本公开提供了一种芯片结温测试方法及装置，通过在被测芯片处于未上电状态，预先获取所述被测芯片所处的环境温度与ESD保护电路中保护元件的电学参数的关系曲线，再在所述被测芯片上电工作状态，检测所述ESD保护电路中保护元件的电学参数，而后依据所...