本技术涉及一种半导体框架数量测量治具；该半导体框架数量测量治具包括若干齿牙、相接的弧线边沿和手持端；齿牙设置在弧线边沿端面，向外延伸；若干齿牙沿弧线边沿均布；相邻齿牙之间为计数缝隙；计数缝隙的尺寸与相邻引线框架的间距相当；弧线边沿侧面设...