一种多孔介质内流体速度与温度同步测量的磁共振成像方法技术

技术编号:10018428 阅读:218 留言:0更新日期:2014-05-08 17:01
一种多孔介质内流体速度与温度同步测量的磁共振成像方法,属于磁共振成像测量领域。本方法采用核磁共振翻转恢复标签方法,首先用自旋回波序列两点法测某一温度下被测流体纵向弛豫时间T1;在不同温度下重复步骤一得到多个温度下的T1值,拟合得到T1与温度T的关系;用翻转恢复标签序列对静态时该流体进行测量,再对任意温度流速下该流体进行测量;用matlab读入图像,得到图像信号强度SI分布,根据SI与T的关系计算温度T;通过比较该流速下标签坐标和静态时标签的坐标求出翻转恢复时间ti内的标签位移,进而求流体流速。本发明专利技术具有测量速度快,能有效补偿传统翻转恢复方法测量流场温度时由于流动导致的信号降低。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】,属于磁共振成像测量领域。本方法采用核磁共振翻转恢复标签方法,首先用自旋回波序列两点法测某一温度下被测流体纵向弛豫时间T1;在不同温度下重复步骤一得到多个温度下的T1值,拟合得到T1与温度T的关系;用翻转恢复标签序列对静态时该流体进行测量,再对任意温度流速下该流体进行测量;用matlab读入图像,得到图像信号强度SI分布,根据SI与T的关系计算温度T;通过比较该流速下标签坐标和静态时标签的坐标求出翻转恢复时间ti内的标签位移,进而求流体流速。本专利技术具有测量速度快,能有效补偿传统翻转恢复方法测量流场温度时由于流动导致的信号降低。【专利说明】
本专利技术涉及一种应用磁共振成像对多孔介质内流体的速度和温度进行同时测量的方法。
技术介绍
目前测量流体速度和温度的方法包括接触法和非接触法两大类。接触法测量通常会干扰流场和温度场,带来测量误差。非接触法虽然可以避免干扰,但是大多数测量方法需要被测体透光,如红外线测温等。此外,传统测量方法最大的问题是无法实现多孔介质中流体速度、温度的测量,同时测量含氢质子流体速度、温度对于提高原油采收率(EOR)、化学工程控制、多相组分研究等领域具有重要工程意义。磁共振成像技术(MRI)是利用含氢质子流体的磁共振现象,对流体的温度、速度进行可视化观测的技术。在高强度磁场作用下,具有磁矩的氢原子核可吸收满足拉莫尔频率的电磁波发生进动。核磁共振成像技术可以得到静态流体的自扩散系数D、纵向弛豫时间T1、横向弛豫时间T2以及核磁成像k空间的相位0。研究发现在一定温度范围,以上四个核磁共振参数与温度存在一定的变化关系,因而可以通过事先标定这四个参量与温度关系进行温度测量。然而传统测量以上四个参数方法并不适用于流动流体温度测量,同时由于多孔介质背景磁化率与流体磁化率不同,在测量多孔介质中液体温度时存在一定误差。目前核磁共振测速多采用相位法测速,采用两个不同速度编码的序列对同一流场分别拍摄,其相位差与流体速度成正比。该方法具有不能测量大速度的缺点,否则将产生伪影,并且在测量多孔介质时依然具有一定局限性:只能测量大孔隙度多孔介质中的小流动速度。另外由于相位和速度与温度都有关,相位法只能对均匀温度下的流场进行速度测量以排除温度引起的相位变化对速度相位的干扰。为了克服现有核磁共振测量流场速度温度方法的不足,本专利技术提出一种核磁共振同时测量流体流速和温度的方法,该方法可方便利用核磁共振成像技术对流体进行三维可视化成像,得到的核磁图像用图像后处理工具进行定量分析,得到流体的流速、温度。
技术实现思路
本专利技术克服核磁共振成像技术已有传统翻转恢复测温技术的不足,针对大体积和多孔介质中含氢质子流体的速度和温度难以非干扰同时测量的情形,首先使用自旋回波序列两点法测量试样在不同温度下的T1值,拟合得到T1与温度T的指数关系,其次使用翻转恢复标签方法进行流体速度温度的同时测量。,包括以下步骤:(I)自旋回波两点法测量某一温度下流体T1值。使用两个多层自旋回波序列SEMS(spin echo mult1-slice pulse sequence)测量某一温度下流体的信号强度值,两个自旋回波序列重复时间TR分别为TR1和TR2,其他参数设置完全相同,对应的视野区域内平均信号强度分别为SIuSI2t5多层自旋回波序列信号强度SI为:【权利要求】1.一种多孔介质和大体积内流体速度与温度同步测量的磁共振成像方法,其特征在于: (1)自旋回波序列两点法测量某一温度下流体T1值 使用两个多层自旋回波序列SEMS测量某一温度下流体的信号强度值,两个自旋回波序列的重复时间TR分别为TR1和TR2,其他参数设置完全相同,对应视野区域内平均信号强度分别为SI1, SI2; 自旋回波序列信号强度SI为: 【文档编号】G01D21/02GK103776490SQ201410014755【公开日】2014年5月7日 申请日期:2014年1月13日 优先权日:2014年1月13日 【专利技术者】刘瑜, 周欣欢, 宋永臣, 蒋兰兰, 赵越超, 杨明军, 赵佳飞, 张毅, 王大勇 申请人:大连理工大学本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种多孔介质和大体积内流体速度与温度同步测量的磁共振成像方法,其特征在于:(1)自旋回波序列两点法测量某一温度下流体T1值使用两个多层自旋回波序列SEMS测量某一温度下流体的信号强度值,两个自旋回波序列的重复时间TR分别为TR1和TR2,其他参数设置完全相同,对应视野区域内平均信号强度分别为SI1,SI2;自旋回波序列信号强度SI为:SI=M0e-TE/T2*(1-2e-(TR-TE/2)/T1+e-TR/T1)---(1)]]>其中M0为纵向平衡磁化强度,TE为回波时间,T2为横向弛豫时间;由于TE<<TR及TE<<T2,上式化简为对两个不同TR值下的自旋回波信号强度做商:SI1SI2=1-e-TR1/T11-e-TR2/T1---(2)]]>已知该温度下的两个信号强度SI1,SI2和两个序列的重复时间TR1,TR2,求解(2)式得到该温度下的T1值;(2)获得T1和温度T关系在不同温度下,重复步骤(1)测量计算多个温度点下的T1值;然后用不同温度下的T1值与温度T利用公式(3)进行数据拟合,从而得到常数A,B,C的值:T1=Ae‑B/T+C    (3)(3)使用翻转恢复标签序列测量流体速度和温度用翻转恢复标签序列对感兴趣流动区域内静态待测流体进行测量,再进行某一温度和流速下该流体的测量,得到两幅图的信号强度即灰度级分布图;翻转恢复标签序列得到的灰度图上标签处温度与信号强度关系为:T=Bln[-Alnα/(ti+Clnα)]---(4)]]>α=12-12|SIZSI0|]]>上式中SIZ为标签上的信号强度,SI0为平衡信号强度,ti为翻转恢复标签序列中的参数恢复时间;使用图像处理工具得到步骤(3)中静态和某一流速下的两幅图的信号强度分布,得到某一流速下翻转恢复标签序列方法中的标签位置坐标,与静态得到的翻转恢复标签序列中标签位置坐标进行对比,根据ti内的标签变形,计算出流体流速。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘瑜周欣欢宋永臣蒋兰兰赵越超杨明军赵佳飞张毅王大勇
申请(专利权)人:大连理工大学
类型:发明
国别省市:辽宁;21

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