光学耦合透镜以及光学通讯装置制造方法及图纸

一种光学耦合透镜，包括一个第一介面、一个第二介面以及一个第一光转折面。该第一介面上形成有第一传输透镜部，该第二介面上形成有对应该第一传输透镜部的第二传输透镜部。该第一光转折面用于将光信号在该第一传输透镜部及该第二传输透镜部之间转折。该光学耦合透镜包括一个第一检测透镜部、一个第二检测透镜部、一个第二光转折面以及一个第三光转折面。该第一检测透镜部用于汇聚入射的检测光。该第一检测透镜部以及该第二检测透镜部用于将入射的检测光偏折预定角度，使得该检测光经该第二检测透镜部射出该光学耦合透镜。本发明专利技术还涉及一种具有所述光学耦合透镜的光学通讯装置。

【技术实现步骤摘要】
光学耦合透镜以及光学通讯装置
本专利技术涉及一种光学耦合透镜以及光学通讯装置，尤其涉及一种具有主动对位功能的光学耦合透镜以及具有该光学耦合透镜的光学通讯装置。
技术介绍
在光学通讯领域，光学通讯装置包括光信号发射装置、光信号接收装置、对应所述光信号发射装置的输出光纤、对应所述光信号接收装置的输入光纤以及光学耦合透镜。所述光学耦合透镜用于将所述光信号发射装置与所述输出光纤之间进行光耦合，以及将所述光信号接收装置与所述输入光纤之间进行光耦合。所述光学耦合透镜包括多个与所述光信号发射装置以及所述光信号接收装置一一对应的透镜部。组装时，所述透镜部需与所述光信号发射装置以及所述光信号接收装置分别对准，以保证光耦合效率。然，现有的光学通讯装置一般系于组装完成后，再对其进行光耦合效率的测试，如果耦合效率不在预期范围内，则需重新调整所述耦合透镜的组装位置，直至符合要求。所述光学通讯装置组装对位比较复杂、繁琐，其组装效率较低。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种可简便对位、提升组装效率的光学耦合透镜以及光学通讯装置。一种光学耦合透镜，用于将光收/发设备与光纤进行光耦合。所述光学耦合透镜包括一个与所述光收/发设备相对的第一介面、一个与所述光纤相对的第二介面以及一个第一光转折面。所述第一介面上形成有对应所述光收/发设备的第一传输透镜部，所述第二介面上形成有对应所述第一传输透镜部的第二传输透镜部。所述第一光转折面用于将光信号在所述第一传输透镜部及所述第二传输透镜部之间转折。所述光学耦合透镜包括一个第一检测透镜部、一个第二检测透镜部、一个第二光转折面以及一个第三光转折面。所述第一检测透镜部及所述第二检测透镜部用于汇聚入射的检测光。所述第二光转折面以及所述第三光转折面用于将入射的检测光偏折预定角度，使得所述检测光经所述第二检测透镜部射出所述光学耦合透镜。一种光学通讯装置，包括一个基板、设置于所述基板上的光收/发设备、一个光学耦合透镜以及对应于所述光收/发设备的光纤。所述光学耦合透镜用于将所述光收/发设备与所述光纤进行光耦合。所述光学耦合透镜包括一个与所述光收/发设备相对的第一介面、一个与所述光纤相对的第二介面以及一个第一光转折面。所述光学耦合透镜以所述第一介面朝向所述基板设置于所述基板上。所述第一介面上形成有对应所述光收/发设备的第一传输透镜部，所述第二介面上形成有对应所述第一传输透镜部的第二传输透镜部。所述第一光转折面用于将光信号在所述第一传输透镜部及所述第二传输透镜部之间转折。所述光学耦合透镜包括一个第一检测透镜部、一个第二检测透镜部、一个第二光转折面以及一个第三光转折面。所述第一检测透镜部用于汇聚入射的检测光。所述第二光转折面以及所述第三光转折面用于将入射的检测光偏折预定角度，使得所述检测光经所述第二检测透镜部射出所述光学耦合透镜。相对于现有技术，所述光学耦合透镜以及光学通讯装置具有所述第一及第二检测透镜部，并通过所述第二光转折面形成检测光经过所述检测透镜部的光路，因此，可以通过对所述射出所述光学耦合透镜的检测光的位置变化检测所述光学耦合透镜的组装位置，因此可以在组装时对所述光学耦合透镜的组装精度进行实时检测，简化了组装流程，既能提升组装效率，有能确保组装精度。附图说明图1是本专利技术实施方式的光学通讯装置的分解图。图2是图1的光学通讯装置的光学耦合透镜的另一角度视图。图3是图1的光学通讯装置的光学耦合透镜的又一角度视图。图4是图1的光学通讯装置组装完成后的立体图。图5是图4的光学通讯装置沿V-V的剖视图。图6是图4的光学通讯装置沿VI-VI的剖视图。主要元件符号说明光学通讯装置100基板10光信号发射装置20光信号接收装置30对位检测单元40检测光源41光检测设备42光学耦合透镜50第一介面51第一传输透镜部511第一检测透镜部512a第二检测透镜部512b支撑部513第二介面52第二传输透镜部521第一光转折面53第二光转折面54第三光转折面55输出光纤60输入光纤70如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术作一具体介绍。请参阅图1至图3，为本专利技术实施方式的光学通讯装置100的结构分解图，所述光学通讯装置100包括一个基板10、两个光信号发射装置20、两个光信号接收装置30、一个对位检测单元40、一个光学耦合透镜50、两个对应于所述光信号发射装置20的输出光纤60以及两个对应于所述光信号接收装置30的输入光纤70。所述光信号发射装置20、所述光信号接收装置30以及所述对位检测单元40设置于所述基板10表面预定位置。所述基板10用于承载所述光信号发射装置20、所述光信号接收装置30、所述对位检测单元40以及所述光学耦合透镜50。所述基板10表面或者内部设置有用于电连结所述光信号发射装置20、所述光信号接收装置30以及所述对位检测单元40的电路(图未示)。所述光信号发射装置20用于生成并发射光信号，本实施方式中，所述光信号发射装置20为激光二极管(laserdiode)。所述光信号接收装置30用于接收光信号，本实施方式中，所述光信号接收装置30为光电二极管(photodiode)。所述光信号发射装置20以及所述光信号接收装置30沿一直线方向排列，所述光信号发射装置20与所述光信号接收装置30可以相邻排列也可以相互间隔排列。所述对位检测单元40用于检测光学耦合透镜50相对于所述光信号发射装置20以及两个光信号接收装置30的组装位置。所述对位检测单元40包括一个检测光源41以及一个光检测设备42。所述检测光源41用于发射检测光线，所述光检测设备42用于接收所述检测光线，并依据所接收到的检测光线判断所述光学耦合透镜50相对于所述光信号发射装置20以及两个光信号接收装置30的组装位置。本实施方式中，所述检测光源41为激光二极管，所述光检测设备42为CCD(Charge-coupledDevice：电荷耦合元件)或者CMOS(ComplementaryMetalOxideSemiconductor：互补金属氧化物半导体)。所述对位检测单元40与所述光信号发射装置20及所述光信号接收装置30之间具有预设位置关系，所述预设位置关系涵义为通过所述对位检测单元40的位置可以推知所述光信号发射装置20及所述光信号接收装置30的位置。本实施方式中，所述检测光源41以及所述光检测设备42沿所述光信号发射装置20及所述光信号接收装置30排列方向分别位于所述光信号发射装置20及所述光信号接收装置30整体的两端。当然，所述检测光源41以及所述光检测设备42也可以沿所述光信号发射装置20及所述光信号接收装置30排列方向分别位于所述光信号发射装置20及所述光信号接收装置30整体的两侧，或者，所述检测光源41以及所述光检测设备42也可以位于所述光信号发射装置20及所述光信号接收装置30之间。所述光学耦合透镜50包括一个第一介面51、一个第二介面52以及一个第一光转折面53。所述第一介面51与所述第二介面52大致垂直，所述第一光转折面53与所述第一介面51以及所述第二介面52之间的夹角均大致为45度。本实施方式中，所述光学耦合透镜50大致呈直角三棱柱形状，所述第一介面51以及所述第二介面52构成所述光学耦合透镜5本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学耦合透镜，用于将光收/发设备与光纤进行光耦合，所述光学耦合透镜包括一个与所述光收/发设备相对的第一介面、一个与所述光纤相对的第二介面以及一个第一光转折面，所述第一介面上形成有对应所述光收/发设备的第一传输透镜部，所述第二介面上形成有对应所述第一传输透镜部的第二传输透镜部，所述第一光转折面用于将光信号在所述第一传输透镜部及所述第二传输透镜部之间转折，其特征在于：所述光学耦合透镜包括一个第一检测透镜部、一个第二检测透镜部、一个第二光转折面以及一个第三光转折面，所述第一检测透镜部用于汇聚入射的检测光，所述第一检测透镜部以及所述第二检测透镜部用于将入射的检测光偏折预定角度，使得所述检测光经所述第二检测透镜部射出所述光学耦合透镜。

【技术特征摘要】
1.一种光学耦合透镜，用于将光收/发设备与光纤进行光耦合，所述光学耦合透镜包括一个与所述光收/发设备相对的第一介面、一个与所述光纤相对的第二介面以及一个第一光转折面，所述第一介面上形成有对应所述光收/发设备的第一传输透镜部，所述第二介面上形成有对应所述第一传输透镜部的第二传输透镜部，所述第一光转折面用于将光信号在所述第一传输透镜部及所述第二传输透镜部之间转折，其特征在于：所述光学耦合透镜包括一个第一检测透镜部、一个第二检测透镜部、一个第二光转折面以及一个第三光转折面，所述第一检测透镜部及所述第二检测透镜部用于汇聚入射的检测光，所述第二光转折面以及所述第三光转折面用于将入射的检测光偏折预定角度，使得所述检测光经所述第二检测透镜部射出所述光学耦合透镜。2.如权利要求1所述的光学耦合透镜，其特征在于：所述光学耦合透镜呈直角三棱柱形状，所述第一介面以及所述第二介面构成所述光学耦合透镜的两个直角面，所述第一光转折面构成所述光学耦合透镜的斜面。3.如权利要求1所述的光学耦合透镜，其特征在于：所述第一检测透镜部以及所述第二检测透镜部形成于所述第一介面上，并且相对于所述第一传输透镜部具有预设的位置关系。4.如权利要求3所述的光学耦合透镜，其特征在于：所述第一检测透镜部以及所述第二检测透镜部沿所述第一传输透镜部排列方向分别位于所述第一传输透镜部整体的两端。5.如权利要求1所述的光学耦合透镜，其特征在于：所述第一介面围绕所述第一传输透镜部形成有凸出的支撑部，所述支撑部凸出所述第一介面的高度大于所述第一传输透镜部凸出所述第一介面的高度。6.如权利要求1所述的光学耦合透镜，其特征在于：所述第二转折面与所述第三转折面之间夹角为90度，所述第二光转折面以及所述第三光转折面与对应的所述检测透镜部光轴之间的夹角均为45度，...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪毅，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44