筒,使得镜筒中的十字交叉点移动的...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:冯然完海鹰宋满荣
申请(专利权)人:合肥工业大学
类型:发明
国别省市:安徽;34

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