待测信号查找系统及方法技术方案

一种待测信号查找系统及方法，该系统包括：第一加载模块，用于加载电路板的硬件设计电路图；查找模块，用于查找电路板的各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置，根据各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置从硬件设计电路图中获得各个待测信号的子电路图；存储模块，用于将各个待测信号及对应的子电路图存储至存储设备；第二加载模块，用于加载电路测试程序；确定模块，用于当选择电路测试程序中的测试指令时，确定该选择的测试指令对应的待测信号，并从存储设备中搜寻该确定的待测信号所对应的子电路图；及显示模块，用于将搜寻到的子电路图显示在显示设备上。本发明专利技术能够快速准确地得到待测信号在硬件电路设计图上的图面位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电路板测试系统及方法，特别是关于一种查找电路板的待测信号在硬件电路设计图上位置的待测信号查找系统及方法。
技术介绍
在电路板开发过程中，为了验证电路板是否工作正常，测试人员需要运行电路测试程序对各个待测信号进行测试。每个待测信号在硬件电路设计图上有对应的图面位置，为了从电路图上得到待测信号的图面位置，测试人员需要反复查找电路图，因而耗费了大量的精力和时间。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种待测信号查找系统，能够快速准确地得到电路板的待测信号在硬件电路设计图上的图面位置。此外，还有必要提供一种待测信号查找方法，能够快速准确地得到电路板的待测信号在硬件电路设计图上的图面位置。一种待测信号查找系统，运行于数据处理设备中，该系统包括：第一加载模块，用于加载电路板的硬件设计电路图；查找模块，用于查找电路板的各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置，根据各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置从硬件设计电路图中获得各个待测信号的子电路图；存储模块，用于将各个待测信号及对应的子电路图存储至存储设备；第二加载模块，用于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种待测信号查找系统，运行于数据处理设备中，其特征在于，该系统包括：第一加载模块，用于加载电路板的硬件设计电路图；查找模块，用于查找电路板的各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置，根据各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置从硬件设计电路图中获得各个待测信号的子电路图；存储模块，用于将各个待测信号及对应的子电路图存储至存储设备；第二加载模块，用于加载电路测试程序；确定模块，用于当选择电路测试程序中的测试指令时，确定该选择的测试指令对应的待测信号，并从存储设备中搜寻该确定的待测信号所对应的子电路图；及显示模块，用于将搜寻到的子电路图显示在显示设备上。

【技术特征摘要】
1.一种待测信号查找系统，运行于数据处理设备中，其特征在于，该系统包括：
第一加载模块，用于加载电路板的硬件设计电路图；
查找模块，用于查找电路板的各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置，根据各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置从硬件设计电路图中获得各个待测信号的子电路图；
存储模块，用于将各个待测信号及对应的子电路图存储至存储设备；
第二加载模块，用于加载电路测试程序；
确定模块，用于当选择电路测试程序中的测试指令时，确定该选择的测试指令对应的待测信号，并从存储设备中搜寻该确定的待测信号所对应的子电路图；及
显示模块，用于将搜寻到的子电路图显示在显示设备上。
2.如权利要求1所述的待测信号查找系统，其特征在于，所述硬件设计电路图包括原理图和布局布线图。
3.如权利要求1所述的待测信号查找系统，其特征在于，所述硬件设计电路图被预先分割为多个子电路图，若一个子电路图包含指定待测信号，则该子电路图是该指定待测信号的子电路图。
4.如权利要求3所述的待测信号查找系统，其特征在于，所述硬件设计电路图以电子元件为单位进行分...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏圣伟，王柏崴，林伯鸿，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44