大麦半矮杆基因sdw1/denso的基因标记及其应用制造技术

本发明专利技术涉及检测大麦半矮杆基因sdw1/denso的基因标记方法和相应的引物，所述方法利用自主克隆的大麦sdw1/denso半矮杆基因与正常基因相比，denso基因在第1外显子存在7个bp的缺失，sdw1基因是整个基因序列的缺失，设计合成了用于检测Indel标记Indel-denso的引物，利用所述引物进行PCR扩增能够检测和区分大麦品种中的是否含sdw1/denso基因以及所含基因的具体形式。本发明专利技术所述的方法可以用于含sdw1/denso突变基因的大麦半矮杆品种鉴定和选育，能够极其显著地提高sdw1/denso基因的选择效率和鉴定效率，加速大麦半矮杆的育种进程。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种鉴定大麦半矮杆基因sdw1/denso的基因标记引物对，其特征在于，所述引物序列如下：Indel?denso正向引物序列：AAGAACCATCCCTGACGCGCCIndel?denso反向引物序列：CGGCGGAGGGGTCAATGCTGG。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：贾巧君，杨建明，李承道，汪军妹，华为，朱靖环，尚毅，徐延浩，
申请(专利权)人：浙江省农业科学院，
类型：发明
国别省市：