一种用于确定集成电路（ＩＣ）内部操作的新颖方法，包括测量来自集成电路芯片的电磁（ＥＭ）发射以及分析ＥＭ发射。在特定的方法中，利用封闭式ＲＦ探针测量来自ＩＣ的ＥＭ发射。在特定的方法中，测量以各种方式配置的ＩＣ的电磁发射。在正常操作模式下，...