位置测控装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提出了一种位置测控装置，包括：传感器通信接口；通过传感器通信接口与多个传感器和/或光栅尺同时通信的通信模块；用于通过通信模块与多个传感器和/或光栅尺同时通信的第一控制子模块，并且第一控制子模块根据多个传感器和/或光栅尺的采样信号生成脉冲信号；用于获取第一控制子模块的脉冲信号并与上位机进行通信的第二控制子模块。该位置测控装置通过第一控制子模块高同步、高精度、高速度地采集多个传感器和/或光栅尺的位置数据，并且第二控制子模块通过第一控制子模块获取多个传感器和/或光栅尺的位置数据，并与上位机高速通信，满足了位置测控装置高同步、高精度和高速率的要求。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提出了一种位置测控装置，包括：传感器通信接口；通过传感器通信接口与多个传感器和/或光栅尺同时通信的通信模块；用于通过通信模块与多个传感器和/或光栅尺同时通信的第一控制子模块，并且第一控制子模块根据多个传感器和/或光栅尺的采样信号生成脉冲信号；用于获取第一控制子模块的脉冲信号并与上位机进行通信的第二控制子模块。该位置测控装置通过第一控制子模块高同步、高精度、高速度地采集多个传感器和/或光栅尺的位置数据，并且第二控制子模块通过第一控制子模块获取多个传感器和/或光栅尺的位置数据，并与上位机高速通信，满足了位置测控装置高同步、高精度和高速率的要求。【专利说明】位置测控装置
本技术涉及运动控制及测量
，特别涉及一种位置测控装置。
技术介绍
目前，三维或多维测量的同步精度的要求越来越高，不仅要求运动控制的执行机构例如直线电机和运动控制机构具有高的精密性和高的性能，而且要求传感器具有高的分辨率和高的精度。另外，还要求位置测控装置能够高同步、高速度地采集多个传感器或光栅尺的位置数据，以及具有较短的通信周期。在现有技术中，传统的位置测控装置一般采用MCU (Micro Control Unit,微控制单元)进行通信或脉冲采集。现有技术存在的缺点:在现有技术中，由于MCU自带的外设通信接口数量有限且不一定符合传感器的通信协议，此外MCU自带的外设脉冲采集接口数量也有限，一般只有2个接口，因此导致MCU同步传输数据较差，只能顺序执行通信程序，不能很好地满足客户的要求。因此传统的位置测控装置难以满足高同步、高精度和高速率的要求。
技术实现思路
本技术的目的旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题。为此，本技术的目的在于提出一种位置测控装置。该测控装置能高同步、高精度、高速度地采集多个传感器和/或光栅尺的位置数据，并且能与上位机高速通信，满足高同步、高精度和高速率的要求。为达到上述目的，本技术提出的位置测控装置，包括:与多个传感器和/或光栅尺相连的传感器通信接口 ；通过所述传感器通信接口与所述多个传感器和/或光栅尺同时通信的通信模块，所述通信模块与所述传感器通信接口相连；用于通过所述通信模块与所述多个传感器和/或光栅尺同时通信的第一控制子模块，并且所述第一控制子模块根据所述多个传感器和/或光栅尺的采样信号生成脉冲信号，所述第一控制子模块与所述通信模块相连；以及用于获取所述第一控制子模块的脉冲信号并与上位机进行通信的第二控制子模块，所述第二控制子模块与所述第一控制子模块相连。根据本技术提出的位置测控装置，通过第一控制子模块高同步、高精度、高速度地采集多个传感器和/或光栅尺的位置数据，并且第二控制子模块通过第一控制子模块获取多个传感器和/或光栅尺的位置数据，并与上位机高速通信，满足高同步、高精度和高速率的要求。优选地，所述第一控制子模块可以为FPGA (Field — Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)，所述第二控制子模块可以为ARM (Acorn RISC Machine，微处理器)处理器。进一步地，所述位置测控装置还包括:与以太网模块相连的以太网接口 ；以及通过所述以太网接口与所述以太网通信的PHY模块，所述第二控制子模块通过所述PHY模块与所述以太网的通信和所述上位机进行通信，所述PHY模块分别与所述以太网接口和所述第二控制子模块相连。进一步地，所述位置测控装置还包括:与USB (Universal Serial Bus，通用串行总线)模块相连的USB接口，所述第二控制子模块通过与所述USB接口相连的所述USB模块与所述上位机进行通信，所述USB接口与所述第二控制子模块相连。进一步地,所述位置测控装置还包括:与CAN (Controller Area Network,控制器局域网络)总线模块相连的CAN接口，所述第二控制子模块通过与所述CAN接口相连的所述CAN总线模块与所述上位机进行通信，所述CAN接口与所述第二控制子模块相连。进一步地，所述位置测控装置还包括:与所述第一控制子模块相连的存储器。进一步地，所述位置测控装置还包括:与所述第一控制子模块相连的第一测试接口 ；以及与所述第二控制子模块相连的第二测试接口。进一步地，所述位置测控装置还包括:与所述第一控制子模块相连的有源晶振。进一步地，所述位置测控装置还包括:与所述第二控制子模块相连的晶振。进一步地，所述位置测控装置还包括:与所述第二控制子模块相连的IXD (LiquidCrystal Display,液晶显示器)接口。本技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。【专利附图】【附图说明】本技术上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中:图1为根据本技术一个实施例的位置测控装置的结构示意图；图2为根据本技术一个具体实施例的位置测控装置的结构示意图；图3为根据本技术一个实施例的位置测控装置的第一控制子模块的结构示意图；以及图4为根据本技术一个实施例的位置测控装置的第二控制子模块的结构示意图。【具体实施方式】下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能解释为对本技术的限制。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本技术的不同结构。为了简化本技术的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本技术。此外，本技术可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。此外，本技术提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的可应用于性和/或其他材料的使用。另外，以下描述的第一特征在第二特征之“上”的结构可以包括第一和第二特征形成为直接接触的实施例，也可以包括另外的特征形成在第一和第二特征之间的实施例，这样第一和第二特征可能不是直接接触。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。下面参照附图描述根据本技术实施例提出的位置测控装置。图1为根据本技术一个实施例的位置测控装置的结构示意图。参照图1所示，该位置测控装置包括:传感器通信接口 10、通信模块20、第一控制子模块30和第二控制子模块40。其中，传感器通信接口 10与多个传感器和/或光栅尺相连。通信模块20与传感器通信接口 10相连，通信模块20通过传感器通信接口 10与多个传感器和/或光栅尺同时通信。第一控制子模块30与通信模块20相连，第一控制子模块30用于通过通信模块20与多个传感器和/或光栅尺同时通信，并且第一控制子模块30根据多个本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种位置测控装置，其特征在于，包括：与多个传感器和/或光栅尺相连的传感器通信接口；通过所述传感器通信接口与所述多个传感器和/或光栅尺同时通信的通信模块，所述通信模块与所述传感器通信接口相连；用于通过所述通信模块与所述多个传感器和/或光栅尺同时通信的第一控制子模块，并且所述第一控制子模块根据所述多个传感器和/或光栅尺的采样信号生成脉冲信号，所述第一控制子模块与所述通信模块相连；以及用于获取所述第一控制子模块的脉冲信号并与上位机进行通信的第二控制子模块，所述第二控制子模块与所述第一控制子模块相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：暨绵浩，
申请(专利权)人：广东美的制冷设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44