本发明提供一种玻璃上芯片接合检验设备，包括：底座；相对底座水平设置的检验物体；安装在底座上并设置在检验物体下方的第一成像装置，其在相对检验物体沿一个方向(扫描方向)移动的同时将可见光照射在检验物体上，以按照行扫描方法利用反射光捕获检验物...