本发明公开了一种电路板的异常检测方法、装置和设备，涉及人工智能技术领域，包括：获取待检测电路板对应的待检测电路板图像，并根据待检测电路板图像的当前标识信息，从候选标准电路板图像特征中确定目标标准电路板图像特征；其中，当前标识信息包括电路...

本申请公开了一种基于高斯辐射的位姿标定方法、装置、设备及存储介质，该基于高斯辐射的位姿标定方法包括：基于目标标定设备，对目标标定模体进行图像采集，生成目标模体图像序列；基于预先训练完成的高斯辐射模型，对所述目标模体图像序列中的模体图像进...

本申请公开了一种缺陷样本的生成方法、装置、设备及存储介质，该缺陷样本的生成方法包括：收集目标型号电池的真实缺陷图像，并对所述真实缺陷图像进行仿射变换和弹性变换，生成缺陷样本图像库；根据所述目标型号电池的空间结构特征，对所述目标型号电池进...