本技术涉及半导体测试技术领域，提出了一种半导体分立器件测试装置，包括工作台，所述工作台顶面中部固定有第二固定柱，所述工作台上方设有承托盘，所述承托盘中部设有转动孔，所述第二固定柱贯穿转动孔，所述承托盘顶面设有第一插孔，所述第一插孔设有多...