转速计校正量测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种转速计校正量测量方法及装置，该方法包括以下步骤：S1、在转速计连接频率测量器，转速计测量旋转体，同时读取频率测量器和转速计读数；S2、拟合频率测量器和转速计读数的关系；S3、在转速计连接信号发生器，向转速计发送用于模拟转速的信号；S4、比较模拟转速和转速计读数，得到转速偏差，校准转速计。实施本发明专利技术的转速计校正量测量方法及装置，无需使用昂贵的设备进行转速计的校正，对于校正的环境需求低，适用于各种环境下对于转速计的校正。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种转速计校正量测量方法及装置，该方法包括以下步骤：S1、在转速计连接频率测量器，转速计测量旋转体，同时读取频率测量器和转速计读数；S2、拟合频率测量器和转速计读数的关系；S3、在转速计连接信号发生器，向转速计发送用于模拟转速的信号；S4、比较模拟转速和转速计读数，得到转速偏差，校准转速计。实施本专利技术的转速计校正量测量方法及装置，无需使用昂贵的设备进行转速计的校正，对于校正的环境需求低，适用于各种环境下对于转速计的校正。【专利说明】转速计校正量测量方法及装置
本专利技术涉及转速计技术，更具体地说，涉及一种转速计校正量测量方法及装置。
技术介绍
转速是旋转体转数与时间之比的物理量，工程上通常表示为转速=旋转次数/时间，是描述物体旋转运动的一个重要参数，手持式转速计用来测定各机台、传送滚轮的转速、线速度或频率。目前使用的最为广泛的转速计为非接触式红外转速计，其采用光电反射原理的测量法，转速计发射出的红外线经固定在待测目标上的反射条反射后，即携带有关转速的信息，当转速计接收到反射波后，经过处理即得到转速测量数据。在使用转速计之前需要对其进行校准，目前的校准方式如图1所示，用标准转速智能综合校准仪500产生一个标准转速VI，使得反射片501按照Vl转动；然后用带校准的转速计测量该转速，通过转速计上的红外发射器102向反射片501发送红外线，反射后的红外线被红外接收器101接收并转换成电信号，信号处理器103将接收到的电信号转化成转速相关的信号发送到单片机104处理，单片机104将其转换成显示信号，在显示组件105上显示出测量的转速V2。通过转速计测的转速V2和标准转速Vl进行比较，从而达到校准转速计的目的。但是采用这种方式进行校准的时候，必须购买较为昂贵的标准转速智能综合校准仪，并且该标准转速智能综合校准仪对使用环境要求严格，易受电压、风速、温湿度、磁场等环境变量影响，导致标准转速精度下降。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，针对现有的转速计校正的使用需要使用昂贵设备并且校正的时候容易受到环境影响的缺陷，提供一种校正成本较低并且校正的环境适应性较好的转速计校正量测量方法及装置。本专利技术的一个方面提供一种转速计校正量测量方法，包括以下步骤:S1、在转速计连接频率测量器，转速计测量旋转体的转速，同时读取频率测量器和转速计的读数；S2、拟合频率测量器和转速计读数的关系；S3、在转速计连接信号发生器，信号发生器向转速计发送用于模拟转速的信号，并将模拟转速的信号按照频率测量器和转速计读数的关系转换成模拟转速；S4、比较模拟转速和转速计的测量转速，得到转速计校正量。本专利技术的转速计校正量测量方法，其中步骤S2中频率测量器和转速计读数的关系为:转速计读数(RPM) =60X频率测量器读数(Hz)。本专利技术的转速计校正量测量方法，其中步骤S4中转速计校正量为:转速计校正量=模拟转速-测量转速。本专利技术的转速计校正量测量方法，其中步骤SI包括:将频率测量器连接在转速计内部的信号处理器前端。本专利技术的转速计校正量测量方法，其中步骤S3包括:将信号发生器连接在转速计内部的信号处理器前端。本专利技术还提供一种转速计校正量测量装置，包括:与待校正的转速计连接的频率测量器，用于测量转速计测量旋转体转速时的频率读数；与频率测量器、转速计分别连接的拟合器，用于拟合频率测量器和转速计读数的关系;与待校正的转速计连接的信号发生器，用于向转速计发送用于模拟转速的信号，并将模拟转速的信号按照频率测量器和转速计读数的关系转换成模拟转速；所述转速计在模拟转速的信号下得到测量转速，比较模拟转速和测量转速，得到转速计校正量。本专利技术的转速计校正量测量装置，其中频率测量器和转速计读数的关系为:转速计读数(RPM) =60X频率测量器读数(Hz)。本专利技术的转速计校正量测量装置，其中转速偏差为:转速计校正量=模拟转速-测量转速。本专利技术的转速计校正量测量装置，转速计包括信号处理器，频率测量器连接在转速计内部的信号处理器前端。本专利技术的转速计校正量测量装置，转速计包括信号处理器，信号发生器连接在转速计内部的信号处理器前端。实施本专利技术的转速计校正量测量方法及装置，无需使用昂贵的设备进行转速计的校正，对于校正的环境需求低，适用于各种环境下对于转速计的校正。还能用在生产转速计的过程中，以便迅速发现出现问题的产品。【专利附图】【附图说明】以下结合附图对本专利技术进行说明，其中:图1为现有技术中对转速计进行校正的示意图；图2为本专利技术转速计校正量测量一则优选实施例的流程图；图3为实施图2方法中步骤SI的装置示意图；图4为实施图2方法中步骤S3的装置示意图；图5为示波器在第一转速时的显示示意图；图6为示波器在第二转速时的显示示意图；图7为示波器在第三转速时的显示示意图；图8为示波器在第四转速时的显示示意图。【具体实施方式】在现有的转速计校正技术中，校正时需要使用专门设计的转速校正仪器，这些专门的仪器会导致校正成本较高；此外这些专门的设备对于校正的环境通常要求比较严格，需要在特定的温度、电磁场等环境下进行。为了克服这些转速校正技术的缺陷，本专利技术采用向转速计输入模拟转速信号的方式来确定转速计的测量偏差，无需使用复杂昂贵的设备，能够在各种环境下进行准确的校正。如图2所示为本专利技术转速计校正量测量一则优选实施例的流程图，在本实施例中包括以下的步骤:首先在步骤Si中，先在转速计上连接一个频率测量器，例如示波器等，连接的时候需要将示波器连接到转速计内部的信号处理器的前端，然后用转速计对一个匀速转动的旋转体进行测量，测量的时候同时读取当前的示波器的频率读数以及转速计的转速读数。具体的，在本实施例中，转速计为红外式的转速计，示波器连接在红外接收器的后端；转速计通过红外接收器前端测量标准转速旋转体的转速，同时，示波器记录由红外接收器将标准转速信号转换的频率信号。在步骤S2中拟合频率测量器和转速计读数的关系。在该步骤中，通过调整旋转体的转速，获得在不同的转速下的示波器读数与转速计的读数，通过拟合的方式的到两者之间的关系，在本实施例中拟合的原始数据和拟合得到的结果如下:【权利要求】1.一种转速计校正量测量方法，包括以下步骤: 51、在转速计连接频率测量器，转速计测量旋转体的转速，同时读取频率测量器和转速计的读数； 52、拟合频率测量器和转速计读数的关系； 53、在转速计连接信号发生器，信号发生器向转速计发送用于模拟转速的信号，并将模拟转速的信号按照频率测量器和转速计读数的关系转换成模拟转速； 54、比较模拟转速和转速计的测量转速，得到转速计校正量。2.根据权利要求1所述的转速计校正量测量方法，其特征在于，所述步骤S2中频率测量器和转速计读数的关系为: 转速计读数=60X频率测量器读数。3.根据权利要求1所述的转速计校正量测量方法，其特征在于，所述步骤S4中转速计校正量为: 转速计校正量=模拟转速-测量转速。4.根据权利要求1所述的转速计校正量测量方法，其特征在于，所述步骤SI包括:将频率测量器连接在转速计内部的信号处理器前端。5.根据权利要求1所述的转速计校正量测量方法，其特征在于，所述步骤S3包括:将信号发生器连接在转速计内部的信号处理器前端。6.一种转速计校正量测量装置，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种转速计校正量测量方法，包括以下步骤：S1、在转速计连接频率测量器，转速计测量旋转体的转速，同时读取频率测量器和转速计的读数；S2、拟合频率测量器和转速计读数的关系；S3、在转速计连接信号发生器，信号发生器向转速计发送用于模拟转速的信号，并将模拟转速的信号按照频率测量器和转速计读数的关系转换成模拟转速；S4、比较模拟转速和转速计的测量转速，得到转速计校正量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈勇，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44