利用红外热场快速预测地下连续墙侧壁渗漏的方法技术

本发明专利技术涉及一种利用红外热场快速预测地下连续墙侧壁渗漏的方法，在基坑开挖的过程中，利用红外热场对地下连续墙存在渗漏隐患的质量缺陷处进行无损检测。具体步骤包括：（1）深基坑地下连续墙巡查。寻找地下连续墙接缝处。（2）在基坑外接缝处打井并加入人工热源。（3）实施现场检测。利用红外热像仪，对检测方案中的目标进行测量，形成图像，并记录与保存好相关红外热场图像。（4）地下连续墙接缝处潜在渗漏点判断。分析生成的红外热场图像，对异常热场进行分析与判断，进而对渗漏点进行判断与定位。该无损检测方法适应性强，不仅白天可以监测基坑情况，夜晚在人的视力不及的情况下依然可以实时监测。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种利用红外热场快速预测地下连续墙侧壁渗漏的方法，其特征在于，具体步骤如下：（1）深基坑地下连续墙巡查：寻找地下连续墙接缝处，并关注墙体表面横向裂缝以及渗漏点；（2）在基坑外接缝处打井并加入人工热源：在地墙接缝处坑外打井并加入人工热源，提高水的温度，随着水流不断向地墙内部潜在渗漏区域渗透，地墙内的温度也不断提高，在基坑内地墙体表面的温度也在不同程度的升高；（3）实施现场检测：利用红外热像仪，对检测方案中的目标进行测量，形成图像，并记录与保存好相关红外热场图像；（4）地下连续墙接缝处潜在渗漏点判断：分析生成的红外热场图像，对异常热场进行分析与判断，进而对渗漏点进行判断与定位。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王建秀，胡健，黄天荣，刘笑天，殷尧，
申请(专利权)人：同济大学，
类型：发明
国别省市：上海;31