银纤维电阻测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种银纤维电阻测试装置，包括底座，所述底座上设置有测试架，在测试架上设置有用于支撑及导向待测银纤维的两连接柱，所述待测银纤维的两端分别设有向待测银纤维两端施加一初张力的可将搭设在两连接柱之间的待测银纤维水平拉直的牵拉部件，所述两连接柱之间的待测银纤维上连接有用于测试该部分电阻的测试仪表。保证了由该银纤维生产出的银纤维面料的合格防辐射性能，本装置结构简单，操作方便，不同细度的银纤维通过调整不同牵拉部件，均可快速测量，测试范围广，有效保证了银纤维面料的防辐射性能，适合推广应用。

【技术实现步骤摘要】
银纤维电阻测试装置
本专利技术涉及一种纤维测试装置，特别涉及一种银纤维电阻测试装置。
技术介绍
随着现代生活水平的不断提高，人们对生活质量的要求也在不断的提高，衣、食、住、行衣为先，纤维作为人们平常穿的衣物已经有多种多样，例如在尼龙纤维表面涂敷的银层的得到的银纤维，采用银纤维制作的防电磁屏蔽面料因其防辐射性能的优良，已被广泛的用于孕妇防辐射服。众所周知，防辐射服的电磁屏蔽原理主要靠镀银纤维形成的闭合回路，导电率的大小将直接影响电磁屏蔽性能的优劣，而尼龙纤维表面的镀银层的厚度是决定镀银纤维电阻率大小的关键，一般来讲，纤维表面的镀银层一般存在一定的偏差，不合格的镀银纤维织成的防辐射面料势必会不可避免的影响到电磁屏蔽面料的防辐射性能，也就是说，成品的防辐射面料的电阻值的偏大，将导致成品的防辐射衣物或物品的防辐射性能不达标。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本专利技术所要解决的技术问题是，提供一种结构简单的电阻测试装置，以期能够快速准确检测成品银纤维的导电合格率，确保电磁屏蔽面料的防辐射性能达到要求。为解决上述技术问题，本专利技术所采取的技术方案是：一种银纤维电阻测试装置，包括底座，所述底座上设置有测试架，在测试架上设置有用于支撑及导向待测银纤维的两连接柱，所述待测银纤维的两端分别设有向待测银纤维两端施加一初张力的可将搭设在两连接柱之间的待测银纤维水平拉直的牵拉部件，所述两连接柱之间的待测银纤维上连接有用于测试该部分电阻的测试仪表。上述的银纤维电阻测试装置，施加于所述待测银纤维上的初张力的大小为银纤维张力的5％～15％。上述的银纤维电阻测试装置，所述牵拉部件为分别连接在绕过两连接柱后向下垂落的待测银纤维的两端的配重块，所述配重块通过连接钩与待测银纤维连接。上述的银纤维电阻测试装置，其特征是：所述配重块及连接钩的总重量设置为3g～50g。上述的银纤维电阻测试装置，所述测试架上设有用于调整两连接柱之间距离的移动导轨，所述连接柱与移动导轨滑动配合。上述的银纤维电阻测试装置，其特征是：两连接柱之间的距离为3～100cm，所述两连接柱的移动量为待测银纤维长度的0.1％～60％。本专利技术银纤维电阻测试装置的优点是：本专利技术通过在测试架上设置的连接柱，能够很好的将待测银纤维支撑，通过牵拉部件施加的合适的初张力，将待测银纤维拉伸至正常状态和不同时伸长量的电阻，使得测试的结果更加准确，通过该装置能够测试出成品镀银纤维的银层合格率，进而保证了由该银纤维生产出的银纤维面料的合格防辐射性能，本装置结构简单，操作方便，不同细度的银纤维通过调整不同牵拉部件，均可快速测量，测试范围广，有效保证了银纤维面料的防辐射性能，适合推广应用。附图说明图1为本专利技术的结构示意图。具体实施方式下面结合附图及具体实施例对本专利技术做进一步详细说明；如图1所示，一种银纤维电阻测试装置，包括一底座1，在底座1上设置有竖向布置的测试架2，为避免测试架2干扰电阻的测试结果，测试架2可以采用绝缘材料制成，如塑料，在测试架2上设置有用于支撑及导向待测银纤维3的两连接柱4，所述待测银纤维3的两端分别设有向待测银纤维3的两端施加一初张力的可将搭设在两连接柱4之间的待测银纤维5水平拉直的牵拉部件，所述牵拉部件为分别连接在绕过两连接柱4后向下垂落的待测银纤维3的两端的配重块6，所述配重块6通过连接钩7与待测银纤维3连接。一般来讲，配重块6及连接钩7的总重量可以设置为3g～5g。为便于降低与待测银纤维3之间的摩擦力，防止待测银纤维3因牵拉不直而影响待测结果，连接柱3可以采用转轴或者转动轮，所述两连接柱4之间的待测银纤维5上连接有用于测试该部分电阻的测试仪表8，测试仪表8具有两个测试笔9，两个测试笔9分别连接在牵拉伸直的两待测银纤维5的两端，也就是两连接柱4之间的待测银纤维5这一部分的两端，测试仪表8可以采用目前传统常用的万用表，将万用表调节到欧姆挡位即可。为便于调节待测银纤维3的长度，在测试架2上设有用于调整两连接柱4之间距离的移动导轨10，所述连接柱与移动导轨10滑动配合。所述的支撑及导向待测银纤维3的两连接柱4中的一个连接柱4可以横向移动，也可以使两个连接柱4同时移动，达到快速调节距离的目的，可以使两连接柱4之间的距离不断增大或缩小，从而使两连接柱4之间的待测银纤维3不断伸长。两连接柱4之间的距离为3～100cm，所述两连接柱4的移动量为待测银纤维3长度的0.1～60％。对于各种不同细度的银纤维，按照银纤维粗细的不同，施加于所述待测银纤维3上的初张力的大小一般为银纤维张力的5％～15％即可满足要求，并且不会将待测银纤维3牵拉过量而造成待测银纤维3直径变小，导致电阻偏高而影响测试结果。当然，上述说明并非是对本专利技术的限制，本专利技术也并不限于上述举例，本
的普通技术人员，在本专利技术的实质范围内，作出的变化、改型、添加或替换，都应属于本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种银纤维电阻测试装置，包括底座，其特征在于：所述底座上设置有测试架，在测试架上设置有用于支撑及导向待测银纤维的两连接柱，所述待测银纤维的两端分别设有向待测银纤维两端施加一初张力的可将搭设在两连接柱之间的待测银纤维水平拉直的牵拉部件，所述两连接柱之间的待测银纤维上连接有用于测试该部分电阻的测试仪表。

【技术特征摘要】
1.一种银纤维电阻测试装置，包括底座，所述底座上设置有测试架，在测试架上设置有用于支撑及导向待测银纤维的两连接柱，其特征在于：所述待测银纤维的两端分别设有向待测银纤维两端施加一初张力的可将搭设在两连接柱之间的待测银纤维水平拉直的牵拉部件，施加于所述待测银纤维上的初张力的大小为银纤维张力的5％～15％，所述牵拉部件为分别连接在绕过两连接柱后向下垂落的待测银纤维的两端的配重块，所述配重块通过连接钩与待测...

【专利技术属性】
技术研发人员：马建伟，靳小青，
申请(专利权)人：青岛大学，
类型：发明
国别省市：山东;37