具有干燥环境的测试机台制造技术

本发明专利技术提供一种具有干燥环境的测试机台包含一测试站、一缓冲承载装置、一传输承载装置、一搬运机构及一干燥气体导流机构。测试站用以对多个待测物进行测试程序，缓冲承载装置邻近设置于测试站的一侧，用以容纳该些待测物以进行温度调控处理。传输承载装置邻近设置于测试站的另一侧，可沿传送方向往复移动，且用以传送该些待测物进出测试站，并可对该些待测物进行回温处理。搬运机构用以将该些待测物搬运至缓冲承载装置、测试站及传输承载装置，干燥气体导流机构导引干燥气体包围测试站、缓冲承载装置、传输承载装置及搬运机构，用以产生干燥环境防止结露。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种具有干燥环境的测试机台包含一测试站、一缓冲承载装置、一传输承载装置、一搬运机构及一干燥气体导流机构。测试站用以对多个待测物进行测试程序，缓冲承载装置邻近设置于测试站的一侧，用以容纳该些待测物以进行温度调控处理。传输承载装置邻近设置于测试站的另一侧，可沿传送方向往复移动，且用以传送该些待测物进出测试站，并可对该些待测物进行回温处理。搬运机构用以将该些待测物搬运至缓冲承载装置、测试站及传输承载装置，干燥气体导流机构导引干燥气体包围测试站、缓冲承载装置、传输承载装置及搬运机构，用以产生干燥环境防止结露。【专利说明】具有干燥环境的测试机台
本专利技术涉及一种具有干燥环境的测试机台，尤其是涉及一种可进行温度调控处理，并具有干燥环境的测试机台。
技术介绍
随着科技的发展与时代的进步，电子装置的快速发展使得人们生活水平普遍提高，其中，现有的电子装置内部的零组件大量使用到集成电路(Integrated Circuit; IC)的元件，更甚者，现有的一般油耗车或电动车等其余与人们衣食住行育乐相关的装置，都大量使用到集成电路元件。由于集成电路元件在电子装置中扮演了相当重要的角色，因此其可靠度也成为影响电子装置是否耐用的重要指针。举例而言，在寒带气候的国家中，其不管是无线通信装置(如手机或平板计算机等)或上述的车辆均需在相当低温的环境下可进行操作或运作，使得集成电路元件在低温下仍可正常运作成为相当重要的课题，因此以低温状态测试集成电路元件成为近年来必备的测试条件。其中，现有的低温测试中，其中一种方法利用低温氮气充填测试机台内部，营造低温环境，进而让集成电路元件在低温状态下进行测试。然而，现有的测试机台进行低温测试时，需先等待其环境到达所设定的低温，再通过环境空气将待测物冷却至测试温度时才可进行测试，因而需耗费相当的等待作业时间，此外，由于厂房内的空气露点温度会高于测试温度，因此机台必须充分隔离并保持紧闭状态，若测试过程需要进行调整或维修，或者测试结束时，皆必须等待机台温度回升至常温以上，才能进行后续作业，不然会造成低温测试完的集成电路元件或者机台内部低温零件结露甚至结冰，作业上有其不方便性，因此现有的测试机台仍有改善空间。
技术实现思路
本专利技术所欲解决的技术问题与目的:有鉴于在现有技术中，现有的测试机台普遍存在有在进行低温测试时需等待机台内部环境到达所设定的低温，并确保机台必须充分隔离并保持紧闭状态，不然会造成低温测试完的集成电路元件或者机台内部低温零件结露甚至结冰，作业上有其不方便性。缘此，本专利技术的主要目的提供一种具有干燥环境的测试机台，其可进行温度调控处理，并且具有干燥的测试环境，借以省去等待低温作业的时间以及防止集成电路元件结露甚至结冰。本专利技术解决问题的技术手段:本专利技术为解决现有技术的问题，所采用的必要技术手段提供一种具有干燥环境的测试机台，用以测试多个待测物，测试机台包含一测试站、一缓冲承载装置、一传输承载装置、一搬运机构以及一干燥气体导流机构。测试站用以对该些待测物进行一测试程序，缓冲承载装置邻近设置于测试站的一侧，缓冲承载装置用以容纳该些待测物，以对该些待测物进行一温度调控处理。传输承载装置邻近设置于测试站的另一侧，可沿一传送方向往复移动，传输承载装置用以传送该些待测物进出测试站，并可对该些待测物进行一回温处理。搬运机构用以将该些待测物搬运至缓冲承载装置、测试站及传输承载装置，干燥气体导流机构导引干燥气体包围测试站、缓冲承载装置、传输承载装置及搬运机构，用以产生干燥环境防止结露。较佳地，上述的测试机台中，搬运机构包含一第一搬运臂以及一第二搬运臂，第一搬运臂用以将该些待测物自传输承载装置搬运至缓冲承载装置以进行温度调控处理，自缓冲承载装置搬运至测试站以进行测试程序，以及自测试站搬运至传输承载装置以进行回温处理；第二搬运臂用以将该些待测物自传输承载装置搬运至缓冲承载装置以进行温度调控处理，自缓冲承载装置搬运至测试站以进行测试程序，以及自测试站搬运至传输承载装置以进行回温处理。此外，第一搬运臂自传输承载装置移动至缓冲承载装置时，第二搬运臂在测试站进行该测试程序或等待，当第一搬运臂自缓冲承载装置移动至测试站时，第二搬运臂自测试站移动至传输承载装置。较佳地，上述的测试机台中，传输承载装置包含一定位机构、一输入容纳部以及一输出容纳部，定位机构用以对待测物进行一定位调整，而搬运机构将该些待测物自输入容纳部搬运至缓冲承载装置以进行温度调控处理，以及自测试站搬运至输出容纳部以进行回温处理。另外，输出容纳部设有一加热装置，加热装置用以进行上述的回温处理，此外，缓冲承载装置包含多个容纳部，缓冲承载装置可沿传送方向往复移动，用以提供搬运机构将该些待测物分别搬运至多个容纳部，而缓冲承载装置设有一温度控制器，用以进行上述的温度调控处理。本专利技术对 照先前技术的效果:相较于现有技术，由于本专利技术提供的具有干燥环境的测试机台可进行温度调控处理，并且具有干燥的测试环境，因此在测试前即使待测物处于测试温度，进而要进行测试时可省去等待升降温的时间，且干燥气体导流机构使测试机台的测试环境形成干燥环境，因此可防止结露甚至结冰的现象发生。此外，本专利技术另一效果在于测试机台还具有回温处理功能，使得低温测试完的待测物利用传输时进行回温，借以节省时间及空间。本专利技术所采用的具体实施例，将借由以下的实施例及附图作进一步的说明。【专利附图】【附图说明】图1为显示本专利技术第一较佳实施例的具有干燥环境的测试机台的示意图；图2为显示本专利技术第一较佳实施例的第一搬运臂以及第二搬运臂的搬运路径示意图；图3至图3F为显示本专利技术第一较佳实施例的搬运机构搬运待测物的示意图；图4为显示本专利技术第二较佳实施例的下压机构的第一运作示意图；以及图4A为显示本专利技术第二较佳实施例的下压机构的第二运作示意图。附图标记l、la:具有干燥环境的测试机台 ll、lla:测试站111:测试槽12:缓冲承载装置121、121a:第一容纳部1211:容纳槽122、122a:第二容纳部1221:容纳槽13:传输承载装置131、131a:输入容纳部1311、1311a:容纳槽132、132a:输出容纳部1321:容纳槽14:搬运机构141、141a:第一搬运臂142、142a:第二搬运臂15:干燥气体导流机构16a:下压机构161a:接触机构2、2a:待测物L、La:传送方向M、Ma:搬运路径S1、Sla:搬运方向S2、S2a:搬运方向【具体实施方式】由于本专利技术所提供的具有干燥环境的测试机台中，其组合实施方式不胜枚举，故在此不再一一赘述，仅列举两个较佳实施例来加以具体说明。请参阅图1，图1为显示本专利技术第一较佳实施例的具有干燥环境的测试机台的示意图。如图1所示，具有干燥环境的测试机台I (以下简称测试机台I)包含有一测试站11、一缓冲承载装置12、一传输承载装置13、一搬运机构14以及一干燥气体导流机构15。缓冲承载装置12邻近设置于测试站11的一侧，并且包含一第一容纳部121以及一第二容纳部122，此外，缓冲承载装置12设有一温度控制器(图未示)，例如热电致冷装置(ThermoElectric Cooling ;TEC)，在本专利技术第一较佳实施例中，温度控制器分别设置于第一容纳部1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有干燥环境的测试机台，其特征在于，用以测试多个待测物，该测试机台包含：一测试站，用以对该些待测物进行一测试程序；一缓冲承载装置，邻近设置于该测试站的一侧，该缓冲承载装置用以容纳该些待测物，以对该些待测物进行一温度调控处理；一传输承载装置，邻近设置于该测试站的另一侧，可沿一传送方向往复移动，该传输承载装置用以传送该些待测物进出该测试站，并可对该些待测物进行一回温处理；一搬运机构，用以将该些待测物搬运至该缓冲承载装置、该测试站及该传输承载装置；以及一干燥气体导流机构，导引一干燥气体包围该测试站、该缓冲承载装置、该传输承载装置及该搬运机构，用以产生干燥环境防止结露。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴信毅，沈轩任，陈建名，欧阳勤一，
申请(专利权)人：致茂电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32