一种LED散热器热性能测试方法及测试装置，其特征是所述的方法是用纯铜材料的加热块端面作为加热面模拟LED芯片热源。加热块内嵌有电加热管，并在其周围裹有绝热材料，可使电加热管产生的热量几乎完全传递至铜块端面。将被测散热器放置在加热面与螺杆之间，散热器受热面对准铜块加热面，拧紧螺杆使散热器与加热面紧密接触。模拟热源和导杆均固定在一个可旋转的台架上，利用旋转架与支撑架上各自的定位孔，使两者以铰接孔为中心作相对旋转，以此可以测试散热器倾斜放置时的散热性能。本发明专利技术还提供了用于上述测试方法的测试装置。本发明专利技术应用范围广，结构简单，零件加工、组装方便。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种LED散热器热性能测试方法及测试装置，其特征是所述的方法是用纯铜材料的加热块端面作为加热面模拟LED芯片热源。加热块内嵌有电加热管，并在其周围裹有绝热材料，可使电加热管产生的热量几乎完全传递至铜块端面。将被测散热器放置在加热面与螺杆之间，散热器受热面对准铜块加热面，拧紧螺杆使散热器与加热面紧密接触。模拟热源和导杆均固定在一个可旋转的台架上，利用旋转架与支撑架上各自的定位孔，使两者以铰接孔为中心作相对旋转，以此可以测试散热器倾斜放置时的散热性能。本专利技术还提供了用于上述测试方法的测试装置。本专利技术应用范围广，结构简单，零件加工、组装方便。【专利说明】LED散热器热性能测试方法及测试装置
本专利技术涉及一种LED检测技术，尤其是一种LED散热器热性能测试方法及装置，具体地说是一种LED散热器热性能测试方法及测试装置，它能在LED散热器测试中模拟热源，并且可以对散热器倾斜放置时的散热性能进行测试。
技术介绍
LED芯片通常只有20%~30%的电能转换为光能，其余70%~80%主要以非辐射复合发生的点振动的形式转换为热能。如果热量不能及时散发出去，将会导致LED结面温度迅速升高，进而影响产品的生命周期、发光效率、稳定性。因此具有高效热性能的散热器对于LED器件尤为重要。判断散热器的热性能往往需要进行实验测试。目前常见的LED散热器热性能测试装置固定装置复杂，影响散热器周围自然对流，且不能实现散热器倾斜放置下的热性能测试。为解决以上问题，本专利技术提出一种LED散热器的热性能测试方法，将旋转装置、固定装置、模拟热源装置整合成一个测试装置，简化测试流程，结构简单，组装方便。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术的不足，提供一种简单有效的LED散热器热性能测试方法及测试装置。本专利技术的技术方案之一是: 一种LED散热器热性能测试方法，其特征是它包括以下步骤: 首先，制作一个纯铜材料的加热块，在加热块内嵌装电加热管，并以加热块的端面作为加热面模拟LED芯片热源；将加热块放置于容纳盒内，周围裹有绝热材料，以使电加热管产生的热量几乎完全传递至铜块端面，调节电加热管所接电源电流大小以改变到达加热面的热流密度大小，模拟不同功率的LED芯片； 其次，将被测散热器放置在加热面与螺杆之间，散热器受热面对准纯铜加热块的加热面，并使加热块中心轴线与螺杆轴线对齐，加热面与散热器底面均为抛光面，拧紧螺杆使散热器与加热面紧密接触，固定散热器同时也减少了加热面与散热器之间的接触热阻；螺杆安装在活动横梁上，活动横梁套入导杆； 所述容纳盒、导杆均固定在一个可旋转的台架上，旋转架与支撑架通过铰接孔铰接，支撑架固定在底座上；利用旋转架与支撑架上各自的定位孔，使两者以铰接孔为中心作相对旋转，此时散热器也会随之旋转至一定角度，利用螺杆夹紧力，能使其不易滑脱，以便测量散热器在倾斜放置时的散热性能。本专利技术的技术方案之二是: 一种用LED散热器热性能测试装置，其特征是它包括:一旋转装置；该旋转装 置包括底座1、支撑架2以及U形结构的旋转架3，两个支撑架2利用螺钉固定在底座I两端，每个支撑架2上对称设有第一铰接孔201，旋转架3的两侧相对位置处也有相配的第二铰接孔301，支撑架2和旋转架3通过螺栓、螺母实现铰接相连；在支撑架2上，以第一铰接孔201为中心，90°内均匀分布了多个第一定位孔202，旋转架3的两端也相应各有一个第二定位孔302，将第一与第二定位孔之一相对，插入止动销4，即可使旋转架3旋转并固定在所需的测试角度； 一固定装置；该固定装置包括导杆5、活动横梁6、螺杆7和压块8 ;两个导杆5的一端分别嵌入旋转架3两侧的插槽中并与旋转架底面303垂直，活动横梁两端的方孔601套装定位在导杆5的另一端上,螺杆7旋过横梁6中间的螺孔602与散热器13的一端相抵,在螺杆7顶端与散热器之间加装有隔热压块8 ； 一热源模拟装置；该热源模拟装置包括容纳盒9、加热块10、电加热管11和绝热材料12 ;加热块10放置在容纳盒9内，周围包裹有绝热材料12，加热块10中嵌入有电加热管11，容纳盒9放置在所述旋转架3上并能随旋转架等角度旋转，加热块10的上表面1001与散热器的另一端相接触。所述的第一定位孔202数目取决于所需的测试角度，且两侧支撑架2上的第一定位孔202位置是对称设置。所述的方孔601应比导杆5上端截面略大，以使活动横梁6能沿着导杆5自由滑动定位以适应不同高度的散热器检测要求。所述的导杆5两侧均加工有卡口 501，在螺杆7拧紧后，使活动横梁6不易滑脱。放置在螺杆7下端和被测散热器13之间的压块8采用低导热系数材料制作以防止热量通过螺杆传递，增大测试误差。所述的加热块10为凸形，材料为具有高导热系数的纯铜，其上端面与散热器相接触的加热面1001为抛光面，形状和尺寸按LED芯片实际形状和尺寸设计。所述的容纳盒9通过焊接或螺栓固定在旋转架3的底面303上，以防止倾斜时发生滑移，并且一侧开有方便电加热管插入到加热块中10的圆孔901。所述的绝热材料12为聚氨酯泡沫，将聚氨酯泡沫剂灌入容纳盒9内，一段时间风干后，即可形成固体状的聚氨酯泡沫，其导热系数〈0.035W/ (m*K)0本专利技术的有益效果: 1、固定装置简单，不影响散热器周围的自然对流散热，同时夹紧力大，能使加热面与散热器紧密接触。2、LED芯片模拟热源功率可调。3、可实现散热器在倾斜位置的热性能测试。4、结构简单，零件加工、组装方便。5、应用范围广，不受LED芯片形状、大小以及散热器体积的影响。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术LED散热器热性能测试装置立体图。图2为图1的爆炸图。图3为图1中的模拟热源装置剖视图。图4为图1中导杆5的结构示意图 图5为图1中旋转架旋转至与垂直方向成60°时的立体图。图中:1、底座；2、支撑架;201、第一铰接孔;202、第一定位孔;3、旋转架;301、第二铰接孔；302、第二定位孔；303、旋转架底面；4、止动销；5、导杆；501、卡口 ；6、活动横梁；601、方孔；602、螺孔；7、螺杆；8、压块；9、容纳盒；901、圆孔；10、加热块；1001、加热面；11、电加热管；12、绝热材料；13、被测散热器。【具体实施方式】下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的说明。实施例一。如图1、3所示。一种LED散热器热性能测试方法，纯铜材料的加热块10端面作为加热面1001模拟LED芯片热源。加热块10内嵌有电加热管11，放置于容纳盒9内，周围裹有绝热材料12，可使电加热管11产生的热量几乎完全传递至铜块端面，调节电加热管11所接电源电流大小可以改变到达加热面1001的热流密度大小，以此模拟不同功率的LED芯片。将被测散热器13放置在加及热面1001与螺杆7之间，散热器受热面对准铜块加热面1001，并使加热块10中心轴线与螺杆7轴线对齐，加热面与散热器底面均为抛光面，拧紧螺杆7即可使散热器13与加热面1001紧密接触，固定散热器同时也减少了加热面与散热器之间的接触热阻。螺杆7安装在活动横梁6上，活动横梁6套入导杆5上端中到位后即可固定，导杆5的下端插入旋转架3两侧对位的插槽中固定，这样，横梁6和两根导杆5形成一个固定散热器的龙门架，使螺杆7从本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种LED散热器热性能测试方法，其特征是它包括以下步骤：首先，制作一个纯铜材料的加热块，在加热块内嵌装电加热管，并以加热块的端面作为加热面模拟LED芯片热源；将加热块放置于容纳盒内，周围裹有绝热材料，以使电加热管产生的热量几乎完全传递至铜块端面，调节电加热管所接电源电流大小以改变到达加热面的热流密度大小，模拟不同功率的LED芯片；其次，将被测散热器放置在加热面与螺杆之间，散热器受热面对准纯铜加热块的加热面，并使加热块中心轴线与螺杆轴线对齐，加热面与散热器底面均为抛光面，拧紧螺杆使散热器与加热面紧密接触，固定散热器同时也减少了加热面与散热器之间的接触热阻；螺杆安装在活动横梁上，活动横梁套入导杆；所述容纳盒、导杆均固定在一个可旋转的台架上，旋转架与支撑架通过铰接孔铰接，支撑架固定在底座上；利用旋转架与支撑架上各自的定位孔，使两者以铰接孔为中心作相对旋转，此时散热器也会随之旋转至一定角度，利用螺杆夹紧力，能使其不易滑脱，以便测量散热器在倾斜放置时的散热性能。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：周驰，左敦稳，孙玉利，左宇杰，
申请(专利权)人：南京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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